Устройство для контроля микрорельефа поверхностей

 

1. Устройство для контроля микрорельефа поверхностей, содержащее стойку, установленную на ней измерительную головку с механизмом ее ориентации, выполненную в виде волоконно-оптического преобразователя со световодом в виде коллектора, отличающееся тем, что, с целью расширения номенклатуры контролируемых изделий путем контроля протяженных фасонных отверстий, механизм ориентации выполнен в виде подвески с двумя колесами, двуплечего рычага, установленного шарнирно на стойке с возможностью качания в плоскости оси симметрии стойки и соединенного с ней одним плечом посредством упругой связи, а другое его плечо шарнирно закреплено на подвеске, при этом измерительная головка установлена на подвеске между осями вращения колес.

2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что, с целью повышения точности ориентации оси симметрии торца коллектора перпендикулярно контролируемой поверхности, оси вращения колес расположены на расстоянии, не превосходящем диаметр внешнего световода коллектора.

3. Устройство по п.1, отличающееся тем, что, с целью повышения точности контроля путем повышения устойчивости к повороту подвески, ось шарнира, соединяющего подвеску с двуплечим рычагом, расположена со смещением от линии центров вращения колес.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, а именно к средствам измерения координат криволинейных поверхностей крупногабаритных объектов в авиаи судостроении

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерений отклонений от прямолинейности

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения шероховатости и управления процессом обработки деталей

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для контроля твердости и шероховатости поверхности металлических изделий

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к машиностроению и может быть использовано для измерения круглости поверхностей детали непосредственно на металлорежущем станке

Изобретение относится к строительству и эксплуатации автомобильных дорог и предназначено для контроля несущей способности и ровности дорожных конструкций

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для оценки несущей способности поверхностных слоев изделий из различных материалов

Изобретение относится к технике контроля, в частности к устройствам контроля формы цилиндрических обечаек

Изобретение относится к измерениям точности формы поверхности, а именно к способам и устройствам для контроля отклонений от плоскостности

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения шероховатости поверхности в заводских условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для оценки микрогеометрии поверхности детали и абразивного инструмента

Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам переноса зондов в высоковакуумных комплексах между различными технологическими модулями с использованием сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ)

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим измерение в режиме непрерывного сканирования в условиях низких температур

Изобретение относится к области сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к устройствам, обеспечивающим наблюдение, измерение и модификацию поверхности объектов
Наверх