Фотодиод

Авторы патента:

H01L31 - Полупроводниковые приборы, чувствительные к инфракрасному излучению, свету, электромагнитному, коротковолновому или корпускулярному излучению, предназначенные либо для преобразования энергии такого излучения в электрическую энергию, либо для управления электрической энергией с помощью такого излучения; способы или устройства, специально предназначенные для изготовления или обработки таких приборов или их частей; конструктивные элементы приборов (H01L 51/00 имеет преимущество; приборы, состоящие из нескольких компонентов на твердом теле, сформированных на общей подложке или внутри нее, кроме приборов, содержащих чувствительные к излучению компоненты, в комбинации с одним или несколькими электрическими источниками света H01L 27/00; кровельные покрытия с приспособлениями для размещения и использования устройств для накопления или концентрирования энергии E04D 13/18; получение тепловой энергии с

 

Юо 131842

Класс 21, 29гв

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Подписная группа М 97

Заявлено 28 декабря 1959 г. за № 648582/26 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» № 18 за 1960 г.

Известны фотоэлементы, спектральная характеристика которых определяется свойствами вещества, из которого изготовлен фотоэлемент.

Эта характеристика для каждого типа фотоэлементов практически постоянна.

В описываемом изобретении, с целью обеспечения возможности регулировки длинноволновой границы спектральной чувствительности, применен фотодиод, обладающий туннельным эффектом. Сущность туннельного эффекта состоит в следующем. Если в диоде образовать электроннодырочный переход, в котором контактирующие электронная и дырочная части изготовлены из вещества с достаточно большой проводимостью из-за большой концентрации примесей, то толщина объемного заряда на границе (толщина запорного слоя) будет столь мала, что электроны будут преодолевать потенциальный барьер на границе, проходя сквозь него.

Интенсивность переходов сквозь барьер зависит от величины и направления приложенной к диоду разности потенциалов.

На чертеже изображен туннельный и — р переход, включенный в запирающем направлении. Если осветить фотодиод светом с энергией квантов Ьу„„-„не меньшей, чем энергетическое расстояние между дном зоны проводимости электронного полупроводника и потолком валентной зоны дырочного полупроводника, то при поглощении квантов электронами валентной зоны дырочного полупроводника осуществится их переход в зону проводимости электронного полупроводника.

Меняя величину напряжения постоянного смещения 1, прикладываемого к туннельному фотодиоду, можно регулировать энергетический зазор Ьу,-.„а следовательно, и длинноволновую границу чувствительности ф отодиода.

Сигнал в цепи фотодиода регистрируется с помощью прибора 2, измеряющего изменение величины фототока в этой цепи. № 131842

Предмет изобретения

Техред А. А. Камышиикова Корректор О. П. Филиппова

Редактор Рубинчик

Формат бум. 70Х108 /и Объем 0,17 и. л.

Тираж 1050 Цена 25 коп с 1/1-61 г — 3 коп

ЦБТИ при Комитете по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, М. Черкасский пер., д. 2/6.

Поди. к печ. 5.1Х-60 г

Зак. 7582

Типография ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР, Москва, Петро ка, 14.

Фотодиод, имеющий два слоя контактирующих полупроводников, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью обеспечения возможности регулировки длинноволновой границы спектральной чувствительности, запирающий слой между слоями полупроводников создан настолько малым, что при изменении величины приложенного к фотодиоду напряжения меняется величина фототока, определяемого туннельным эффектом.

Фотодиод Фотодиод 

 

Похожие патенты:

Фототриод // 121881

Изобретение относится к электротехнике, в частности к конструированию фотоэлектрических потенциометров для следящих систем, и может быть использовано при изготовлении датчиков угловых и линейных перемещений для устройств автоматики и вычислительной техники

Изобретение относится к полупроводниковым приборам, конкретно к полупроводниковым фотоприемникам с внутренним усилием сигнала, и может быть использовано для регистрации слабых потоков излучения и ядерных частиц

Изобретение относится к полупроводниковым приборам, в частности к полупроводниковым фотоприемникам, и может применяться для регистрации слабых световых потоков и ядерных частиц

Изобретение относится к области преобразования энергии оптического излучения с произвольной шириной спектра в энергию электромагнитных колебаний или волн радиодиапазона, например СВЧ (сверхвысокочастотного) диапазона, а также в энергию электромагнитных колебаний более низкочастотного диапазона, в частности в энергию электромагнитных (электрических) колебаний промышленной частоты (т.е

Изобретение относится к области обработки информации, представленной оптическими сигналами, в частности к устройствам регенерации, усиления, коммутации оптических сигналов (ОС) полупроводниковыми структурами

Изобретение относится к гелиотехнике, в частности, к фотоэлектрическим модулям с солнечными элементами для солнечных электростанций

Изобретение относится к гелиотехнике, в частности, к фотоэлектрическим модулям с солнечными элементами для солнечных электростанций

Изобретение относится к полупроводниковой технике и может быть использовано для регистрации и измерения потока ИК-излучения
Наверх