Способ контроля кристаллизации кондитерскихмасс
22l3 4 5
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Соеетоиих
Соцналнотичеохи
Ресгтбднн сес- Кл. 42h, 21 53l, 13/01 Заявлено 16 11.1967 (Pk 1133247/28-13) с присоединением заявки № Приоритет Опубликовано 01.И1.1968. Бюллетень № 21 Дата опубликования описания 4.Х.1968 МПК G 02d А 23g УДК 535.511 664 149 (088.8) Комйтет по делам изобретений и OTKpbiTiiR при Солете Миниотрао СССР Авторы изобретения Ю. М. Айзинов, Л. П. Дмитриева, Г. P. Кокашинский, 3. Г. Климовцева и В. Н. Никифорова Московская кондитерская фабрика «Красный Октябрь» Заявитель СПОСОБ КОНТРОЛЯ КРИСТАЛЛИЗАЦИИ КОНДИТЕРСКИХ МАСС Предмет изобретения Известен способ контроля кристаллизации кондитерских масс, например ирисной, в процессе производства (а также готовых изделий) путем микроскопирования исследуемого образца в световом потоке. Для повышения точности контроля согласно предлагаемому способу микроскопирование осуществляют в проходящем через исследуемый образец поляризованном световом луче, измеряя при этом интенсивность светового потока в объективе микроскопа, величина которого прямо пропорциональна содержани о кристаллов в массе. Предлагаемый способ заключается в следующемм. По ходу технологического процесса отбирают пробу кондитерской массы, например ирисной. Определенное количество (15 — 20 иг) пробы помещают между двумя предварительно нагретыми до 100 С предметными стеклами. После этого стекло сдвигают относительно другого для получения на каждом стекле тонкого слоя (толщиной 25 — 50 мк) массы. Предметное стекло закрепляют на столике поляризационного микроскопа и определяют интенсивность светового потока, величина которого пропорциональна содержанию кристаллов сахарозы в массе. По предлагаемому способу можно также определять степень кристалличности готовых кондитерских изделий. Способ контроля кристаллизации кондитерских масс, например ирисной, в процессе производства путем микроскопирования исследуемого образца, от.шчающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, микроскопирование осуществляют в проходящем поляризованном световом луче с измерением 20 при этом интенсивности светового потока с последующим определением содержания кристаллов.
