Способ фиксирования образцов при исследованиях в растровом электронном микроскопе

Авторы патента:

G01N23/225 - с использованием электронного или ионного микроскопа (трубки с электронным или ионным пучком для микроанализа H01J 37/00)

G01N1/36 - Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств (разделение материалов вообще B01D,B01J,B03,B07; аппараты, полностью охватываемые каким-либо подклассом, см. в соответствующем подклассе, например B01L; измерение или испытание с помощью ферментов или микроорганизмов C12M,C12Q; исследование грунта основания на стройплощадке E02D 1/00;мониторинговые или диагностические устройства для оборудования для обработки выхлопных газов F01N 11/00; определение изменений влажности при компенсационных измерениях других переменных величин или для коррекции показаний приборов при изменении влажности, см. G01D или соответствующий подкласс, относящийся к измеряемой величине; испытание

Изобретение позволяет снизить вероятность загрязнения исследуемой поверхности образца. Для этого слой клеевого состава высушивают после нанесения его на объектодержатель. Затем на высушенную поверхность устанавливают образец и парами растворителя размягчают клеевой состав.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

1 А1

ГО УДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПР ГКНТ СССР

Р .-.гь . !» .;:. " .»6; ",I

К ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21 (22 (46 (71 ни (72 (53 (56 ро ро кл сир по ско кд вер вер раз ва

"Су ним сос ив обр сло ное сле так дая обь раз

4446220/31-25

22.06.88

23.11.90, Бюл, ¹ 43

Коми научный центр Уральского отделеАН СССР

В.Н.Филиппов

620.187(088,8)

Гоулдстейн Дж. и др, Растровая электная микроскопия и рентгеновский микнализ. вЂ” М.; Мир, 1984, т,2, с. t72 вЂ” 173, Патент Великобритании N 2043006, Н 1D,1979, Изобретение относится к способам фиквания образцов при их исследовании с ощью растрового электронного микроа (РЭМ) путем приклеивания образцов ржателю образца.

Целью изобретения является снижение ятности загрязнения исследуемой поности образца, Способ осуществляется следующим обм, Поверхность обьектодержателя покрыровным слоем клея, например, марки ерцемент" необходимой толщины, прия во внимание плотность клея в сухом оянии и концентрацию при нанесении, сушивают. В случае больших размеров зца наносят необходимое количество в клея, достигая тем самым оптимальфиксирование образца в процессе поующих операций. На подготовленный м образом держатель образцов, наблюв оптический микроскоп. размещают кты исследования. Затемдержательобов с установленными объектами поме

Формула изобретения

Способ фиксирования образцов при исследованиях в растровом электронном микроскопе, заключающийся в нанесении на обьектодержател ь слоя вязкого клеевого состава и приклеивании образца, о тл и ч а ювЂ” щ и и с я тем, что, с целью снижения вероятности загрязнения исследуемой поверхности образца, после нанесения на обьектодержатель слоя вязкого клеевого состава последний высушивают до установки

1608531

Составитель B.Ðûáàëêî

Тех ред M.Ìîðãåíòàë Корректор Л,Бескид

Редактор И.Горная

Заказ 3611 Тираж 497 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r, Ужгород, ул.Гагарина, 101 на него образца, далее, разместив образец на сухом слое клеевого состава, осуществляют обработку в парах растворителя клеевого состава.

Способ фиксирования образцов при исследованиях в растровом электронном микроскопе

Изобретение относится к инструментальному анализу материалов и может быть использовано для дефектоскопии поверхностей полимерных неорганических, металлических материалов

Способ приготовления тест-объекта в виде штриховой меры для градуировки увеличения электронных микроскопов // 1597669

Изобретение относится к технологии приготовления тест-объектов в виде штриховой меры с дифракционных решеток (ДР) и может быть использовано для градуировки увеличения электронных микроскопов

Способ изготовления образца для исследования методом электронной микроскопии // 1589109

Изобретение относится к области исследования методом просвечивающей электронной микроскопии порошковых материалов, в частности к способу изготовления образца из порошковых материалов для исследований тонкой структуры и фазового состава

Способ исследования образца с трещиной из высоколегированной стали // 1566273

Изобретение относится к металлургии, в частности к методам анализа за состоянием вещества и материалов, к методам материаловедческих исследований конструкций и образцов после разрушения последних, и может быть использовано для определения температуры той зоны конструкции, в которой в момент разрушения распространялась магистральная трещина

Способ приготовления образцов порошкообразных объектов для исследования в просвечивающем электронном микроскопе // 1559263

Изобретение относится к электронной микроскопии, в частности к технике препаривания и приготовления образцов мелкодисперсных частиц

Устройство для формирования тестового изображения в растровом электронном микроскопе // 1527548

Изобретение относится к электронной микроскопии и может быть использовано для формирования тестового изображения в растровом электронном микроскопе

Способ рентгеноспектрального микроанализа состава вещества с ионным возбуждением // 1521035

Изобретение относится к рентгеновскому анализу состава вещества, особенно к микроанализу с возбуждением рентгеновского излучения определяемых элементов пучком ионов

Ионный микроанализатор // 1520414

Изобретение относится к устройствам для элементного и химического анализа состава твердых тел, в частности к ионным микрозондовым анализаторам, применяемым для измерения концентрационных профилей распределения примесей по глубине анализируемых образцов, а также для получения на экране электронно-лучевой трубки картины распределения различных элементов по поверхности образца

Способ электронно-зондового определения среднего диаметра микровключения в плоскости шлифа // 1518747

Изобретение относится к рентгеноспектральному анализу, особенно к определению среднего диаметра микровключения в плоскости шлифа

Способ приготовления образцов пленок, нанесенных на поверхность кремниевой подложки,для электронно- микроскопических исследований // 1465739

Изобретение относится к технике приготовления образцов тонких пленок для электронно-микроскопических исследований, в частности пленок, напыленных на кремниевую подложку

Способ определения температуры д.к.чернова // 1608468

Изобретение относится к области металлургии и может быть использовано при термической обработке сталей и сплавов

Реактив для выявления микроструктуры сварных соединений титановых сплавов // 1608467

Изобретение относится к реактивам для выявления микроструктуры сварных соединений титановых сплавов, преимущественно высоколегированных марганцем

Реактив для выявления микроструктуры сварных соединений титановых сплавов // 1608467

Способ подготовки литохимических проб к рентгенорадиометрическому анализу // 1608466

Изобретение относится к способам пробоподготовки

Пробоотборник газовых проб // 1608461

Изобретение относится к технике отбора газов из скважины при поисках полезных ископаемых

Способ определения загрязнения атмосферы и устройство для его осуществления // 1608460

Изобретение относится к геофизике и охране окружающей среды, и позволяет определить относительный вклад различных источников выбросов вредных газов в загрязнение атмосферы, снизить стоимость и трудоемкость

Газоаналитическая система // 1608459

Изобретение относится к аналитической технике и может быть использовано в автоматизированных системах измерения концентрации газов, в частности, при метрологических измерениях для аттестации поверочных газовых смесей

Ручной пробоотборник объемного типа для сыпучих продуктов // 1608458

Изобретение относится к технике отбора проб сыпучих продуктов, например зернистых материалов, и может быть использовано в пищевой, мукомольно-элеваторной и комбикормовой промышленности

Многоканальный анализатор // 1608457

Способ определения содержания газов в жидкости и устройство для его осуществления // 1608456

Изобретение относится к отбору газожидкостных проб и определению содержания растворенных газов в жидкости при глубинных исследованиях

Пробоотборник в.а.седунова // 2100793