Контактное устройство для подключения микросхем

 

ОП ИСАНИЕ

И ЗОВРЕТЕ Н ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик пц982118 (Sl ) Дополннтельное к аит. санд-ву (51)М. Кд. (22) Заявлено30.03.81 (21)3270271/18-21 с присоединением заявки М (23 ) Приоритет

Н 01 4 21/66

Воудеротоапвб квинтет

CCCP ао лелом нэобретеннй н открьпнй (53) Ю,1(621,315. .684 (088.8) Опубликовано 15.12.82- Бюллетень N 46

Дата опубликовании описания 15,12,82 (сеевеее»

А, H. Федосеев, А. В. Адексеевскее, В. М. дод врс,,"::..

Р. P. Пурэ и В. Н. Степанов к

Всесоюзный научно-исследовательский инсгитут „ электромеханики (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) KOHTAKTHOE УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОДКЛЮЧЕНИЯ

МИКРОСХЕМ

Изобретение относится к многоконтактным электрическим разьемам, используемым в области электронного ма- шиностроения, систем автоматики и вычислительной техники и, в частности, к области установки интегральных схем

5 на печатные платы посредством разъемов.

Известен соединитель с минимизированным габаритом по высоте для интегральных схем, содержащий корпус, донную крышку, боковые крышки и контактные штырьки. Пружинящие концы выполнены в виде разрезанных колец, ножка штырька снабжена V -образным изгибом, которым надевается на донную крышку и закрывается боковой крьппкой 1)

Такое выполнение соединителя пред» полагает наличие сложной оснастки для изготовления контактных штырьков и кор- 20 пусных элементов и необходимость зашеюк для сборки в одно целое. На нем исключена возможность раздельной распайки штырьков (соединитель мажет сйть

2 удален только при отпайке всех контакт ных штырьков, что, например, при 40 штырьках будет приводить к повышенному нагреву места спая и опасности расспаивания печатных плат). Кроме того, изготовление контактных штырьков (при вертикальном габарите до 4 мм) является сложным процессом, а также трудно обеспечить вертикальность штырьков.

Наиболее близким по технической сущности является контактное устройство, содержащее корпус со сквозными паза ми, в которых установлены контактные элементы, и фиксатор 2 .Однако изготовление контактного устройства требует сложной технологической оснастки, поскольку основание. в целом имеет сложную форму, еше более сложным является контактный лепесток.

Целью изобретения является повышение технологичности, конструкции.

Поставленная цель достигается тем, чго в контактном устройстве для подклю982118 пения микросхем, содержащем корпус со сквозными пазами, в которых установлены контактные элементы, и фиксатор, фиксатор выполнен ввидедиэлектрической планки с пружинящими элементами и раз5 мешен между рядами контактных элементов, установленных с возможностью взаимодействия с пружинящими элементами фиксатора.

На фиг. 1 представлено контактное устройство, аксонометрическая проекция (пунктиром обозначена интегральная схема}; на фиг. 2 — фиксатор в аксонометрии; на фиг. 3- контактное устройство со вставленным корпусом интегральной схемы; на фиг. 4 — то же, вид сверху.

Контактное устройство для интеграль ных схем содержит диэлектрический корпус 1, контактные элементы 2, фигурный фиксатор 3 и пружинящие элементы 4.

Корпус имеет коробчатую форму, в корпусе боковыми стенками 5, внутренними перегородками 6, пазами 7 в фиксаторе

3 и выступами 8 образованы сквозные гнезда 9, имеющие расширение 10 в верхней части выполненноепо боковой стенке. Каж) дая внутренняя перегородка 6 имеег по центру проем 11, а соместно проемы перего родок образуют продольный паз, в который введен фигурный фиксатор 3.

Контактные элементы 2 выполнены плоскими прямыми с возможностью жесткой фиксации. Они снабжены верхними заплечиками 12, которые фиксируют. стер35 жень в продольном направлении, и нижними заплечиками 13 для образования вывода 14, запаицаемого в отверстии 15 печатной платы 16.

Пружинящие элементы выполнены из . изогнутой упругой полоски, при этом их материал может обладать максимальной упругостью и не оказывать никакого влияния на проводимость штырька, поскольку они выполнены раздельно от контактных

45 элементов и оказываются вне электрической цепи. Пружинящие элементы имеют деформируемый участок 1 7 скругленной формы, который выполняет функцию направляющей для вывода 18 интегральной схемы 19 при ее установке на соединитель, и недеформируемый участок 20, которым они установлены в лазе 7 фиксатора 3.

B собранном состоянии введенный через верхний проем паза 9 контактный элемент с одной стороны упирается заплечиками 12 в расширение 10 паза, расширенной верхней частью в сужение гнезда 9, а к боковой стенке 5 изнутри он оказывается поджат усилием пружинящих элементов, которые установлены в два ряда и с одной стороны упираются в контактный элемент 2 своим деформируемым участком 17, а с дру1 ой стороны — в казы 7введенногомежду ними фигурного фиксатора 3. Таким образом, расположение пружинящих элементов 4 обеспечивает фиксацию в устойчивом положении как контактных элементов 2, благодаря чему предотвращается их перекос, так и собственно фигурного фиксато ра, оказывающегося зажатым между двумя рядами пружинящих элементов.

Полезность этого свойства возрастает в виду .миниатюрного размера по высоте (г 4мм)

При установке на контактном устройстве корпуса интегральной схемы 19 его выводы 18, скользнув по деформируемым участкам 17, как по направляющим, отгибают зти деформируемые участки и входят между пружинящими элементами 4 и контактами 2. При этом усилие пружинящих элементов возрастает, чем обеспечивается надежный электрический контакт между выводами 18 интегральной схемы и контактными элементами 2, и кроме того, предотвращается. самопроизвольное разъединение выводов интегральной схемы и контактных элементов, например, в случае вибрационных или ударных нагрузок.

При демонтаже предложенного контактного устройства с него снимается интегральная схема„после чего контактные элементы отпаиваются по одному и беспрепятственно удаляются из гнезда.

Использование предложенного контактного устройства обеспечивает снижение интенсивности нагрева мест спая контактных элементов с печатной платой при демонтаже, что уменьшает опасность рас слаивания печатных плат и повышает ремонтоспособность устройства. Кроме того, упрощается раздельная отпайка контактных элементов, так как она может быть выполнена без каких-либо дополнительных операций простым паяльником; повышается технологичнос rb конструкции; достигается максимум плотности контактов на единицу площади печатной платы.

Формул а изобретения

Контактное устройство для подключения микросхем, содержащее корпус со сквозными пазами, в которых установлены контактные элементы, и фиксатор.

5 о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения технологичности конструкции, фиксатор выполнен в виде диэлектрической планки с пружинящими элементами и размещен между рядами контактных элементов, установленных с возможностью взаимодействия с пружинящими мементами фикс атора.

13 6

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Патент США % 4033656, кл. 339-17, 1979.

2. Авторское свидетельство СССР

¹ 545026, кл. Н 01М 13/42, 1971 (прототип) .,1

Ц(и!,(lD ч (!

1 г

1 1 у

>r4 )i

l I в

У л Я

982118

Составитель Е. Гаврилова

Редактор Л. Веселовская Техред,Т,.Фанта Корректор М. Демчик

У

Заказ 9725/74 Тираж 761 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР но делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., а. 4/5

Филиал ППП "Патент" r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Контактное устройство для подключения микросхем Контактное устройство для подключения микросхем Контактное устройство для подключения микросхем Контактное устройство для подключения микросхем Контактное устройство для подключения микросхем 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения геометрических размеров плоских изделий, и может быть использовано при измерении толщины плоских изделий из диэлектриков, полупроводников и металлов, в том числе полупроводниковых пластин, пластических пленок, листов и пластин

Изобретение относится к полупроводниковой технике и направлено на повышение точности измерения параметров эпитаксиальных слоев на изотипных проводящих подложках и применение стандартных образцов, изготовленных по технологии, обеспечивающей существенно более высокий процент выхода годных и более высокую механическую прочность

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для выявления и анализа структурных дефектов (ростовых и технологических микродефектов, частиц второй фазы, дислокаций, дефектов упаковки и др.) в кристаллах кремния на различных этапах изготовления дискретных приборов и интегральных схем

Изобретение относится к области силовой полупроводниковой техники и может быть использовано при изготовлении тиристоров и диодов
Изобретение относится к неразрушающим способам контроля степени однородности строения слоев пористого кремния

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения электрофизических параметров материалов, и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых материалов, в частности полупроводниковых пластин
Наверх