Способ контроля кривизны асферической поверхности

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля кривизны и прямолинейности образукщей асферической поверхности. Целью изобретения является повьшение информативности путем обеспечения контроля прямолинейности образующей цилиндрической поверхности . При контроле приводят контролируемую деталь 2 в оптический.контакт с пробным стеклом 1 и наблюдают интерференционную картину мезэду ними, по которой судят о кривизне контролируемой поверхности. Затем обкатывают деталь 2 по пробному стеклу 1 и с помощью регистрирующего прибора 5 фиксируют все интерференционные картины по линиям 3,4 и т.д. с шагом квантования по углу, равному if , по которым судят о прямолинейности образующих -цилиндрической поверхности детали 2„ 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

ÄÄSUÄÄ 1397723 А1 (59 4 Г 01 В 11/24

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А BTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ (21) 4165436/25-28 (22) 22. 12.86 (46) 23.05.88. Бюл. Ф 19 (75) С.Г. (оролев и В.Н. Сенаторов (53) 5, 1,71,7(088.8) (56) Авторск ое свидетельство СССР

1;7789 „ „G 01 В 11 /24, 1961. «i54) СПОСОБ КОНТРОПЯ КРИВИЗНЫ АСФЕ-

РИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля кривизны и прямолинейности образующей асферической поверхности. Целыми изобретения является повышение информативности путем обеспечения контроля прямолинейности образующей цилиндрической поверхности. При контроле приводят контролируемую деталь 2 в оптический. контакт с пробным стеклом 1 и наблюдают интерференционную картину между ними, по которой судят о кривизне контролируемой поверхности. Затем обкатывают деталь 2 по пробному стеклу 1 и с помощью регистрирующего прибора

5 фиксируют все интерференционные картины по линиям 3,4 и т,д. с нагом квантования по углу, равному ср по которым судят о прямолинейности образующих цилиндрической поверхности детали 2. 3 ил.

13ЯП3

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля кривизны и прямолинейности образующей асферической поверхности.

Цель изобретения — повышение информативности путем обеспечения контроля прямолинейности образующей цилиндрической поверхности. 10

На фиг. 1 показана схема контактирования проверяемой асферической поверхности с эталонным пробным стеклом на фиг. 2 — схема контроля асферической поверхности на фиг. 3— наблюдаемая интерференционная картина.

Схема контроля содержит высокоточное плоскопараллельное эталонное пробное стекло 1, проверяемую цилиндрическую деталь 2, оптически койтактирующую со стеклом 1 по линиям 3 и 4 и так дальше в процессе обкатывания по стеклу 1, и регистрирующий пРибор 5.

Способ осуществляют следующим об- 25 разом.

Приводят контролируемую деталь 2 в оптический контакт с пробным стеклом 1 и наблюдают интерференционную картину между ними, по которой судят о кривизне контролируемой поверхности.

Затем обкатывают контролируемую цилиндрическую поверхность детали 2 по пробному стеклу 1, сохраняя оптический контакт вдоль образующей цилинд35 рической поверхности. При оЬкатке на угол (p линия контакта перемещается из положения 3 в положение 4, т.е. на расстояние К с, где  — радиус кривизны детали 2. При обкатке наблюдают или с помощью регистрирующего прибора 5 фиксируют все интерференционные картины, возникающие при обкатке детали 2 по стеклу 1, и получают интегральную интерференционную картину всей цилиндрической поверхности, т.е. аттестат этой поверхности, по которому судят о прямолинейности образующих цилиндрической поверхности детали 2 с шагом квантования по углу, равному с . В качестве пробного стекла 1 может быть использовано стекло с = 330-460 нм, а в качестве регистрирующего прибора 5 фоторегистратор с полевой диафрагмой в виде узкой щели, перемещающейся пропорционально углу с .

Формула изобретения

Способ контроля кривизны ьсферич7ской поверхности, заключающимися в том, что приводят контролируемук деталь в оптический контакт с пробнь:.м стеклом и наблюдают интерференци энную картину между пробным стеклог и деталью, по которой судят о кривизне, о тл и ч а ю шийся т м, что, с целью повышения информативности путем обеспечения контроля также и прямолинейности образующе л цилиндрической поверхности, наблюдение интерференционной картины осуществляют в процессе оЬкатывания.контролируемой детали по .пробному стеклу.

13 П23

Составитель В.Харитонов

Техред А.Кравчук

Корректор Г.Решетник

Редактор И.Горная

Заказ 2261/38

Тираж 680

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам. изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб;, д. 4/5

Подписное

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4