Механизм для образования и разметки поверхностей второго порядка

 

OËЙСАН И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

24II8I

Ф 1 °

Goes Советскнв=

Социалистнческнл

Ресаублнк

Зависимое от авт. свидетельства ¹â€”

Заявлено 25 1Ъ,1967 (№ 1150404/25-28) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет

Опубликовано 01.IV.1969. Бюллетень № 13

Дата опубликования описания 12ХП1.1969

1хл. 47h, 2

47h, 24

МП1х Г 06h

Г 06h

УД1 621.836(088.8) Комитет ас делая изобретениИ н открытиЯ арн Совете Министров

СССР

Автор изобретения

А. А. Вольфсон

3 аявитель

МЕХАНИЗМ ДЛЯ ОБРАЗОВАНИЯ И РАЗМЕТКИ

ПОВЕРХНОСТЕЙ ВТОРОГО ПОРЯДКА

Известны механизмы для образования и разметки криволинейных поверхностей, содержащие рычажную систему, связанную с основанием и состоящую из опорной стойки, ведущего рычага, группы направляющих звеньев, двух поворотных рычагов, плоских и пространственных кинематических пар.

Предлагаемый механизм отличается от известных тем, что его основание выполнено в виде двух взаимно перпендикулярных направляющих, а опорная стойка связана с перемещающимся по ней ведущим рычагом. Последний передает движение с помощью группы направляющих звеньев двум поворотным рычагам, перекрестие которых описывает требуемую поверхность второго порядка.

На фиг. 1 изображено геометрическое построение точки, принадлежащей поверхности второго порядка; на фиг. 2 — описываемый механизм.

Механизм используется для построения поверхности второго порядка как геометрического места точек пространства, для которых отношение расстояния от данной точки к расстоянию до данной прямой имеет постоянное значение е. При различных е вид и размер поверхности меняются.

Так, при е (1 поверхность будет сжатым эллипсоидом вращения, при е ) 1 — однополостным гиперболоидом вращения, прп е = 1— параболическим цилиндром.

Для построения произвольной точки поверхностп (c»>. фиг. 1) расстояние АВ от точки В до прямой 00, делят точкой М в соотношении

BM е. Радиусом МВ описывают сферу с

АЛ1 центром в точке В, а затем строят цилиндр вращения с осью 00, и радиусом АМ.

10 Через точку А проводят произвольную прямую АС, а пз точки пересечения ее с цилиндром — прямую СД, параллельную АВ.

Если Д вЂ” точка встречи прямой СД со сферой, то продолжения радиуса ВД и прямой

15 1С пересекаются в точке Е, принадлежащей поверхности второго порядка. Через точку С проводят образующую цилиндра, а из точки Е опускают перпендикуляр ЕН на прямую 00,.

Если точка Е находится на поверхности вто20 рого порядка, должно выполняться соотношеЕа ВЛ1 ние = =e. Это равенство вытекает

EFI АЛ1 из рассмотрения двух пар подобных треугольников АЕВ, CED, и АЕН, CEG.

25 Описaííîå построение выполняется предложенным механизмом (фиг. 2).

Основание 1 механизма связано с рычажной системой, состоящей пз опорной стойки 2, веЗ0 дущего рычага 8, направляющих звеньев 4, 241181

3 двух поворотных рычагов 5 и б, плоских и пространственных кинем атических пар 7 — 11.

Основание 1 выполнено в виде двух взаимно перпендикулярных направляющих 12 и 18.

Опорная стойка 2 связана с перемещающимся по ней ведущим рычагом 8, передающим движение с помощью направляющих звеньев 4 поворотным рычагам 5 и б.

Работает механизм следующим образом.

На необходимом расстоянии от угла основания 1 устанавливают и закрепляют в направляющей 12 стойку 2. Затем это расстояние делят в заданном соотношении с помощью шкалы 14 и, измерив расстояния от точки деления до оси стойки 2 и центра пары 9, отмечают их на ведущем 8 и поворотном 6 рычагах.

При поступательном и вращательном перемещениях рычага 8 относительно стойки 2 ось его концевого шарнира описывает цилиндр вращения, а поворотный рычаг б — пучок прямых, пересекающих этот цилиндр. Поворотный рычаг б может вращаться в паре 9, тогда его любая точка описывает поверхность сферы, а перекрестие рычагов 5 и б — требуемую поверхность второго порядка.

Предмет изобретения

Механизм для образования и разметки поверхностей второго порядка, содержащий рычажную систему, связанную с основанием и состоящую из опорной стойки, ведущего рыча1О га, группы направляющих звеньев, двух поворотных рычагов, плоских и пространственных кинематических пар, отличающийся, тем, что с целью образования и разметки поверхностей второго порядка, основание выполнено в ви15 де двух взаимно перпендикулярных направляющих, а опорная стойка связана с перемещающимся по ней ведущим рычагом, передающим движение с помощью группы направляющих звеньев двум поворотным рычагам, рас2О положенным в пространстве таким образом, что их перекрестие описывает требуемую поверхность второго порядка.

241181

/2

Составитель Г. Ф. Корчагина

Редактор Т. 3. Орловская Техред Л. К, Малова Корректор Л. Г. Корогод

Заказ 1852/18 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2

Механизм для образования и разметки поверхностей второго порядка Механизм для образования и разметки поверхностей второго порядка Механизм для образования и разметки поверхностей второго порядка 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к классу лазерных проекционных систем

Изобретение относится к устройствам для клеймения деталей методом выдавливания и может быть использовано в автомобильной промышленности

Изобретение относится к вспомогательному оборудованию для маркировки крупногабаритных изделий

Изобретение относится к маркировочным устройствам и может быть применено в машиностроении для маркировки плоских деталей из тонколистового материала

Изобретение относится к классу лазерных проекционных систем и может быть использовано в радиоэлектронике, медицине и ювелирной промышленности в устройствах для нанесения микроизображений на изделиях, изготовленных из металлов, хорошо отражающих свет, например, серебра, золота

Изобретение относится к маркировочным устройствам и может быть применено в машиностроении для маркировки деталей, а также в других отраслях промышленности для маркировки и дыропробивки деталей из тонколистового материала

Изобретение относится к холодной обработке металлов, в частности к устройствам ударного действия

Изобретение относится к машиностроению, к механическим устройствам для маркировки плоских деталей
Наверх