Патент ссср 129688

 

29688

Класс 21а", 71

<;СCÐ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Подггпсная групгга Л3 89

Д. И. Мировицкий, Г, Г. Валеев и И. Ф. Будагян

ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОМПЛЕКСНОГО КОЭФФИЦИЕНТА

ОТРАЖЕНИЯ ОБРАЗЦОВ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ

Заявлено 16 сентяоря 1959 г. за М 638854/26 в Комитет по делам изобретсни11 и открытий прп Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» Уа 14 за 1961 г.

При измерениях комплексного коэффициента отражен1 я диэлектрических материалов иногда необходимо производить измерения в свободном пространстве и с образцом любого размера и формы, Таким требованиязг удовлетворяет прибор. схематически изооражеш- ый на чертеже, где — ВЧ генератор, 2 — направленный ответвитель поверхностной волны, 8 — излучагощая на образец и принпмаюшая от неГо сигнал антенна из нес! .Олъких диэлектрических стержней, 4 — измеряемый образец, 5 — излучаюгцая на эталон антенна, б — эталон с

1рег1лируемым коэффициентом отражения, 7 — направленный ответвптель индикатора, 8 — индикатор, на котором складываются сигналы, отраженные образцом и эталоном, 9 — микрометрическое устройсгво для точной балансировки фазы.

Измерения коэффициента отражения производятся путем сравнения двух сигналов, отраженных образцом 4 и эталоном б. Модуль коэффициента отражения определяется по углу поворота решетки эталона, а фаза по показаниям шкалы отсчета фазовращателя 10. Если в отвствителе 2 линию поверхностной волны, связанную с индикатором 8, сделать поворотной, то ответвитель становится регулируемым балансным устройством, уравнивающим амплитуды сигналов, отраженных от измеряемого образца и отражателя. помещаемого вместо эталона 6.

Предмет изооретения

Прибор для измерения комплексного коэффициента отражения образцов диэлектрических материалов, о т л и ч а ю гц и и с я тем, что, с целью упрощения конструкции, повыше1шя точности измерений 1( чувствительности, в схему введены построенные на линиях передачи поверхностной волны направленный ответвптель, балансное устройство и фазовращатель.

Редактор О, Д. Ус

Техред Л. А Дороднова Корректор М. И. Козлова

Объем 0,18 нзл, Цена 4 кн открытий

Формат бум. 70X 108 /, Тираж 800

ЦБТИ при Комитете по делам изобретений и при Совете Министров СССР

Москва, Центр, М Черкасский пер., д.

Подп. к печ 29Х111-61 г

Зак. 8494

2/6.

Типография ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совеге Министров СССР, Москва, Петровка, !4.

Патент ссср 129688 Патент ссср 129688 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области акустических и радиоизмерений и применяется для определения модуля и фазы коэффициента зеркального отражения листовых материалов и плоских поверхностей веществ

Изобретение относится к тестовому блоку базовой станции для тестирования базовой станции в мобильной системе связи, в частности к способу для измерения коэффициента стоячей волны для передающей антенны и приемной антенны, который может тестировать радиоблок базовой станции

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использованo для измерения полной входной проводимости антенн

Изобретение относится к измерению электрических величин и может быть использовано в производстве существующих и новых поглощающих материалов типа углепластиков, применяется в СВЧ диапазоне, а также для контроля электрических параметров диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь

Изобретение относится к технике измерений на СВЧ и может быть использовано для измерения комплексного коэффициента отражения оконечных нагрузок в стандартных коаксиальных и волноводных каналах

Изобретение относится к радиотехнике и может использоваться в радиопередающих устройствах

Изобретение относится к технике измерений на сверхвысоких частотах (СВЧ) и может быть использовано при создании приборов и систем для определения параметров СВЧ-устройств с стандартных каналах и для антенных измерений

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к измерениям радиофизических характеристик радиопоглощающих покрытий (РПП)

Изобретение относится к радиоизмерительной технике и может быть использовано при создании панорамных измерителей параметров СВЧ устройств
Наверх