Оперативное запоминающее устройство

 

1. ОПЕРАТИВНОЕ ЗАПОМИНАЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО, содержащее матричньш накопитель, дешифратор строк, выходы которого соединены с соответствующими словарными шинами накопителя, дешифратор столбцов, вькоды которого соединены с первыми входами соответствующих разрядных усилителей считывания, вторые и третьи входы которых соединены с соответствующими разрядными шинами накопителя, а первые и вторые выходы разрядных усилителей считывания соединены соответственно с первым и вторьм входами выходного усилителя и блок выбора кристалла, отличающееся тем, что, с целью повьш1ения надежности путем увеличения достоверности хранимой информации и уменьшения потребляемой мощности, устройство содержит блок внутренней регенерации, первый и второй входы которого соединены соответственно с первыми и вторыми выходами разрядных усилителей счи тывания, а третий и четвертый входы с соответствующими выходами блока выбора кристалла, первый выход блока внутренней регенерации соединен с управляющими входами дешифраторов столбцов и строк, а второй выход с третьим входом выходного усилителя. 2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что блок внутренней регенерации содержит первый и второй п-р-п-транзисторы, базы которых соответственно являются первым и вторым входами блока внутренней регенерации, коллекторы соединены с источниками положительного напряжения , а эмиттеры - соответственно с первым и вторым генераторами тока и первым и вторым эмиттерами двух-, § эмиттерного п-р-п-транзистора, база которого подключена к первому источнику опорного напряжения, а коллектор - к базе р-п-р-транзистора эмиттер которого соединен с анодом первого и катодом второго диодов, первый резистор, один вывод которого соединен с катодом второго лциода, первый резистор, один вывод которого соединен с катодом второго диода, другой вывод - с коллектором двухэмиттерного п-р-п-транзистора и катою о дом первого диода, а анод второго диода соединен с источником положи4 тельного напряжения, коллектор р-п-ртранзистора соединен с базой третьего п-р-п-транзистора, коллектор которого соединен с базой р-п-р-транг зистора, а эмиттер - с одним выводом второго резистора, другой вьгоод которого соединен с базой четвертого п-р-п-транзистора, являющейся вторым выходом блока внутренней регенерации, третий диод, катод которого соединен с шиной нулевого потенциала, а анод .с одним выводом третьего резистора.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК ()9) SU(II) 315ц С 11 С 11/40

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ;,;, К ABTOPCHOIVIV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТЭЕНИЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ

I (21.) 3511235/18-24 (22) 16. 11. 82 (46) 30.08.84. Бюл. 11. 32 (72) В.В. Баринов, Д.E. Ковалдин и В.Ф. Онацько (71) Московский институт электронной техники (53) 681.327.6(088.8) (56) 1. Electronik, У 13, 1981, s. 69-74.

2. IEEE Gournal of Solid-State

Circuits,; 119 5, v. 16, 1981, р. 429434, (прототип) . (54) (57) 1. ОПЕРАТИВНОЕ ЗАПОМИНАЮЩЕЕ

УСТРОЙСТВО, содержащее матричный накопитель, дешифратор строк, выходы которого соединены с соответствующими словарными шинами накопителя, дешифратор столбцов, выходы которого соединены с первыми входами соответствующих разрядных усилителей считывания, вторые и третьи входы которых соединены с соответствующими разрядными шинами накопителя, а первые.и вторые выходы разрядных усилителей считывания соединены соответственно с первым и вторым входами выходного усилителя и блок выбора кристалла, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения надежности путем увеличения достоверности хранимой информации и уменьшения потребляемой мощности, устройство содержит блок внутренней регенерации, первый и второй входы которого соединены соответственно с первыми и вторыми выходами разрядных усилителей считывания, а третий и четвертый входы . с соответствующими выходами блока выбора кристалла, первый выход блока внутренней регенерации соединен с управляющими входами дешифраторов столбцов и строк, а второй выход— с третьим входом выходного усилителя °

2. Устройство по п. 1, о т л ич а ю щ е е с я тем, что блок внутренней регенерации содержит первый и второй п-р-п-транзисторы, базы которых соответственно являются первым и вторым входами блока внутренней регенерации, коллекторы соединены с источниками положительного напряжения, а эмиттеры — соответственйо с первым и вторым генераторами тока и первым и вторым эмиттерами двух-. эмиттерного п-р-п-транзистора, база Я которого подключена к первому источнику опорного напряжения, а коллектор — к базе р-и-р-транзистора эмиттер которого соединен с анодом первого и катодом второго диодов, Я первый резистор, один вывод которого соединен с катодом второго диода, первый резистор, один вывод которого соединен с катодом второго диода, другой вывод — с коллектором двух.— эмиттерного и-р-и-транзистора и катодом первого диода, а анод второго диода соединен с источником положительного напряжения, коллектор р-и-ртранзистора соединен с базой третьего п-р-п-транзистора, коллектор которого соединен с базой р-п-р-тран-, зистора, а эмиттер — с одним выводом ар второго резистора, другой вывод которого соединен с базой четвертого п-р-п-транзистора, являющейся вторым выходом блока внутренней регенерации, третий диод, катод которого соединен с шиной нулевого потенциала, а анод— .с одним выводом третьего резистора, 1111204

35 другой вывод которого подключен к базе четвертого п-р-п-транзистора, коллектор которого соединен с кол-. лектором пятого п-р-п-транзистора, являющимся первым выходом блока внутренней регенерации, эмиттеры четвертого, пятого и шестого и-р-и-транзисторов соединены с третьим генератором тока, база шестого и-р-п-транзистора соединена с вторым источником опорного напряжения, а коллектор подключен к одному выводу четвертого резистора, другой вывод

Изобретение относится к цифровой вычислительной технике, в частности к полупроводниковым оперативным запоминающим устройствам (ОЗУ).

Известно ОЗУ, содержащее матрич- 5 ный накопитель, дешифратор строк, выходы которого соединены с соответствующими словарными шинами накопителя, дешифратор столбцов, выходы которого соединены с разрядными усилителями, считывания, входы которых поцключены к разрядным шинам, а выходы соединены со входами выходного усилителя, и схему выбора кристалла (1) . !

Недостатком данного ОЗУ является низкая надежность хранения информации.

Наиболее близким к данному изобретению является ОЗУ, содержащее матричный накопитель, дешифратор строк, выходы которого соединены

:с соответствующими словарными шина ми накопителя, дешифратор столбцов, выходы которого соединены с первыми входами соответствующих разрядных усилителей считывания, вторые и третьи входы которых соединены с соответствующими разрядными шинами накопителя, а первые и вторые выходы разрядных усилителей считывания соединены соответственно с первыми и вторыми входами выходного усилителя, и блок выбора кристалла (2) .

Недостатком этого ОЗУ является низкая достоверность функционироваI ния и большое потребление мощности. которого подключен к источнику положительного напряжения, а коллектор пятого п-р-п-транзистора соединен с одним выводом пятого резистора, другой вывод которого соединен с источником положительного напряжения, четвертый диод, анод которого подключен к базе третьего и-р-и-транзистора, а катод является третьим входом блока внутренней регенерации, база пятого п-р-и-транзистора является четвертым входом блока внутренней регенерации.

I

Целью изобретения является повышение надежности устройства путем увеличения достоверности хранимой информации и уменьшение потребляемой мощности.

Поставленная цель достигается тем, что в оперативное запоминающее устройство, содержащее матричный накопитель, дешифратор строк, выходы которого соединены с соответствую" щими словарными шинами накопителя, дешифратор столбцов, выходы которого соединены с первыми входами соответствующих разрядных усилителей считывания, вторые и третьи входы которых соединены с соответствующими разрядными шинами накопителя, а первые и вторые выходы разрядных усилителей считывания соединены соответственно с первым и вторым входами ваходного усилителя и блока выбора кристалла, введены блок внутренней регенерации, первый и второй входы которого соединены соответственно с первыми и вторыми выходами разрядных усилителей считывания, а третий и четвертый входы — с соответствующими выходами блока выбора кристалла, первый выход блока внутренней регенерации соединен с управляющими входами дешифраторов столбцов и строк а второй выход — с третьим входом выходного усилителя.

Блок внутренней регенерации содержит первый и второй и-р-и-транзисторы, базы которых соответственно являются первым и вторым входами блока внутренней регенерации, коллекто1111204 ры соединены с источниками положительного напряжения, а эмиттеры— соответственно с первым и вторым генераторами тока и первым и вторым эмиттерами двухэмиттерного п-р-и-тран5 зистора, база которого подключена к первому источнику опорного напряжения, а коллектор — к базе р-и-р-транзистора эмиттер которого соединен с анодом первого и катодом ið второт о диодов, первый резистор, один вывоп которого соединен с катодом второго диода. другой вывод — с коллектором двухэмиттерного п-р-п-транзистора и катодом первого диода, 1 а анод второго диода соединен с источником положительного напряжения, коллектор р-п-р-транзистора соединен с базой третьего и-р-и-транзистора, коллектор которого соединен с базой р-п-р-транзистора, а эмиттер с одним выводом второго резистора, другой вывод которого соединен с базой четвертого п-р-п-транзистора, являющейся вторым выходом блока внутренней регенерации, третий диод, катод которого соединен с шиной нулевого потенциала, а анод — с одним выводом третьего резистора, другой вывод которого подключен к базе

30 четвертого п-р-п-транзистора, коллектор которого соединен с коллектором пятого п-р-п-транзистора, являющимся первым выходом блока внутренней регенерации, эмиттеры четвертого, пятого и шестого и-р-и-трав З зисторов соединены с третьим генератором тока, база шестого и-р-и-транзистора соединена со вторым источником опорного напряжения, а коллектор подключен к одному выводу четвертого резистора, другой вывод которого подключен к источнику положительного напряжения, а коллектор пятого и-р-и-транзистора соединен с одним выводом пятого резис- 4 тора, другой вывод которого соединен с источником положительного напряжения, четвертый диод, анод которого подключен к базе третьего п-р-п-транзистора, а катод является третьим входом блока внутренней регенерации, база пятого и-р-и-транзистора является четвертым входом блока внутренней регенерации, На Фиг, 1 представлена структурная1 схема ОЗУ; на фиг. 2 — принципиальная электрическая схема блока внутренней регенерации. ф

ОЗУ содержит матричный накопитель

1, словарные шины 2, разрядные шины

3, дешифратор 4 строк, дешифратор 5 столбцов, разрядные усилители считывания 6, выходной усилитель 7, блок 8 выбора кристалла, блок внутренней регенерации 9.

Блок внутренней регенерации 9 содержит первый и второй и-р-и-транзисторы соответственно 10 и 11, источники положительного напряжения

i2 и 13 для и-р-п-транзисторов 10 и 11, первый и второй генераторы тока соответственно 14 и 15, двухэмиттерный п-р-и-транзистор 16, первый источник опорного напряжения 17, р-и-р-транзистор 18, первый и второй диоды соответственно 19 и 20, первый резистор 21, источник положительного напряжения 22, третий п-р-и-транзистор 23, второй резистор 24, четвертый и-р-и-транзистор 25, третий диод 26, шину нулевого потенциала

27, третий резистор 28, пятый и-р-и-транзистор 29, шестой и-р-и-транзистор 30, третий генератор тока

31, второй источник опорного напряжения 32, четвертый и пятый резисторы соответственно 33 и 34, источни ки положительного напряжения 35 и

36, четвертый диод 37.

ОЗУ работает следующим образом.

При обращении к матричному накопителю 1 выбор запоминающих элементов осуществляется понижением потенциала словарной шины 2 в выбранной строке и заданием тока записи-считывания в разрядных шинах 3 выбранного столбца в соответствии с кодом адреса, поступающим с дешифраторов строк 4 и столбцов 5.Информационный сигнал в виде разности потенциалов разрядных шин 3 усиливается разрядным усилителем считывания 6 и поступает одновременно на выходной усилитель 7 и блок внутренней регенерации 9.

Для экономии потребляемой мощности сигналом с дешифратора столбцов 5 включается разрядный усилитель считывания 6 только в выбранном столбце. В режиме считывания информации под действием информационного сигнала выходной усилитель 7 переключается в одно из состояний (логического нуля или единицы) и выдает считанную информацию на выход ОЗУ.

В режиме записи информации, в от04

t0

5 11112 личии от режима считывания, выходной усилитель 7 выключен, и записываемая информация на выход ОЗУ не поступает

При поступлении информационного сигнала блок внутренней регенерации формирует два управляющий сигнала.

ОДин из них фиксирует состояние выходного усилителя 7 (в режиме считывания информации), обеспечивая постоянную выдачу считанной информации на выход ОЗУ независимо от протекающих в дальнейшем процессов в матричном накопителе 1 до окончания обращения к кристаллу. Другой управляющий сигнал отключает де- 15 шифраторы строк 4 и столбцов 5 от матричного накопителя 1 и переводит тем самым последний в режим регенерации (хранения) информации. Таким образом, когда процесс считывания 20 или записи уже закончен, но кристалл остается выбранным, блок внутренней регенерации 9 переводит ОЗУ в целом в режим пониженной потребляемой мощности, обеспечивая высокую экономич- 25 ность. По окончании обращения к кристаллу блок 8 выбора кристалла формирует два управляющих сигнала, один из которых переводит блок внутренней регенерации в исходное 30 состояние, а другой запрещает вклю-, чение дешифраторов строк 4 и столбцов 5.

Введение в ОЗУ блока внутренней регенерации 9 позволяет создать статическое ОЗУ на основе квазистатических элементов памяти.

Блок внутренней регенерации 9 работает следующим образом.

В режиме хранения информации на базы первого и второго и-р-и-тран зисторов соответственно 10 и 11 поступают сигналы высокого логического. уровня с первого и второго выход45 ного усилителя 7. Блок 8 выбора кристалла формирует на выходах сигналы соответственно низкого и высокого логического уровня. Таким образом, в режиме хранения информации р-и-р-транзистор 18 и третий и-р-и-тран50 зистор 23 выключены и с резистивного делителя, образованного вторым 24 и третьим 28 резисторами, на базу четвертого и-р-и-транзистора 25 поступает сигнал низкого логического уров. ня. Ток третьего генератора тока 31 протекает через пятый транзистор 29 и формирует на пятом резисторе 34 сигнал низкого логического уровня, отключающий дешифраторы строк 4 и столбцов 5 от матричного накопителя 1.

При обращении к кристаллу блок

8 выбора кристалла формирует на первом выходе сигнал высокого логического уровня (но р-и-р-транзистор 18 и третий п-р-и-транзистор 23 остаются в выключенном состоянии благодаря использованию четвертого развязывающего диода 37), а на втором выходе — низкого логического уровня.

Ток третьего генератора тока 31 переключается в шестой и-р- п-транзистор 30. На пятом резисторе 34 формируется сигнал высокого логического уровня, разрешающий прохождение кода адреса с дешифраторов строк 4 и столбцов 5 на накопитель 1.

В зависимости от используемых конструкций дешифраторов для их включения и выключения может быть использован сигнал противоположной полярности, формируемый на четвертом резисторе 33 (фиг. 2, показано пунктиром). После завершения в накопителе 1 процесса считывания или записи дифференциальный информационный сигнал поступает с разрядных усилителей считывания 6 на выходной усилитель 7. В зависимости от полярности дифференциального сигнала ток одного из генераторов тока 14 или

15 переключается в двухэмиттерный транзистор 16 и включает р-и-р-транзистор 18 и третий и-р-и-транзистор 23. Второй диод 20 и третий диод

26 служат для согласования логических уровней, а первый диод 19 — для стабилизации тока, протекающего через р-и-р- транзистор 18 и третий п-р-и-транзистор 23. На резистив,ном делителе, образованном вторым и третьим резисторами 24 и 28 формируется сигнал высокого логическбго уровня, фиксирующий состояние выходного усилителя 7 и переключающий ток третьего генератора тока 31 в четвертый транзистор 25. На пятом резисторе 34 формируется сигнал низкого логического уровня, отключающий дешифраторы строк 4 и столбцов 5 от накопителя 1 и переводящий последний в режим регенера ции (хранения) информации. С переходном накопителя 1 в режим регенерации информации потенциалы на

Введение в ОЗУ блока внутренней регенерации выгодно отличает пред" ложенное оперативное запоминающее

30 устройство от прототипа, так как .позволяет повысить достоверность функционирования ОЗУ и снизить потребляемую мощность.

7 111120 входах выходного усилителя 7 выравниваются и повышаются. Ток первого или второго генераторов тока 14, 15 вновь переключается в первый или второй и-р-и-транзис горы 10 и 11, 5 но р-и-р-транзистор 18 и третий и-р-и-транзистор 23 остаются включенными. Состояние выходного усилителя 7 остается фиксированным до окончания обращения к кристаллу. Ток третьего генератора тока 31 по-прежнему протекает через четвертый и-р-и-транзистор 25 и формирует на пятом резисторе 34 сигнал низкого логического уровня. Дешифратор стро- IS ки 4 и столбцов 5 отключены от накопителя 1.

По окончании обращения к кристаллу блок 8 выбора кристалла формирует на

Своих выходах сигналы соответственно 20 низкого и высокого логических уровней, р-и-р-транзистор и третий п-р-и-транзистор 23 выключаются, резистивным делителем, образованным вторым и третьим резисторами 24 и 28, на втором выходе блока внутренней регенерации 9 формируется сигнал низкого логического уровня, выключающий выходной усилитель 7. Ток третьего генератора тока 31 переключается из четвертого и-р-и-транзистора 25 в пятый и-р-п-транзистор 29. На пятом резисторе 34 по-прежнему формируется сигнал низкого логического уровня и дешифраторы строк 4 и столбцов 5 отключены от накопителя.

Использование блока внутренней регенерации 9 не ухудшает быстродействие ОЗУ, так как включение блока внутренней регенерации 9 и перевод накопителя 1 в режим регенерации информации происходит одновременно с включением выходного усилителя 7.

В то же время блок внутренней регенерации 9 позволяет значительно снизить потребляемую ОЗУ мощность за счет выключения ряда блоков или работы их при пониженной потребляемой мощности в режиме регенерации.информации. Кроме того, использование блока внутренней регенерации 9 позволяет повысить достоверность функционирования 03У за счет того, что сигналом, переводящим накопитель 1 в режиме регенерации информации, является внутренний (информационный) сигнал.

1111204

1111204 к

Составитель В. Вакар

Редактор С. Тимохина Техред М.Гергель

Корректор С. Черни !

Подписное

Заказ 6318/41 Тираж 574

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Оперативное запоминающее устройство Оперативное запоминающее устройство Оперативное запоминающее устройство Оперативное запоминающее устройство Оперативное запоминающее устройство Оперативное запоминающее устройство Оперативное запоминающее устройство 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к устройствам вычислительной техники

Изобретение относится к микроэлектронике и может быть использовано для создания ЭРПЗУ с повышенной информационной плотностью на основе МОНОП-транзисторов, в частности, перепрограммируемых инжекцией горячих носителей заряда

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для создания постоянных (ПЗУ) и репрограммируемых (РПЗУ) запоминающих устройств повышенной информационной емкости на основе МДП-структур

Изобретение относится к полупроводниковому запоминающему устройству и, в частности, к цепи усиления напряжения (употребляемый здесь термин "цепь усиления напряжения" имеет тот же смысл, что и "усилительная схема", "цепь выработки усиленного напряжения", "однокаскадная усилительная схема с компенсационной обратной связью" и т.д.) для усиления подаваемого от системы питающего напряжения до желательного уровня усиления напряжения

Изобретение относится к вычислительной цифровой технике, конкретно к конструкции ячейки памяти с вертикально расположенными друг над другом пересечениями

Изобретение относится к способу регенерации ячеек памяти в динамическом запоминающем устройстве с произвольным доступом и, в частности, к способу, который уменьшает помехи регенерации на напряжении стока динамического запоминающего устройства с произвольным доступом, имеющего КМОП-структуру

Изобретение относится к электронной технике

Изобретение относится к запоминающей ячейке статического ЗУПВ

Изобретение относится к схемному устройству с некоторым числом электронных схемных компонентов, состояние которых может переводится в исходное состояние
Наверх