Устройство для поверки штриховых мер

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик („)968600 (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 2901ЯО (21) 2876266/25-28

И11 М. Кл. с присоединением заявки МВЯ 01 В 9/04

Государственный комитет

СССР ио аелам изобретений и открытий (23) Приоритет (33) УДК531.715.2 (088. 8) Опубликовано 231082,. Бюллетень Йо 39

Дата опубликования описания 23. 10.82 (72) Авторы изобретения

A Ñ.AíèñoHÿí и А.Д.Федоров ИСЮЮ3М,", Ф

i НЛтЕНтНОТЕХНИЧЕСвЛй

КраИМФР) ТЕКА

Московское ордена Ленина и Ордена Трудовог

Знамени высшее техническое училище им. Н.Э (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОВЕРКИ ШТРИХОВЫХ МЕР

Изобретение относится к измерительной техцике и может быть использовано для поверки и аттестации штри ховых мер.

Известно. устройство для поверки штриховых мер длины. содержащее предметный стол для размещения поверяемой и образцовой штриховых мер, виэирный и отсчетный микроскопы с ос- 10 ветителями (1).

Недостатком известного устройства является низкая точность поверки вследствие периодического переключения.осветителей.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является уст ройство для поверки штриховых мер, содержащее оптически связанные осветительный блок, плоское зеркало, образцовую меру н микроскоп, образующие эталонную ветвь, оптически связанные осветительный блок, плоское зеркало, поверяемую меру и микроскоп, образующие рабочую ветвь, предметный столик с приводом, предназначенный для установки образцовой и рабочей мер и установленный с воэможностью пере" мещения в плоскости, перпендикулярной к оптическим осям обеих ветвей, и электрически соединенные схему обработки, входы которой связаны с выходами обоих микроскопов регистратор и блок управления, выходы которого связаны соответственно с входами схемы обработки и регистратора (2).

Однако известное устройство отли" чается ведостаточной точностью поверки из-эа того, что меняется спектральный состав светового излучения лампочек .осветителей из-за непостоянства теплового состояния нитей накала, а также из-за погрешности от теплового воздействия осветителей фотоэлектрических.микроскопов на тепловое сос-. тояние штриховых мер.

Целью изобретения является повышение точности поверки.

Указанная цель достигается тем, что устройство снабжено двумя узлами из обтюратора и заслонки с приводом, последовательно установленными соответстВЕнно в рабочей и эталонной ветвях между осветительным блоком и плоским зеркалом, а приводы заслонок : электрически связаны с приводом предметного столика и блоком управления. На чертеже представлена оптическая схема устройства.

Устройство для поверки штриховых мер содержит оптически связанные ос968600 и 16 открывают доступ светового потока, а регистратор 12 готовится к регистрации очередной разности длин между соответствующими штрихами мер

3 и 7. В такой последовательности

5 происходит поверка каждого подразделения (штриха) поверяемой штриховой меры длины.

Таким образом, дополнение осветительных блоков обтюратором и заслон10 кой повышает точность поверки штриховых мер длины путем сокращения времени .теплового воздействия осветителей на тепловое состояние штриховых мер.

Формула изобретейия ветительный блок 1, плоское зеркало . 2, образцовую меру 3, микроскоп 4, осветительный блок 5, плоское зеркало 6, рабочую меру 7, микроскоп 8, предметный столик 9 с приводом 10 электрически соединенные схему 11 обработки, входы которой связаны с выходами микроскопов 4 и 8, регистратор 12 и блок 13 управления, выходы которого связаны соответственно. с входами схемы 11 обработки и ре- гистратора 12, два обтюратора 14 и

15, две заслонки 16 и 17 с приводами

18 и 19, электрически. связанными с приводом 10 и блоком 13 управления.

Устройство работает следующим 15 образом.

Поверка штриховых мер длины осуществляется методом продольного компарирования. При этом поверяемая 7. и образцовая 3 меры размещаются на

-предметном столике 9 rio одной оси . вдоль линии измерения. Положение .предметного столика 9 с размещенными на нем мерами 3 и 7 при открытых заслонках 16 и 17 юстируется с положением оптических осей микроскопов 4 и 8, затем заслонки 16 и

17 закрывают. Привод 10 предметного столика работает по программе,согласно которой при остановках столика 9 заслонки 16 и 17 открываются, а при 30 его движении — закрываются. Во время остановок столика 9, когда заслонки

16 и 17 открыты, световой поток от осветителей 1 и 2 через непрерывно вращающиеся .обтюраторы 14 и 15 падают, 35 на зеркала 2 и б каждого микроскопа

4 и 8, отражается от них и освещает штрихи поверяемой и образцовой мер 7 и 3. Сигналы с выходов микроскопов

4 и 8 поступают в схему 11 обработ- 40 ки. После завершения измерения раз- . ности длин с выхода схемы 11 обработки подается сигнал в блок 13 уп-. равления. С выхода блока 13 управления подается команда к приводам 10, 45

18 и 19. С перемещением предметного столика 9 заслонки 16 и 18 закрывают доступ прерывистого светового потока к мерам 3 и 7 ° После перемещения столика 9 на шаг меры от выходов блока

13 управления одновременно подаются команды на приводы 10, 18 и 19, а также к регистратору 12. При этом,столик 9 останавливается, заслонки 17

Устройство для поверки штриховых мер, содержащее оптически связанные осветительный блок, плоское зеркало, образцовую меру и микроскоп, образующие эталонную ветвь, оптически связанные осветительный блок, плоское зеркало, поверяемую меру и микроскоп, образующие рабочую ветвь, предметный столик с приводом, предназначенный для установки образцовой и рабочей мер и установленный с возможностью перемещения в плоскости, перпендикулярной к оптическим осям обеих ветвей, и,электрически соединенную схему обработки, входы которой связаны с выходами обоих микроскопов, регистратор и блок управления, выходы которого связаны соответственно с входами схемы обработки и регистратора, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, c целью повышения точности поверки,оно снабжено двумя узлами из обтюратора и заслонки с приводом,последовательно установленными соответственно в рабочей и эталонной ветвях между осветитедьным блоком и плоским зеркалом,а приводы заслонок электрически связаны с приводом предметного столика и бло-. ком управления.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Беридзе Г. Основы и приборы технических линейных измерений. М.-Л., "Машиностроение", 1935, с. 92-95.

2. Федотов A.H. Автоматизация делительных работ. Л., "Машиностроение", 1969, с. 233-238 (прототип ).

Составитель Н.Захаренко редактор Н.дазаренко Техред Л.Пекарь

Заказ 8141/66 Тираж 614 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб;, д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Устройство для поверки штриховых мер Устройство для поверки штриховых мер Устройство для поверки штриховых мер 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано при сравнительном анализе объектов, в частности для идентификационных исследований в области криминалистики

Изобретение относится к бесконтактным способам измерения линейных размеров, износа, а также к устройствам для их осуществления
Наверх