Гониометрическое устройство для рентгенодифракционных исследований монокристаллов

 

Изобретение относится к области рентгеновского приборостроения и может бЫть использовано для расширения технических возможностей существующих J рентгеновских дифрактометров. Цель изобретения состоит в расширении функциональных возможностей при обеспечении точных перемещений исследуемых монокристаллов, а также в уменьшении габаритов и массы. Устройство является средством прецизионной юстировки монокристалла при исследовании дефектов структуры методом трехкристального спектрометра. Оно представляет собой автономный блок, который может быть установлен на кронштейн детектора в дифрактометре, преобразованном в двухкристальньй спектрометр . Основным элементом устройства является шарнир 1. Шарнир 1 содержит угловой рычаг 10 Г-образной формы и упругие шарниры 5-8, соединяющие между собой неподвижную часть 2, которая крепится на кронштейне детектора, как основанш, и подвижную часть 4, несущую кристаллодержатель. При работе устройства вращением вокруг вертикальной оси 3 производят грубую юстировку кристаллодержателя, а затем посредством углового рычага 10 и упругих шарниров 5-8 производят его точную юстировку микрометрическим винтом, упирающимся в шарик 11, благодаря повороту подвижной части 4 относительно неподвижной части 2 шарнира 1„ 2 з.п. ф-лы, 3 ил. i (Л 00 о оо со . Я7

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕаЪБЛИК (19) 01) 1 А1 (51) 4 Г 01 N 23/20

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

К А BTOPCHOMV СВИДЯТЕЛЬСТБУ (21) 3940493/24-25 (22) 06.08.85 (46) 15.04.87. Бюл. Ф 14 (71) Ленинградское научно-производственное объединение "Буревестник" (72) П.В.Петрашень и А.Ю.Разумовский (53) 621.386(088.8) (56) Пинскер З.Г. Рентгеновская кристаллооптика. М.: Наука, 1982, с.251-253.

Авторское свидетельство СССР

У 522458, кл. G 01 N 23/20, 1976.

Becker P. Neutron- interfегоmetry.

Oxford, University Press, 1979, р.416. (54) ГОНИОИЕТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ

PEНТГЕНОДИФРАЕЦИОННЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ

МОНОКРИСТАЛЛОВ (57) Изобретение относится к области рентгеновского приборостроения и может быть использовано для расширения технических возможностей существующих рентгеновских дифрактометров. Цель изобретения состоит в расширении функциональных возможностей при обеспечении точных перемещений исследуемых монокристаллов, а также в уменьшении габаритов и массы. Устройство является средством прецизионной юстировки монокристалла при исследовании дефектов структуры методом трехкристального спектрометра. Оно представляет собой автономный блок, который может быть установлен на кронштейн детектора в дифрактометре, преобразованном в двухкристальный спектрометр. Основным элементом устройства является шарнир 1. Шарнир 1 содержит угловой рычаг 10 Г-образной формы и упругие шарниры 5-8, соединяющие между собой неподвижную часть 2, которая крепится на кронштейне детектора, как основании, и подвижную часть 4, а несущую кристаллодержатель. При ра9 боте устройства вращением вокруг вертикальной оси 3 производят грубую юстировку кристаллодержателя, а за- C тем посредством углового рычага 10 и упругих шарниров 5-8 производят его точную юстировку микрометрическим винтом, упирающимся в шарик 11, благодаря повороту подвижной части 4 относительно неподвижной части 2 шарнира 1. 2 з.п. ф-лы, 3 ил.

13039

Изобретение относится к рентгеновскому приборостроению и может быть использовано для расширения возможностей существующих рентгеновских дифрактометров, спектрометров и топо- 5 графических камер, а также при разработке новых типов рентгенодифракционной и рентгеноспектральной аппаратуры.

Цель изобретения состоит в расши- 10 рении функциональных воэможностей при обеспечении точных перемещений исследуемых монокристаллов и уменьшения габаритов и веса.

Ф

На фиг.1 показано выполнение шар- 1 нирного .устройства; на фиг.2 †то же, вид сверху; на фиг.3 — разрез А-А на фиг.2 (взаимное расположение элементов и крепление криоталлодержателя на шарнирном устройстве и размещение последнего на:оворотном кронштейне дифрактометра) .

Гониометрическое устройство смонтировано на поворотном кронштейне дифрактометра, который обычно несет щелевое устройство и детектор рентге-.новского излучения. Основным элементом предложенного уст1.ои:тва является шарнир 1, установленный не основании и несущий кристаллодержатель., Шарнирное устройство 1 включает неподвижную часть 2 устройства, ось юстировочного поворота 3, подвижную часть

4, упругие шарниры 5, б, 7 и 8, промежуточное звено 9, угловой рычаг 10, 35 шарик 11 и гнездо юстировбчньго рычага 12. На ьарнирном устройстве смонтирована пружина 13, микр †;метрический винт 14 наклона кристаллодержателя, винт прецизионного noEçðîòa 15, основание 16 кристаллодержателя, неподо вижные опоры 17 кристаллодержателя, опора 18 микрометрического винта наклона кристаллодержателя, стяжные пружины 19, поджимающие основание кристаллодержателя к шарнирному устройству и проходящие через сквозные отверстия 20 в шарнире, стойка 21, кристаллодержатель 22, ось 23 кристаллодержателя, вокруг которой осу- 0 ществляе ся азимутальный поворо кристалла, гайка 24, прижимающая шарнир 1 к основанию 25.

Устройство работает следующим образом.

Грубый юстировочный поворот усто ройства как целого с точностью +0,5 вокруг вертикальной оси 3 осуществля14 2 ется вручную с помощью юстировочного рычага, вставленного в гнездо 12. При дальнейшей юстировке кристалла вращают вручную микрометрический винт

14 и винт 15. При вращении винта 14 основание 16 кристаллодержателя повор;."Ièâàåòñÿ вокруг горизонтальной оси, проходящей через неподвижные опоры 17, и кристаллодержатель наклоняется. При вращении микрометрического винта 15 поступательное движение винта через шарик 11 передается на угловой рычаг 10, поворачивая его относительно упругого шарнира 5. Движение упругого шарнира 6, находящегося на угловом рычаге, через промежуточное звено .. и упругий шарнир 7 передается пгавижной части 4, заставляя се поворачиваться вокруг упругого шарнира 8, являющегося осьюпрецизионного поворота. В рабочем режиме вращение микрометрического винта 15 происходит от шагового двигателя через гибкий вал, в остальном устройство работает аналогично.

Предлагаемое устройство реализовано в лабораторных условиях и имеет следующие конструктивные характеристики. Шар.;нрное v:òðoéñòBî выполнено из листа высокопрочного алюминиевого сплава В-95 толщиной 10 мм. Минимальные сечения упругих шарниров составляют 1,5 мм для шарнира 8 и 0,2 мм для остальных шарниров (фиг.i).

При этом обеспечивается возможность многократного поворота подвижо ной части в пределах +1 без разру.ения и пластической деформации шарниров. Расчетная нагруэочная способность подвижной части 10 кг, что обеспечивает многократный запас прочности. Габариты шарнирного устройства в горизонтальной плоскости 10 х 15 см, цена деления микрометрическ .:о винта

4,8/10 мкм, что соответствует эффективной длине рь-rara 60 см. При у — равлении шагов.-м двигателем ДШРР-А с редуктором 1/360 воспроизводимая (I точность установки угла 0,1 . Высота от опорной плоскости основания.25 до оси кристаллодержателя 23 (фиг.2) составляет 35 мм. Вес устройства в сбор.е 860 r..

Формула и зо бр ет ения, 1. Гониометрическое устройство для рентгенодифракционных исследований

3 3 3039 монокристаллов, состоящее из укрепленных на общем основании кристаллодержателя, упругого деформируемого шарнирного устройства прецизионного поворота кристаллодержателя вокруг вертикальной оси, имеюШего подвижную и неподвижную части, .средств прецизионного поворота, устройства юстировочного наклбна кристаллодержателя относительно горизонтальной оси, ук- 1О репленного на шарнирном устройстве, при этом кристйллодержатель укреплен на устройстве юстировочного наклона, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с

Целью расширения его функциональных возможностей при обеспечении точных перемещений исследуемых монокристаллов и уменьшения габаритов и веса, подвижная часть шарнирного устройства дополнительно соединена с неподвиж- 20 ной,. имеющей ось грубого поворота через промежуточное звено и угловой рычаг„ выпблнеиные в виде одной цельнаматалпической пластины, вместе с подвижной и непадвижной частями, под- 5 ,вижная часть имеет Г-образную форму и охватывает ось грубого поворота

f4 неподвижной части, устройство юстировочного наклона кристаллодержателя выполнено в виде двух пластин, соединенных двумя неподвйжными шарнирами и поджимаемых микрометрическим винтом, причем одной из пластин является подвижная часть шарнирного устройства, а другой — основание кристаллодержателя, кристаллодержатель закреплен на своем основании на оси грубого поворота неподвижной части шарнирного устройства, средство прецизионного поворота выполнено с возможностью воздействия на угловой рычаг упругодеформируемого шарнирного устройства.

2. Устройство по п.1, о т л ич а ю щ е е с я тем, что. средство прецизионного поворота выполнено в виде микрометрического винта, свяаанного гибким валом с шаговым двигателем.

3i Устройство по п.t, о т л ич а ю щ е е с я тем, что средство . прецизионного поворота выполнено в виде последовательно соединенных микрометрического винта и пьезокерамического столбика.

1303914

A-A

Составитель Е.Сидохин

Редактор А.Долинич Техред A. Кравчук Корректор E. Рошко

Заказ 1302/44 Тираж 777 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г.ужгород, ул.Проектная, 4

Гониометрическое устройство для рентгенодифракционных исследований монокристаллов Гониометрическое устройство для рентгенодифракционных исследований монокристаллов Гониометрическое устройство для рентгенодифракционных исследований монокристаллов Гониометрическое устройство для рентгенодифракционных исследований монокристаллов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к исследованию материалов с помощью дифракции рентгеновских лучей

Изобретение относится к устройствам , предназначенным для исследования структуры веществ в конденсированном состоянии с помощью дифракции медленных нейтронов

Изобретение относится к рентгенотехнике и может быть использовано для исследования кристаллической структуры и определения элементного состава материалов

Изобретение относится к области исследования материалов рентгенографическими методами и может быть использовано в физическом материаловедении при определении структурных характеристик вещества

Изобретение относится к приборостроению и может быть использовано при рентгеноструктурных исследойаниях материалов при высоких температурах и в научном приборостроении

Изобретение относится к области металловедения и физики металлов, в частности к определению характеристик деформируемости металлов

Изобретение относится к оборудованию для рентгеноструктурного анализа и может быть использовано, при калибровке и изготовлении ориентированного базового среза монокристаллических слитков

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контроле рельефа поверхности изделий высших классов шероховатости

Изобретение относится к аппаратуре , предназначенной для рентгеноспектрального и рентгеноструктурного анализа материалов

Изобретение относится к области медицины, а именно к гемостазиологическим аспектам акушерства и гинекологии, и может быть использовано врачами других специальностей

Изобретение относится к области ядерной энергетики для космических аппаратов и, в частности, к теневым радиационным защитам (РЗ), выполненным из гидрида лития, и касается технологии изготовления в части проведения контроля их геометрии, определяющей контур теневой защищаемой зоны, создаваемой защитой на космическом аппарате

Изобретение относится к технике рентгеноструктурного анализа и касается методов настройки и юстировки гониометрических устройств рентгеновских дифрактометров типа "ДРОН"

Изобретение относится к технологии анализа биологических материалов, а именно к способам определения фракционного состава (ФС) липопротеинов (ЛП) в плазме крови методом малоуглового рентгеновского рассеяния (МУРР) для последующей диагностики состояния организма человека

Изобретение относится к устройствам для рентгеновской типографии и может быть использовано для определения структуры сложного неоднородного объекта и идентификации веществ, его составляющих

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для оценки качества деталей при их изготовлении и ремонте, а конкретно - дефектоскопии с использованием радиоактивных источников ионизирующего излучения и коллимированных блоков детекторов
Наверх