Интерферометр для контроля формы плоской поверхности оптической детали

 

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля форьй плоской поверхности крупногабаритных оптических деталей. Цель изобретения - обеспечение контроля всей площади поверхности и повьшгение точности контроля за счет

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (50 4 G 01 В 11/24 9/02

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Г

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ll0 ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ

К А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4107549/24-28 (22) 30.06,86 (46) 23.01.88. Бюл. Р 3 (72) В.А.Горшков, О.Н.Фомин, Е.Г.Волков, Н.Г.Корнеев и А.А.Леонтьев (53) 531.715.1 (088.8) (56) Коломийцев Ю.В. Интерферометры. — М.: Машиностроение, 1976, с. 197-198.

„„SU„„ З68626 (54) ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ПЛОСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ ОПТИЧЕСКОЙ

ДЕТАЛИ (57) Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля формы плоской поверхности крупногабаритных оптических деталей.

Цель изобретения — обеспечение контроля всей плошади поверхности и повышение точности контроля за счет

1368 снижения погрешностей изготовления образцовой поверхности и воэможности контроля всей поверхности за один прием. Гиперболическая поверхность 4 преобразует сферический волновой фронт от точечного источника в плоский, распространяющийся в направлении нормалей к образцовой плоской поверхности 5, которая располагается при перемещении базировочного приспособления 7 в плоскости,пер- . пендикулярной направлению распространения излучения, над эталоном плоскости, выполненным в виде емкости 8

626 . с вязкой жидкостью 9. Интерферирующие волновые фронты проходят оптические элементы интерферометра в обратном направлении и поступают в.

/ регистратор 6 интерференционной картины. При фиксации баэировочного приспособления 7 в другом положении под образцовой поверхностью 5 располагается стол 10 с контролируемой деталью 11, а регистрируемая интерференционная картина содержит информацию о погрешностях оптической системы интерферометр — контролируемая поверхность. 1 ил.

Изобретение относится к измерительной технике, предназначено для контроля формы плоской поверхности крупногабаритных оптических деталей.

Целью изобретения является обеспечение контроля всей площади поверхности и повышение точности контроля за счет снижения погрешностей изготовления образцовой поверхности и воэможности контроля всей поверхности за один прием.

На чертеже представлена принципиальная схема интерферометра.

Интерферометр содержит корпус 1, установленный с возможностью юстировочных поворотов относительно направления распространения излучения, установленные в нем осветитель 2, выполненный в виде точечного источника

А монохроматического излучения, оптический элемент 3, выполненный в виде выпукло-плоской линзы с гиперболической поверхностью 4 и плоской образцовой поверхностью 5 и ориентированный так, что фокус F гиперболической поверхности 4 совмещен с точечным источником А, регистратор 6 интерференционной картины, оптически сопряженный с осветителем через образцовую поверхность 5, базировочное приспособление 7 с размещенными на нем эталоном плоскости, выполненным в виде емкости 8 с вязкой жидкостью 9, и столом 10, предназначенным для размещения детали 11 с конт ролируемой.поверхностью 12 и юстировки ее положения относительно образцовой поверхности 5, а базировочное приспособление 7 установлено в корпусе с возможностью перемещения в плоскости, перпендикулярной направлению распространения излучения, и фиксации в двух положениях, в одном из которых под образцовой поверхностью 5 расположен эталон плоскости, а в другом — стол 10.

Осветитель 2 образован лазером и расположенными последовательно по ходу его лучей телескопической системой, светоделителем и плоским зеркалом (поэицией не обозначены). Регистратор 6 выполнен в виде фотографического объектива и фотокамеры.

Юстировочные опоры 13 предназначены для поворота корпуса 1 относительно направления распространения излучения.

Деталь 11 размещена на столе 10

25 в оправе-спутнике 14, обеспечивающей ее разгрузку от влияния сил тяжести, а юстировочные опоры 15 позволяют осуществлять юстировку ее положения относительно образцовой поверхности

5 для получения интерференционной картины требуемого вида (ширина и направление интерференционных полос) °

Виброопоры 16 предназначены для виброизоляции емкости 8 с вязкой жидкостью 9. Р качестве вязкой жид1368626

55 кости 9 используется техническое масло типа турбинного, вазелинового, веретенного и т,п., свободная поверхность которого является эталонной плоской поверхностью 17.

Ориентация базировочного приспособления 7 в двух фиксированных положениях обеспечивается направляющими 18.

Интерферометр работает следующим образом.

Осветитель 2 формирует точечный источник A монохроматического излучения в фокусе F гиперболической поверхности 4 оптического элемента 3.

Гиперболическая поверхность 4 преобразует сферический волновой фронт от точечного источника А в плоский волновой фронт, распространяющийся в направлении нормалей к образцовой плоской поверхности 5. Образцовая поверхность 5 делит поступающий на нее волновой фронт на две части по амплитуде, одна из которых отражается от этой поверхности и представляет собой опорный волновой фронт, а вторая проходит ее и представляет собой рабочий волновой афронт.

Базировочное приспособление 7 ори- З0 ентируется в одном из фиксированных положений путем перемещения по направляющим 18, в котором под образцовой поверхностью 5 располагается эталон плоскости. 35

Рабочий волновой фронт отражается от эталонной плоской поверхности

17 и объединяется с опорным волновым фронтом на образцовой плоской поверхности 5 с образованием интер- 40 ференционной картины. Интерферирующие волновые фронты проходят оптические элементы интерферометра в обратном направлении и поступают в регистратор 6. 45

Настройка интерферометра на требуемый вид интерференционной картины (20-30 интерференционных полос) осуществляется наклонами корпуса 1 с помощью юстировочных опор 13 отно- 50 сительно горизонтальной плоскости или, что то же самое, относительно свободной поверхности вязкой жидкости 9 (эталонной плоской поверхности.

17).

Регистрируемая интерференционная картина содержит информацию о погрешностях оптической системы интерферометра.

Затем базировочное приспособление

7 ориентируется в другом фиксированном положении путем его перемещения по направляющим 18, в котором под образцовой поверхностью 5 располагается стол 10 с размещенной на нем деталью 11 в оправе-спутнике 14.

Рабочий волновой фронт отражается от контролируемой поверхности 12 и объединяется с опорным волновым фронтом на образцовой плоской поверхности 5 с образованием интерференционной картины. Интерферирующие волновые фронты проходят оптические элементы интерферометра в обратном направлении и поступают в регистратор 6.

Настройка интерферометра на требуемый вид интерференционной картины в этом случае осуществляется юстировкой детали 11 с контролируемой поверхностью 12 относительно образцовой поверхности 5 с помощью юстировочных опор 15 стола 10.

Регистрируемая в этом случае интерференционная картина содержит информацию о погрешностях оптической системы интерферометр — контролируемая поверхность.

Разность результатов математической обработки каждой из полученных интерференционных картин представляет собой информацию только о погрешностях формы контролируемой поверхности.

Формула изобретения

Интерферометр для контроля формы плоской поверхности оптической детали, содержащий корпус, установленные в нем осветитель, выполненный в виде точечного источника монохроматического излучения, и последовательно расположенные по ходу излучения оптический элемент с плоской образцовой поверхностью, стол для размещения детали и регистратор интерференционной картины, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью обеспечения контроля всей площади поверхности и повышения точности контроля, ан снабжен базировочным приспособлением, установленным в корпусе с возможностью перемещения в плоскости,перпендикулярной направлению распространения излучения, и фиксации в двух положениях, и установленным на нем эталоном плоскости, выполненным в ви-. де емкости с вязкой жидкостью, опти5 1368626

6 ческий элемент выполнен в виде вы- ком, стол размещен на баэировочном пукло-плоской линзы с гиперболичес- приспособлении, а корпус установлен кой поверхностью и ориентирован так, с возможностью поворота относительчто фокус гиперболической поверх- но направления распространения из-.

5 ности совмещен с точечным источни- лучения.

Составитель В.Климова

Редактор А.Шандор Техред Л.Олийнык Корректор Л.Патай

Заказ 273/38 Тираж 680 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, -Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Интерферометр для контроля формы плоской поверхности оптической детали Интерферометр для контроля формы плоской поверхности оптической детали Интерферометр для контроля формы плоской поверхности оптической детали Интерферометр для контроля формы плоской поверхности оптической детали 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано в газои гидродинамике , теплофизике, теплотехнике, акуртике, интерференционной спектроскопии

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для использования в оптическом производстве при контроле формы вогнутых оптических асферических поверхностей , например главных зеркал телескопов

Изобретение относится к интерференционным измерениям на основе голографии и предназначено для исследования фазовых прозрачньпс и отражающих объектов: плазмы, зеркал, объектов аэродинамических и аэробалластических исследований и т.д

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения поля отклонений от плоскостности поверхности твердого тела и микрогеометрии поверхности

Изобретение относится к голографии и предназначено для синтеза длинных голографических дифракционных решеток

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля формы конических оптических поверхностей

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано при проведении исследований интерферометрическими методами

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано преимущественно при изготовлении и аттестации высокоточных крупногабаритных плоских зеркал для измерения их радиусов кривизны

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для использования в оптическом производстве при контроле формы вогнутых оптических асферических поверхностей , например главных зеркал телескопов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения поля отклонений от плоскостности поверхности твердого тела и микрогеометрии поверхности

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля формы конических оптических поверхностей

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для измерения геометрических параметров зеркальных оптических элементов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля размеров и формы глубоких отверстий малого диаметра, тонких нитей, шариков малого диаметра

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано , в частности, для контроля формы сферических оптических поверхностей

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам определения геометрических параметров объектов и оптическим устройствам для осуществления этих способов
Наверх