Устройство для измерения шероховатости металлических поверхностей

 

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ МЕТАЛПИЧЕСК11Х ПОВЕРХНОСТЕЙ; содержащее корпус, датчик шероховатости, вьгполненный в виде укрепленного на эластичном элементе плоского металлического электрода с нанесенным на его рабочую поверхность слоем диэлектрика, измеритель диаметра с элементом базирования и измерительный блок, отличающеес я тем, что, с целью упрощения конструкции и повышения точности измерений , измеритель диаметров вьшолнен в виде закрепленного на корпусе и снабженного кромками базирования диэлектрического кольца, на торце которого размещены покрытые слоем диэлек (Л трика два плоских электрода. о ю ко Фиё.

ИХОЭ СОВЕТСКИХ

РЕСПУБЛИН

„„Я0„„1О99О96 11 G 01 В ?/34

ОПИОАЙИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Я

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ CCCP

ПО ДКЛАМ ИЗОБИ=ТКНИЙ И ОТКРЬПМЙ (21) 3539994/25-28 ,(22) 18.01.83 (46) 23.06.84. Бюл. 11 23 (72) С.В.Сейнов, Б.П.Железнов, В.К.Семенов и А.П.Завалин (71) Пензенский завод-ВТУЗ при заводе

ВЭМ (53) 621. 317. 39: 531. 71(088.8) (56} 1. Авторское свидетельство СССР

9 389396, кл. G 01 В 7/34, 1971.

2. Авторское свидетельство СССР

Ф 916973, кл. G 01 В 7/34, 1980 (прототип). (54} (57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ

ШЕРОХОВАТОСТИ МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ, содержащее корпус, датчик шероховатости, выполненный в виде укрепленного на эластичном элементе плоского металлического электрода с нанесенным на его рабочую поверхность слоем диэлектрика, измеритель диаметра с элементом базирования и измерительный блок, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью упрощения конструкции и повышения точности измерений, измеритель диаметров выполнен в виде закрепленного на корпусе и снабженного кромками базирования диэлектрического кольца, на торце которого размещены покрытые слоем диэлектрика два плоских электрода.

1 I !)() I) (!.- !!) ; (.! .

Г (. J Ii I! (. . Е ;(l! I. *: : . C (! (!(: I l iI!, Il:"". (;.!I((l,I, ПГ)1!(!)XI(;)(I (- f - г !. !!)(),)(i .:!),. (((1:

H(1! (:!. (;,,I(;) () f. ,r

МСТ IJ .I(: .(( ;(1,(-: ((:1,) ) (! .! ;", ),, К. . К

l1(С Р () > J: ! . !(!!(Г ! I : — ; (1 Е 3 i<,;! Г ) () " Г I " 1! - "

1 (!((-, 1, f — /, !

3 (, г )-

I If

i

- I ) l! ) ,;i 1 );

-(° - °

r ) (Г1!,К К;

РЕ((С Г!);; 1

1(1.1 :-. (! )

:! f К;! 1;-) (1(1;, <, )ле !):.:,я(((,е:.;)

Т 1!.!!!.

l (3 Я К () l": !.

; ((. . 11 Г () ()J(С)Х .: )" 1 ! (L 1!(,:, Г

f \

) 1! к

У (, !

1099096 путем их предварительной градуировки но эталонным образдам.

Эти показания вычитаются из показаний датчика шероховатости, сигнал которого зависит от емкости между электродом 9 и поверхностью контролируемой детали. Величина этой емкости уменьшается при увеличении шероховатости за счет увеличения зазора между этими поверхностями.

Таким образом, за счет размещения измерителя диаметров непосредственно у контролируемой поверхности и устранения промежуточных передающих деталей, обеспечивается упрощение конструкции устройства и повышение точности измерений. о!о а)3

Редактор С, Патруи)е не I:.хр е:) 3B.êÿ а ) ) ъА0/, 9! Т).)р, ь;<

ВНИИ))И Гo) у.з "pст —:-.:е--):)!; !

*о;) е да! j. О!))! - . !)-!

1 1303, i)acква., Ж--З g

Ъ))..)иал,lI:)1 ".1а те нт

Устройство для измерения шероховатости металлических поверхностей Устройство для измерения шероховатости металлических поверхностей Устройство для измерения шероховатости металлических поверхностей Устройство для измерения шероховатости металлических поверхностей 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к средствам обнаружения движения активного устройства относительно поверхности для управления работой этого устройства при обработке поверхности

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля шероховатости поверхности электропроводных изделий, например, из нержавеющей стали в процессе электролитно-плазменной обработки

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано при активном контроле шероховатости поверхности детали в процессе ее обработки преимущественно на станках токарной группы

Изобретение относится к области материаловедения, точнее к исследованию поверхностной структуры кристаллов и пленок в мезоскопическом диапазоне размеров методом атомно-силовой микроскопии и прецизионному инструментарию для научных и производственно-технологических исследований

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) рельефа, линейных размеров и других характеристик объектов, преимущественно в биологии, с одновременным оптическим наблюдением объекта в проходящем через объект свете

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а именно к способам измерения характеристик приповерхностного магнитного поля с применением сканирующего зонда (атомно-силового микроскопа, магнитосилового микроскопа)

Изобретение относится к транспортной измерительной технике и предназначено для использования при измерении ускорения автомобиля в системе электронного управления двигателем
Наверх