Способ выявления структуры материала

 

Пермский политехнический институт (7! ) Заявитель (54) СПОСОБ ВЫЯВЛЕНИЯ СТРУКТУРЫ МАТЕРИАЛА

Изобретение относится к исследованию структуры и фаэного состава эмале, вых покрытий на металле.

Для выявления структуры стекла применяют травление химически агрессивными средами, где в качестве реагента травления иснользуют плавиковую кислоту различных концентраций 1 .

Для исследования структуры эмалей ,плавнковая кислота не применяется, так как она не выявляет гранины зерен.

Бель изобретения — обеспечение sow можности выявления структуры эмали.

Бель достигается тем, что согласно способу выявления структуры материала путем травления, травление проводят при

250-300 С в закрытой емкостн.в течение 1-2 ч водно-глицериновым студнем желатина, содержашем компоненты в следукеяем соотношении, вес%:

Желатин 20-33

Глнцернн, 30-33

Воде 34-50

Пример 1. Способ выявления границ зерен поверхносгн эмалевык покрытий после закалки изделий.

Готовят состав травителя: 20 вес.% желатина растворяют прн 80-90 С в

50% воды н 30% глицерина в течение

2-3 ч в сушильном шкафу при периодическом помешивании раствора. После получения однородной смеси водно-глицеринового раствора желатина исследуемую поверхность эмали заливают толщиной слоя 20-30 мм н закрывают емкость, в которой травится образец, на. 1,5 чпрй

250©С. Затем поверхность образца аклаждают, отмывают от продуктов травления и исследуют выявленную картину.

Исследование ведут визуально, в биоло-. гический микроскоп нлн металлографическнй типа МКМ-7 в отраженном csee, s светлом поле.

П р н м е р 2. Готовится состав водно-глицеринового студня по примеру 1 при 70-80 С, в течение 4-5 ч в.суппцп ном шкафу или as водяной бане.. После

990707 б щади, замеряют твердость в локальных я областях, по виду зерен дают оценку Q равномерном распределении напряжений в объеме образца,, о анизотропии свой3 ств эмали после соответствук1цего режим ма обработки.

Составитель О. Самохина

Редактор Г. Еезвершенко ТехредЖ.Кастелевич Корректор E.Pîøêî

Заказ 1:1. /31

Тираж 484 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская няб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 1

3 приготовления студня образец заливакгг горячим раствором студня толщиной сло в 20 мм. Затем емкость, в которой тра вится образец, закрывают и при 300 С доводят студень до обугливания. Выявляется структура зерна. Охлаждакп образец, отмывают от продуктов травления и исследукл структурное состояние эмали в оптический микроскоп в отраженном свете. !О

Пример 3. Выявление границ зерна в образцах после отпуска и в исход

Г ном состоянии.

Готовится состав водно-глицеринового студня желатина цри следующих соотно 11 шениях компонентов: вес, % желатин 33, вода 34 и глицерин 33.

Желатину дают набухнуть в воде в течение 2-3 ч, затем добавляют глицерин при 80-90 С, перемешивая, получают в течение 3 ч однородный раствор водйо-глицеринового студня желатина. Образец погружают в раствор, закрывают, емкость и при 300 С в течение 1-2 ч травят поверхность эмали. Охлаждают, отмывают от продуктов травления. Исследуют поверхность, замеряя размер зерен, учитывая их количество на единице плоФормула изобретения

Способ выявления структуры материа ла путем травления, о т л и ч а юшийся тем, чгос целью обеспечения возможности выявления структуры эмали, травление проводят при 250-300 С в закрытой емкости s течение 1-2 час

Водно-глицериновым студнем желатина, содержащем компоненты в следующем соотношении вес. %:

Желатин 20-33

Глицерин 30-33

Вода 34-50

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Павлушкин Н. М. н др, Практикум о технологии стекла и ситаллов.

М., Стройиздат, 1970, с. 431.

Способ выявления структуры материала Способ выявления структуры материала 

 

Похожие патенты:
Изобретение относится к химическому удалению тонкослойных покрытий германий-моноокись кремния с поверхности арсенидов индия и галлия и может быть использовано в оптико-механической и радиоэлектронной промышленности в технологии изготовления оптических деталей, в частности интерференционных фильтров и полупроводниковых изделий интегральных микросхем, для замены механического способа удаления отбракованных покрытий химическим травлением

Изобретение относится к областям регистрации информации путем литографического формирования рельефных микроструктур и может быть использовано в оптотехнике, голографии, электронной технике, полиграфии и прочее
Изобретение относится к обработке стекловолокнистых нитей, в частности к изготовлению микроканальных пластин МКП, и может быть использовано в электронно-оптических преобразователях
Изобретение относится к технологии обработки стекла и изделий из него для получения декоративного эффекта в виде матового рисунка

Изобретение относится к технологии изготовления макропористых стекол оптического качества из натриевоборосиликатного стекла типа ДВ-1 и может быть использовано для создания объемных микрогетерогенных сред как элементной базы в системах записи, хранения и обработки информации, в волоконно-оптических системах передачи информации, в голографии и лазерной технике
Изобретение относится к составам растворов, применяемых для полировки изделий из стекла
Изобретение относится к составам травильных растворов для обработки поверхности стекла, нанесения на нее маркировочных обозначений, рисунков и другого
Изобретение относится к составам травильных растворов, используемых в стекольной промышленности
Изобретение относится к составам растворов для травления стекла
Наверх