Устройство для контроля полупроводниковой памяти

 

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для контроля полупроводниковой памяти. Целью изобретения является повышение достоверности контроля. Устройство содержит блок синхронизации, блок управления , блок задания тестов, первый и второй счетчики адреса, первый и второй коммутаторы , формирователь тестовых сигналов , блок сопряжения, формирователь удвоенного цикла, формирователи данных и кода операции, блок сравнения. Повышение достоверности контроля достигается за счет исключения останова по неверному адресу при контроле памяти, время цикла которой меньше времени задержки в блоке сравнения . 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК 5И4 б !1 С 29/00

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А BTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4099494/24-24 (22) 28.07.86 (46) 15.06.88. Бюл. № 22 (72) Ю. Г. Бостанджян, В. И. Лешукович, А. Д. Шац и Ю. В. Анохин (53) 681.327.6(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР № 1051586, кл. G 11 С 29/00, 1982.

Авторское свидетельство СССР № 1051585, -кл. G 11 С 29/00, 1982. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ ПАМЯТИ (57) Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть исÄÄSUÄÄ 1403097 А 1 пользовано для контроля полупроводниковой памяти. Целью изобретения является повышение достоверности контроля. Устройство содержит блок синхронизации, блок управления, блок задания тестов, первый и второй счетчики адреса, первый и второй коммутаторы, формирователь тестовых сигналов, блок сопряжения, формирователь удвоенного цикла, формирователи данных и кода операции, блок сравнения. Повышение достоверности контроля достигается за счет исключения останова по неверному адресу при контроле памяти, время цикла которой меньше времени задержки в блоке сравнения. 3 ил.

1403097

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для контроля полупроводниковой памяти.

Целью изобретения является повышение достоверности контроля.

На фиг. 1 представлена структурная схема устройства для контроля полупроводниковой памяти; на фиг. 2 — схема формирователя удвоенного цикла; на фиг. 3 — схема блока управления.

Устройство (фиг. 1) содержит блок синхронизации 1, блок 2 управления, блок 3 задания тестов, первый счетчик 4 адреса„ первый коммутатор 5, второй счетчик 6 адреса, формирователь 7 тестовых сигналов, блок 8 сопряжения, формирователь 9 удвоенного цикла, формирователь данных 10, формирователь кода операции 11, блок 12 сравнения, второй коммутатор 13. На фиг. 1 также показаны контролируемый блок 14 полупроводниковой памяти, выходы 15 — 20 блока управления 2, входы 21, 22 и выход

23 формирователя удвоенного цикла 9, выходы 24 блока 8 сопряжения. Формирователь 9 удвоенного цикла (фиг. 2) содержит триггер 25 и элемент И 26.

Блок 2 управления (фиг. 3) содержит переключатели 27 — 32, выходы подвижных контактов которых являются выходами 15—

20 блока 2 управления. Вход 33 предназначен для подключения к уровню «1».

Устройство работает следующим образом.

Г1ри включении питания устанавливают( ся в исходное нулевое соетояние счетчики 4 и 6, блок 3 задания тестов, формирователь

7 тестовых сигналов, блок 12 сравнения и триггер 25 (на инверсном выходе устанавливается уровень «1») блока 2 управления. По выходу 15 блока 2 устанавливается: частота обращения к проверяемому блоку 14 памяти, по выходу 17 и 18 — объем проверяемого устройства, по выходу 19, 20 — режим проверки.

По сигналу «Пуск» с выхода 16 блока 2 управления включается блок синхронизации 1, по выходу которого поступает счетный сигнал с периодом равным циклу обращения.

Проверяемый полупроводниковый блок памяти 14 может быть выполнен на микросхемах памяти различной емкости. В связи с этим адрес блока памяти 14 формируется двумя счетчиками: 4, формирующим адрес микросхем, и 6, определяющим номер микросхемы. Причем разрядность счетчика 4 определяется максимальной емкостью микросхем памяти, а счетчика 6 — емкостью проверяемой памяти. Счетчик 4 изменяет свое состояние по счетному сигналу, поступающему с выхода 23 формирователя 9 удвоенного цикла, от нулевого до максимального, вырабатывая при этом сигналы пере5

55 носа, соответствующие емкости применяемых в блоке 14 микросхем памяти.

Управление счетчиком 6 осуществляется через коммутатор 13, на информационные входы которого поступают сигналы переносов с выходов счетчика 4, а на управляющий вход — сигналы с выхода блока 8 сопряжения, которые разрешают передачу сигнала переноса на выход коммутатора 13.

По выходам 17, 18 блока 2 управления задается объем проверяемой памяти путем исключения части разрядов счетчика 6.

При исключении из счетного режима всех разрядов счетчика б обращение осуществляется к одной микросхеме памяти, определяемой состоянием выходов 17, 18 блока 2.

По четвертому и пятому входам задается режим работы счетчика 6 в зависимости от формируемого теста.

При заполнении счетчика 6 вырабатывается сигнал переноса, который поступает на четвертый вход блока 3 задания тестов, где участвует в формировании сигнала «Конец проверки».

По выходу 19 блока 2 задается необходимый набор тестов для проверки блока 14.

Сигнал с четвертого выхода блока задания тестов, поступая на вход формирователя тестовых сигналов 7 и управляющие входы формирователей 10, 11, разрешает формирование тестовых последовательностей выбранного теста. По сигналу «Конец теста», поступающему с выхода формирователя тестовых сигналов 7, блок 3 задания тестов разрешает формирование следующего выбранного теста. Сигнал с пятого выхода блока 3 задания тестов блокирует прохождение счетного сигнала на входе счетчика 4 и обращение к блоку памяти 14 на входе блока 8 сопряжения на время поиска очередного выбранного теста.

Выполнение каждого теста начинается с записи в память фоновой информации. Для этого по сигналу «Конец теста» блок 3 задания тестов разрешает запись фона. Сигнал переноса на пятом входе блока 3 переводит последний в состояние, соответствующее разрешению выполнения собственно тестовой программы.

На управляющие входы коммутатора 5 поступают сигналы с выхода формирователя тестовых сигналов 7, причем в зависимости от алгоритма выполняемого теста проходит прямой или инверсный адрес, поступающий на информационные входы коммутатора 5 с первого выхода счетчика 4, либо фоновый или тестовый адрес, поступающий на входы коммутатора 5 с выхода формирователя тестовых сигналов 7.

В зависимости от алгоритма выполнения теста с выхода формирователя тестовых сигналов 7 поступает сигнал, блокирующий счетный сигнал в счетчике 4. На информа1403097

Форму га изобретения

55 ционные входы формирователей 10 и 11 поступают с выхода формирователя тестовых сигналов 7 код операции и информационное слово. Сигналы с выходов формирователей

10 и 11 счетчика 6 и коммутатора 5 через блок сопряжения 8 поступают на проверяемый блок памяти !4.

В блоке 12 выполняется сравнение считанной из блока памяти 14 информации с контрольной.

Тесты для проверки полупроводниковой памяти эффективны при максимальном быстродействии.

Задержка сравнения в блоке 12 может привести к останову устройства по неправильному адресу. Для расширения области применения устройства путем обеспечения контроля памятей как с высоким, так и с низким быстродействием введен формирователь

9 удвоенного цикла (см. фиг. 2).

При контроле памяти с временем цикла больше задержки сравнения в блоке 12 с помощью переключателя 32 блока 2 управления (см. фиг. 3) на установочном входе триггера 25 устанавливается уровень «О», что обеспечивает уровень «1» на инверсном выходе последнего. И на первом входе элемента И 26 такое состояние триггера 25 обеспечивает прохождение тактовых им пульсов, вырабатываемых блоком синхронизации 1, на выход 23 формирователя удвоенного цикла 9 и, следовательно, на вход счетчика 4.

В том случае, когда время цикла проверяемого блока памяти 14 меньше задержки сравнения в блоке 12, переключателем 32 блока 2 на входе 22 формирователя удвоенного цикла 9 устанавливается уровень «1».

Триггер 25 переходит в счетный режим и на выход 23 формирователя 9 проходит каждый второй тактовый импульс, обеспечивая неизменность адреса, информации и управляющих сигналов в двух смежных циклах обращения к памяти.

При этом блок синхронизации 1 посылает необходимые сигналы временной диаграммы в каждом цикле обращения, т.е. частота обращения к памяти остается неизменной.

При несравнении считанной из блока 14 памяти информации с контрольной блок 12 сравнения формирует сигнал ошибки, который появится на выходе блока 12 с учетом задержки, во втором из двух смежных циклов.

Так как в этом цикле адрес, информация и управляющие сигналы, подаваемые на блок 14 памяти, не изменяются по сравнению с первым циклом, останов устройства происходит по правильному адресу с ошибкой. На блоке сигнализации (не показан) высвечивается адрес ошибки, режим проверки и информационное слово, что позволяет определить характер ошибки.

Устройство для контроля полупроводниковой памяти, содержащее блок синхронизации, первый и второй выходы которого подключены к синхровходам соответственно блока сопряжения и блока задания тестов, входы признака окончания записи фона и признака конца теста соединены с одноименными выходами формировате гя тестовых сигналов, выходы данных и кода операции которого подключены к информационным входам соответственно формирователей данных и кода операции, управляющий вход которых подключен к выходу разрешения тестирования блока задания тестов и к одноименному входу формирователя тестовых сигналов, выходы управления адресом которого соединены с управляющими входами первого коммутатора, информационные входы которого подключены к одноименным выходам первого счетчика адреса и к адресным входам формирователя тестовых сигналов, выход блокировки счета и вход признака режима которого соединены соответственно с одноименным первым входом первого счетчика адреса и одноименным выходом блока задания тестов, выходы управления счетом которого подключены к одноименным входам второго счетчика адреса, синхровход которого соединен с выходом второго коммутатора, информационные и управляющие входы которого подключены соответственно к выходам переполнения первого счетчика адреса и к выходам задания емкости проверяемых микросхем памяти блока сопряжения, информационные входы первой группы которого соединены с выходами первого коммутатора, формирователей данных и кода операции и с информационными выходами второго счетчика адреса, выход переноса которого подключен к первому входу блокировки блока сопряжения и к входу признака окончания контроля блока задания тестов, выход признака паузы которого соединен с вторым входом блокировки счета первого счетчика адреса и с вторым входом блокировки блока сопряжения, выходы первой группы и информационные входы второй группы которого являются соответственно выходами адреса записываемых данных и управления и информационными входами устройства, выходы второй группы блока сопряжения подключены к входам первой группы блока сравнения, входы второй группы которого соединены с выходами формирователя данных, а выход подключен к третьему входу блокировки счета первого счетчика адреса и к входу признака сравнения блока задания тестов, входы выбора набора тестов которого соединены с одноименными выходами блока управления, выходы задания объема контро1403097 лируемой памяти которого подключены к установочным входам второго счетчика адреса, выход пуска и синхровыход блока управления соединены с одноименными входами блока синхронизации, отличающееся тем, что, с целью повышения достоверности контроля, в устройство введен формирователь удвоенного цикла, синхровход и выход которого подключены соответственно к второму синхровыходу блока синхронизации и синхровходу первого счетчика адреса, управляющий вход формирователя удвоенного цикла соединен с выходом управления длительностью цикла блока управления.

1403097 с;й Г

77

17

Составитель О. Исаев

Редактор О. Спесивых Техред И. Верес Корректор Л. Пилипенко

Заказ 2865/42 Тираж 590 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4