Устройство параметрического контроля интегральных схем

 

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (51)4 С 01 R 31/28

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

H ABTOPGHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЬ1Й КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 4006065/24-21 (22) 06.01. 86 (46) 07.05.87. Бюл. № 17 (72) М.Б. Бейлинсон (53) 621.317.79(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

¹ 985755, кл. G 01 R 3 1/28, 1980.

Авторское свидетельство СССР № 694822, кл. G 01 R 31/28, 1976. (54) УСТРОЙСТВО ПАРАМЕТРИЧЕСКОГО

КОНТРОЛЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ (57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цель изобретения — упрощение устройства при контроле интегральных схем с большим количеством тестов. Устройство содержит источник 3 питания, цифровой измерительный прибор 4, элемент 5 сравнения, панель 6 коммутации. Элемент 10 задержки необходим для исключения влияния переходных процессов на измерения, возникающие прй подключении к контактирующему блоку 2 °

При включении питающих напряжений регистром 12 параметров запаздывание процесса осуществляется элементом 11 задержки, что необходимо для исключения коротких замыканий. Постоянно запоминающий блок 17 неменяющихся в процессе измерения сигналов подключает эти сигналы через коммутационную матрицу 1 при условии, когда придет первый импульс от формирователя 8 и регистр 12 параметров будет в состоянии, отличном от нулевого.

Кроме того, в устройство введены формирователи 7 и 9, сдвигающий регистр

13 тестов, элемент И 14, постоянно запоминающие блоки 15 и 16 параметров и тестов параметров. Устройство легко перестраивается с одного типа интегральной схемы на другой посредством замены одной печатной платы постоянно запоминающего блока. 1 ил.

1 13089

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для параметрического контроля интегральных схем.

Цель изобретения — упрощение уст5 ройства при контроле интегральных схем с большим количеством тестов, На чертеже изображена структурная схема предлагаемого устройства, Устройство содержит коммутацион- fQ ную матрицу 1, у которой первые вход и выход соединены с контактирующим блоком 2 проверяемой интегральной схемы. Второй выход коммутационной матрицы 1 соединен с выходом програм- 15 мируемого источника 3 питания, а информационный вход цифрового измерительного прибора 4 соединен с третьим выходом коммутационной матрицы 1.

Информационный выход цифрового при в 20 бора 4 в двоично-десятичном коде соединен с. первым входом элемента 5 сравнения. Второй вход последнего соединен с выходом панели 6 коммута3 ции, которая определяет допустимые значения проверяемого параметра. Выход конца измерения прибора соединен с первыми входами формирователей

7-9. Выходы формирователей 7 и 8 соединены соответственно с входами эле- 30 ментов 10 и 11 задержки, которые представляют собой два последователь.но включенных одновибратора. Выход элемента 10 задержки соединен с вхо,цом внешнего запуска цифрового прибора 4, а выход элемента 11 задержки — с тактовым входом сдвигающего регистра 12 параметров. Выход формирователя 9 соединен с тактовым входом сдвигающего регистра 13 тес- 40 тов и первым входом элемента И 14, второй вход которого соединен с выходом регистра 12 параметров. Выход нулевого состояния сдвигающего регистра 13 соединен с запрещающим входом регистра 12. Выходы последнего соединены с вхсдом постоянного запоминающего блока (ПЗУ) 15 параметров. также соединены выход ПЗУ 15 параметров и выход ПЗУ 16 тестов параметров, соединенные соответственно с третьимм и четвертым входами матрицы 1. Для управления программируемым источником 3 питания его вход соединен с выходом ПЗУ 15 параметров, Выход формирователя 18 "Пуск" соединен с выходом конца измерения прибора

Устройство работает следующим образом.

При запуске устройства на выходе формирователя 18 "Пуск" и формирователей 7-9 формируются одиночные импульсы. Импульсом от формирователя

7 запускается цифровой измерительный прибор 4 через элемент 10 задержки.

Последний необходим для того, чтобы исключить влияние переходных процессов на измерения, возникающих при подключении к блоку 2, измерительных сигналов. Импульсы формирователей 8 и 9 запускают соответственно регистры параметров 12 и тестов 13 из исходноro (нулевого) состояния в первое положение, причем регистр, работающий с ПЗУ 16, переключается только в том случае, если приходит "Разрешение" с ПЗУ 15 параметров. Разрешение приходит-только в случае, если в первом параметре есть измерительные тесты.

Элемент 11 задержки необходим для того, чтобы при включении питающих напряжений, которые включаются регистром 12 параметров, включение их происходило с запаздыванием, чтобы дать время на отключение напряжения предыдущего теста, так как в IlpoTHBHoM случае могут быть короткие замыкания.

ПЗУ 17 не изменяющихся в процессе измерении сигналов подключает эти сигналы через коммутационную матрицу

1 при условии, когда приходит первый импульс от формирователя 8 и регистр

12 параметров находится в состоянии, отличном от нулевого.

Выходы регистра 13 тестов, соединены с входом ПЗУ 16 тестов параметров. Выход ПЗУ 15 параметров соединен с входом "Сброс" регистра 13 тестов. Вход ПЗУ 17 не меняющихся в процессе измерения сигналов соединен с выходом элемента И 14, а выход ПЗУ 17 — с вторым входом коммутационной матрицы 1. С последней

При измерении какого-либо теста измеряемая величина в аналоговой форме с коммутационной матрицы 1 поступает на вхоц цифрового измерительного прибора 4 и в цифровом коде поступает на элемент 5 сравнения.

Требуемая величина уставки для кон-— кретного параметра задается панелью

6 коммутации допустимых значений проверяемого параметра. Управление

1308

956

ВНИИПИ Заказ 1795/38

Тираж 731 Подписное

Произв.-полигр. пр-тие, r. Ужгород, ул . Проектная, 4 переключением уставок, а также управление программируемым источником 3 питания производится от ПЗУ 15 параметров. Подключение требуемых сигналов на каждом тесте к изменяемой интегральной cxer.е производится коммутационной матрицей 1, управление которой осуществляется ПЗУ 15-17.

Для обеспечения режима "кольца" используется импульс Конец измере- !0 ния цифрового измерительного прибора. Этим импульсом запускаются формирователи 7-9 при последующих (после первого) тестах. В случае сигнала "Bpax", снимаемого с элемен- 15 та 5 сравнения, на формирователи 7-9 приходит нЗапрет и цикл измерения на этом тесте остановлен.

Устройство параметрического контроля легко перестраивается с одного 29 типа ИС на другой посредством замены одной печатной платы ПЗУ, не требует математического обеспе: ения, имеет высокое быстродействие и точность измерения и малые габариты, что р5 позволяет использовать его как в серийном производстве, так и при периодических испытаниях со стационарными камерами тепла, барокамерами или для измерения параметров в процессе элек- ц тротермотренировки.

Формула и з обретения

Устройство параметрического конт- .35 роля интегральных схем, содержащее элемент сравнения, панель коммутации, коммутационную матрицу, контактирующий блок исследуемой микросхемы, .элемент И, программируемый источник 1п питания, цифровой измерительный прибор и формирователь "Пуск", причем первые вход и выход коммутационнои матрицы соединены соответственно с выходом и входом контактирующего бло-ц ка исследуемой микросхемы, второй вход — с выходом программируемого источника питания, второй выход — с измерительным входом цифрового измерительного прибора, информационный выход которого соединен с первым

4 входом элемента сравнения, второй вход которого соединен с выходом панели коммутации, о т л и ч а ю щ ее с. я тем, что, с целью упрощения устройства при контроле интегральных схем с больним количеством тестов, в него введены первый, второй и третий формирователи, первый и второй элементы задержки, сдвигающие регистры тестов и параметров, элемент

И, постоянный запоминающий блок параметрог,,постоянный запоминающий блок тестов параметра и постоянный запоминающий блок не меняющихся в процессе измерения сигналов, выход элемента И через постоянный запоминающий блок не меняющихся в процессе измерения сигналов соединен с третьим входом коммутационной матрицы, выход сдвигающего регистра тестов через постоянный запоминающий блок тестов параметра соединен с четвертым входом коммутационной матрицы, а информационный выход постоянного запоминающего блока параметров соединен с пятым входом коммутационной матрицы, выход формирователя Пуск" соединен с первыми входамп первого, второго и третьего формирователей и выходом цифрового измерительного прибора, вход запуска которого через первый элемент задержки соединен с выходом первого формироватсля, выход второго формирователя через второй элемент задержки соединен с тактовым входом сдвигающего регистра параметров, первый выход которого соединен с первым входом элемента И, второй вход которого соединен с выходом третьего формирователя и тактовым входом сдвигающего регистра тестов, вход сброса которого соединен с первым выходом постоянного запоминающего блока параметров, второй выход которого соединен с входом программируемого источника питания третий выход с Вхо дом панели коммутации, вход — с вторым выходом сдвигающего регистра параметров, а выход элемента сравнения соединен с вторыми входами первого, второго и третьего формироватепей.