Способ обнаружения скрытых дефектов в линейных интегральных схемах

 

Изобретение относится к контрольно-испытательной технике и может быть использовано при контроле скрытых дефектов многокаскадных линейных интегральных схем по импульсным шумам. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей . Способ предусматривает установку в многокаскадном усилителе единичного кoэффиII Ieнтa усиления при питании его постоянным током, регулировку силы тока до такой величины, при которой напряжение на выводах питания интегральной схемы соответствует минимальному значению, регистрацию параметров напряжения импульсного шума на вьшодах питания. Устройство, реализующее способ, содержит усилители и 3, ист чник 2 тока, измеритель 4 напряжения питания и генератор 5 импульсных шумов. Степень дефектности каскадов многокаскадного усилителя определяют по амплитуде, шумов, частоте их следования и длительности шумовых импульсов. В известных способах невозможно обнаружить скрытые дефекты по импульсным шумам в каскадах усилителя, т.к. их импульсные шумы маскируются шумами первого каскада. 3 ил. (О (Л

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (5D 4 G 01 R 31/28

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ ь

„ Л

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

Н АВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3958224/24-21 (22) 01.10.85 (46) 23.10,87. Бюл, ¹ 39 (72) А. И.Карпов, А.Г.Андрущенко, Ю.М.Макаров и В.Ю.Леонтьев (53) 621,382.822(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

¹ 367428, кл. G 06 I 15/46, 1970.

Валеев Э.Я., Лоесовский В.А.

О прогнозировании надежности полупроводниковых приборов по импульсным шумам, — Надежность и контроль качества, 1979, № 8, с.24-32. (54) СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ СКРЫТЫХ ДЕФЕКТОВ В ЛИНЕЙНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМАХ (57) Изобретение относится к контрольно-испытательной технике и может быть использовано при контроле скрытых дефектов многокаскадных линей— ных интегральных схем по импульсным шумам. Целью изобретения является расширение функциональных возможностей. Способ предусматривает установку в многокаскадном усилителе единичного коэффициента усиления IIpH питании его постоянным током, регулировку силы тока до такой величины, при которой напряжение на выводах питания интегральной схемы соответствует минимальному значению, регистрацию параметров напряжения импульсного шума на выводах питания, Устройство, реализующее способ, содержит усилители 1 и 3, ист чник 2 тока, измеритель 4 напряжения питания и генератор 5 импульсных шумов, Степень дефектности каскадов многокаскадного усилителя определяют по амппитуде шумов, частоте их следования и дли- тельности шумовых импульсов. В известных способах невозможно обнаружить скрытые дефекты по импульсным шумам в каскадах усилителя, т.к. их импульсные шумы маскируются шумами первого каскада. 3 ил, 134/050

Изобретение относится к контрольно-испытательной технике и может быть использовано при контроле скрытых дефектов многокаскадных линейных интегральных схем по импульсным шумам.

Цель изобретения — расширение функциональных возможностей, заключающееся в применении способа контроля скрытых дефектов по импульсным 10 шумам для многокаскадных усилителей.

Способ осуществляют следующим об-. разом.

Многокаскадному усилителю устанав- 15 ливают единичный коэффициент усиления, осуществляют питание его постоянным током, регулируют величину тока до такой величины, при которой напряжение на выводах питания интегральной 20 схемы соответствует номинальному зна чению, регистрируют параметры напряжения импульсного шума на выводах питания, судят о наличии скрытых дефектов и их степени по амплитуде, средней частоте следования и длительности напряжения импульсного шума.

На фиг.1 приведена схема устройства контроля многокаскадного усилителя по импульсным шумам, реализующе- З0 го предлагаемый способ; на фиг.2— схема соединения многокаскадных испытуемых усилителей для инвертирующего усилителя; на фиг,3 — то же, для неинвертирующего усилителя.

Устройство контроля многокаскадного усилителя по импульсным шумам содержит испытуемый усилитель 1, источник 2 тока, усилитель 3, измеритель 4 напряжения питания, регистратор 5 им- 40 пульсных шумов.

Выводы питания испытуемого усилителя 1 соединены с выходом источника 2 тока, измерителем 4 напряжения питания и входом усилителя 3 напря- 45 жения импульсных шумов, выход которого соединен с входом регистратора 5 импульсных шумов, Схема соединения многокаскадных испытуемых усилителей для инвертирую- 50 щего усилителя включает испытуемый усилитель 1, источник 2 тока, соединенный с клеммами питания испытуемого усилителя 1. Для установки режима единичного усиления выход испытуемого,—

55 усилителя соединен с его инвертирующим входом.

Схема соединения многокаскадных испытуемых усилителей для неинвертирующего усилителя, кроме элементов и связей, приведенных на схеме фиг.1, содержит вспомогательный инвертирующий усилитель 6, через который выход испытуемого неинвертирующего усилителя соединен с его входом (фиг.3).

Устройство работает следующим образом.

Испытуемый усилитель соединяют по схеме фиг.2 при наличии инвертирующего входа и по схеме фиг.3 при отсутствии такового для установки режи— ма единичного усиления, Устанавливают постоянный ток питания от источника 2 тока, контролируют напряжение питания испытуемого усилителя, равное номинальному. Благодаря единичному усилению шумы всех каскадов многокаскадного усилителя 1 суммируются на выходных клеммах питания многокаскадного усилителя 1, усиливаются усилителем 3. Регистрация импульсных шумов, превышающих другие шумы полупроводников на порядок, осуществляется регистратором 5 в качестве которого используется осциллограф. По амплитуде шумов, частоте их следования и длительности шумовых импульсов определяют степень дефектности каскадов многокаскадного усилителя, В известных способах невозможно обнаружить скрытые дефекты по импульсным шумам в каскадах усилителя 1 так как их импульсные шумы маскируются шумами первого каскада °

Формула изобретения

Способ обнаружения скрытых дефектов в линейных интегральных схемах, заключающийся в том, что в качестве информативнorо параметра принимают наличие импульсного шума, а по амплитуде, средней частоте следования и длительности напряжения импульсного шума определяют степень дефектности испытуемого прибора, о т л и ч а ю шийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей для многокаскадных интегральных схем, ус— танавливают единичный коэффициент усиления контролируемой интегральной схемы, осуществляют питание схемы постоянным током, величину которого регулируют так, чтобы напряжение на выводах питания интегральной схемы

1347050 соответствовало номинальному эначению, регистрируют импульсный шум на выводах питания контролируемой интегральной схемы.

Составитель В. Гусев

Техред А. Кравчук Корректор А.Тяско

Редактор И.Горная

Закаэ 5118/45

Тираж 729 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам иэобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д .4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г.Ужгород, ул.Проектная,4

Способ обнаружения скрытых дефектов в линейных интегральных схемах Способ обнаружения скрытых дефектов в линейных интегральных схемах Способ обнаружения скрытых дефектов в линейных интегральных схемах 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электронной технике

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для койтроля больших интегральных схем (БИС)

Изобретение относится к области вычислительной техники

Изобретение относится к области вычис-пительной техники и может быть использовано при разработке интегральных микросхем в качестве

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в системах контроля электрических параметров интегральных микросхем

Изобретение относится к технической диагностике

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано для выделения из партии интегральных схем (ИС) схемы повышенной надежности

Изобретение относится к области испытания объектов электронной техники, в частности предназначено для отбраковки образцов интегральных микросхем с аномально низкой радиационной стойкостью и надежностью

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в автоматизированных системах контроля больших интегральных схем (БИС)

Изобретение относится к контролю интегральных схем

Изобретение относится к цифровой вычислительной технике и может быть использовано при проектировании самоконтролируемых больших интегральных схем (БИС) для цифровых вычислительных машин и систем

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в автоматизированных устройствах контроля интегральных схем

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и позволяет расширить функциональные возможности устройства

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть применено для автоматизированного контроля интегральных схем

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано при контроле теплового сопротивления

Изобретение относится к области контроля изделий электронной техники
Наверх