Устройство для тестового контроля временных соотношений

 

Изобретение относится к цифровой вычислительной технике и может быть использовано для поиска неисправностей в сложных цифровых схемах. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей устройства за счет обеспечения контро ля момента появления выходных сигналов контролируемого узла. Устройство содержит блок памяти тестов, счетчик адреса, группу ключей, блок сравнения, индикатор, мультиплексор, блок задержки , содержащий элемент ИЛИ, регистр сдвига и генератор тактовых импульсов. 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (1% (!1) А1 ц1! 4 G 06 F 11/22

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

llO ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ, »"@, Н АВТОРСКОМ .Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3867716/24-24 (22) 15.03.85 (46) 30.09.86;.Бющ. Ф 36 (72) В.Н.Иигалин и В.В.Шмелев (53) 681. 3 (088. 8) (56) Авторское свидетельство СССР

Ф 1024925, кл. (06 Р 11/26, 1981.

Автооское свидетельство .СССР

В 618742, кл. G 06 Р 11/22, 1975. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ТЕСТОВОГО КОНТРОЛЯ ВРЕИЕННЫХ СООТНОШЕНИЙ (57) Изобретение относится к цифро, вой вычислительной технике и может быть использовано для поиска неисправностей в сложных цифровых схемах.

Целью изобретения является расширение функциональных возможностей устройства за счет обеспечения контро ля момента появления выходных сигна" лов контролируемого узла. Устройство содержит блок памяти тестов, счетчик адреса, группу ключей, блок сравнения, индикатор, мультиплексор, блок задержки, содержащий элемент ИЛИ, ре- . гистр сдвига и генератор тактовых импульсов. 2 ил.

1260962

Изобретение относится к цифровой вычислительной технике и может быть использовано для поиска неисгравностей в сложных цифровых схемах.

Целью изобретения является расширение функциональных возможностей устройства, за счет обеспечения контроля момента появления выходных сигналов контролируемого узла.

На фиг. 1 представлена функциональная схема устройства тестового контроля временных соотношений; на фиг. 2 — функциональная схема блока задержки.

Устройство тестового контроля временных соотношений (фиг. 1) содержит блок 1 памяти тестов, счетчик 2 адреса, контролируемый узел 3, группу ключей 4, блок 5 сравнения, индикатор 6, мультиплексор 7, блок 8 задержки, установочный вход 9 счетчика адреса, первая, вторая и третья группы выходов 10, 11 и 12 блока памяти тестов, первый вход 13 блока задержки, второй вход 14 блока задержки.

Блок 8 задержки (фиг. 2) содержит

ИЛИ 15, генератор 16 тактовых импульсов, регистр 17 сдвига.

Работа устройства тестового контроля временных соотношений начинается по сигналу "Пуск", который подается на вход 9 счетчика адреса и на вход 14 блока 8 задержки. При этом со счетчика 2 адреса на блок 1 памяти тестов поступает адрес первого тестового слова и блок 1 памяти выдает первое тестовое слово, которое состоит из трех частей. Каждан часть тестового слова выдается на соответст вующую группу выходов блока 1 памяти тестов. Группа выходов 10 блока памяти тестов управляет работой ключей 4 группы, т.е . ключи 4 группы, которые открываются сигналами с группы выходов 10 пропускает через себя сигналы воздействий, подаваемые на контролируемый узел. Сигналы воздействий выдаются на ключи 4 группы со второй группы выходов 11 блока памяти тестов. Сигнал "Пуск", поданный на вход 14 блока 8 задержки, через определенный интервал времени последовательно появляется на выходах этого блока, а следовательно, и на информационных входах мультиплексора 7.

На выходе мультиплексора 7 появляется сигнал того входа группы, номер которого подается на группу управляю10

40 щих входов мультиплектора 7 с группы выходов 12 блока 1 памяти тестов. Таким образом, на выходе мультиплексора 7 появляется сигнал, задержанный относительно сигнала на входе 14 блока задержки на величину, определяемую кодом, формируемым группой выходов 12 блока 1 памяти тестов.

Сигнал с выхода мультиплексора 7 подается на счетный вход счетчика 2 адреса, где по нему формируется адрес следующего тестового слова. Этот же сигнал подается на первый вход 13 блока 8 задержки. По новому адресу, вырабатываемому счетчиком 2 адреса, формируется новое тестовое слово, третья часть которого формируется на группе выходов 12 и определяет задержку, через которую будет выдано следующее тестовое слово. Заполнив соответствующим образом все тестовые слова можно управлять моментами выдачи тестовых слов, т.е. интервалами времени между двумя соседними тестовыми словами или иначе говоря временем анализа откликов контролируемого узла на входное воздействие.

Дискрет изменения задержки между тестовыми словами определяется периодом повторения тактовых импульсов, вырабатываемых генератором 16 тактовых импульсов, а максимальная величина задержки определяется как числом разрядов регистра 17 сдвига (или числом разрядов управляющих входов мультиплексора), так и периодом повтоI рения тактовых импульсов генератора 16 тактовых импульсов.

Блок задержки работает следующим образом.

Задержка осуществляется с помощью, регистра сдвига, на вход сдвига которого подается последовательность импульсов, вырабатываемых генерато- ром 16 тактовых импульсов. Сигнал, пришедший на первый или второй вход схемы ИЛИ 15, через эту схему подается на информационный вход регистра 17 сдвига. По каждому импульсу, поступаемому на вход сдвига регистра 17, этот сигнал перемещается на один разряд вправо.

Сравнение полученных откликов с ожидаемыми производится блоком 5 сравнения.

Сравнение получаемых откликов производится в моменты времени вы12

60962 дачи следующего воздействия, т.е. группа выходов 11 содержит информацию об откликах на воздействие, выданное в предыдущем тестовом слове. Результат сравнения отражается иа индикаторе 6.

Работа устройства заканчивается, когда счетчик 2 адре .а сформирует адрес последнего тестового слова.

Таким образом, устройство позволяет производить контроль момента появления выходных сигналов контролируемого узла. При этом появилась возможность заранее установить свой интервал времени, в который должен появиться сигнал отклика при подаче каждого сигнала воздействия.

Формула изобретения

Устройство для тестового контроля временных соотношений, содержащее блок памяти тестов, счетчик адреса, блок сравнения, индикатор, группу ключей, причем первая rpyar.а выходов блока памяти тестов соединена с. входами управления ключей группы, вторая группа выходов блока памяти тестов соединена с информационными входами ключей группы и с первой группой входов блока сравнения, выходы ключей группы соединены с группой чходов-выходов контролируемого узла

4 и второй группой входов блока сравне-, ния, выход которого соединен с входом индикатора, группа выходов счетчика адреса соединена с группой адресных входов блока памяти тестов,о т л и ч а ю щ ее с я тем,что,с целью расширения функциональных возможностей за счет обеспечения контроля момента появлеЮ ния выходных сигналов контролируемого

10 узла, устройство содержит блок задержки и мультиплексор, группа управляющих входов которого соединена с третьей группой выходов блока памяти тестов, группа информационных входов

15 мультиплексора соединена с группой выходов блока задержки, а выход мультиплексора соединен со счетным входом счетчика адреса и первым входом блока задержки, вход пуска уст20 ройства подключен к установочному входу счетчика адреса и второму входу блока задержки, причем блок задержки содержит элемент ИЛИ, регистр сдвига и генератор тактовых

25 импульсов, выход которого соединен с входом сдвига регистра сдвига, группа выходов которого является группой выходов блока задержки, первый и второй входы элемента ИЛИ

ЗО являются первым и вторым входами блока задержки, выход элемента ИЛИ соединен с информационным входом регистра сдвига.

1260962

Составитель Д.Ванюхин

Техред П.Олейник, Корректор А. Тяско

Редактор А.Долинич

Тирам 671 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Заказ 5233/50

Производственно-полиграфическое предприятие, г.Ужгород, ул.Проектная, 4

Устройство для тестового контроля временных соотношений Устройство для тестового контроля временных соотношений Устройство для тестового контроля временных соотношений Устройство для тестового контроля временных соотношений 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к вычислительной технике, в частности к устройствам автоматического контроля Ц1 ровьк объектов, и может быть использовано для высокочастотной функциональной проверки узлов ЭВМ, построенных с использованием микросхем большой степени интеграции

Изобретение относится к области вычислительной техники, может быть ;использовано;

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в аппаратуре автоматизированного контроля цифровых узлов ЭВМ

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано при реализации средств тестового диагностирования блоков дискретной техники

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для контроля исправности логических блоков и цифровых интегральных схем

Изобретение относится к области автоматики и вычислительной техники

Изобретение относится к области автоматики и вычислительной техники, в частности к устройствам для контроля электрического монтажа

Изобретение относится к вычислительной технике и автоматике и может быть использовано при построении средств контроля и диагностирования дискретных блоков радиоэлектронной аппаратуры

Изобретение относится к области автоматики и вычислительной техники, в частности к устройствам для контроля электрического монтажа

Изобретение относится к вычислительной технике

Изобретение относится к области испытания и контроля цифровых полупроводниковых интегральных микросхем (ИС) и может быть использовано в сборочном производстве электронных средств при входном контроле показателей радиационной стойкости ИС, содержащих запоминающие устройства (ЗУ)

Изобретение относится к ремонтному обслуживанию персональных компьютеров, а именно к диагностике работоспособности аппаратных средств и программного обеспечения

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для обнаружения и указания места потенциально неисправного устройства, входящего в состав цифрового блока

Изобретение относится к области диагностики технических систем и может быть использовано при диагностике состояния технических систем различной степени сложности

Изобретение относится к средствам тестирования взаимосвязанных больших интегральных микросхем (БИС) на уровне плат в реальных условиях эксплуатации
Наверх