Устройство для контроля толщины пленок

 

CGf03 Ссеетских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 30.1.1969 (№ 1300257/25-28) с приссединенпем заявки ¹â€”

Приоритет—

Опубликовано ОЗ.Х11.1970. Бюллетень № 3G

Дата опубликования описания 5.IV.1971

Кл. 42Ь, 11

Комитет по делам иеобретений и открытий при Сосете Министров

СССР

МПК 6 01Ь 11/06

УДК 531.717.1:531.715.2 (088.8}

Авторы изобретения

В, Г. Астахов, И. H. Мойленко, Ф. Т. Хомякова, А, И. Чеканов и В. Н. Осинкин

Лыткаринский завод оптического стекла

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТОЛ ЩИ Н Ъ| ПЛ ЕНО 1

Известно устройстВО для контроля тол!ци11ы пленок, содержащее источник света, монохроматор, оптическую систему, направляющую световой поток на входную щель монохроматора, модуляционный диск для поочередного пропускания выходящих из монохроматора пучков света, фотоприемник H измерительныЙ IlpHoop.

Предлагаемое устройство отличается тем, что

olio снаб ке 1о 11BQMH бипризмами, расположенными в ходе световых лучей, одна нз кото"ых — светоделительная — после выходной

1цс/!и монохроматора, а другая перед фотоприс.пгиком, и цилиндрической линзой, располо кенной B ходе световых лучей между светоделительной призмой и диском. 3TQ поВышает точность контроля.

На чертеже изображена схема предлагаемо.о устройства.

GHo содержит источник света 1, монохроматор 2, оптическую систему 8, направляющую световой поток па входную щель монохроматора, модулиционный диск 4 для поочередного пропуска 115 выходящих из монохроматора пучков света, фотоприемник о и измерительный прибор 6. Устройство также снабжено двумя бипризмамп 7 и 8, из которых первая — светоделительная расположена после выходной щели монохроматора, а Вторая — перед фотоприемником, и цили дрической линзой 9, расположе.iaoll в ходе световь1х лучеп между свеT0 P:lHTe:lbH0É IIpIi34fOff 7 Ii QHCIioli.

Световой поток от источи ка света, пройдя через контролируемую пленку 10, IгапраВляется

5 оптической системой на входную щель 11 мо-! юхроматора. Бипризма 7 разделяет вышедшей :3 ВыходнОЙ щелп 12 ыонохроматор2 спектP2,1bÍÛH ИНТЕРВЯ;1 П;1 Два УЗКИХ Х!ОНОХРОХ12ТНчсских пучка с ве:ьма малой разностью дл1ш

10 Во,l /.! H /.2, симметрllчно распо,-ожеEIIIblx GTHQсllтс,jbHo коптролируемой волны /. Эти два

;1".1ка фокусируются линзой на отверстие модуляционного диска. Затем пучки сводятся бипрпзмОЙ 8 В ОднО место фотоприех!ника. В IlcliH

15 фотоприемника Возникают ДВЯ электрпчсскпх спгнала с разностью 2мп, lитуд, Ilpoiiop !if!Ollaльпон разности ппопмскноп пеленки 10 для дух

::;Оlюхроматичсских пучкоВ с /.! и /.

1.еобходих;ые Bc,a :, :IHb! Снгна 10B pci,fcTpll20 ру10тся измерите:!bi!bill прибором. Ho Hoi,aaaИ!!ЯМ КОТОРСГО И СУД: Т 0 ТОЛЬЦН11Е li;iBHiil!.

Предмет изобрстенп

Устройство для контроля толщины плс ок, 25 содержащее источник света, монохроматор, опТИЧССКУЮ C ICTCÌ, НЯПРЯВЛЯЮЩ О СЬСTOBoil ПОток на Входну 1О me, Ib foHoxpoifaTO!pa, i:o,"/, IHционнып:, !ск для поочередного прот, скгп::1я выходящ1гх нз мопохроматора пучков света, 30 фотоприемник н измерительный iiplláop, o." .HI288307

Составитель Лобзова

Редактор T. Гаврикова

Текред Л. Я. Левина Корректор Т. А. Джаманкулова

Заказ 3251)4 Тираж 480 Подписное

ЦН11ИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министроз СССР

Москва, К-35, Раушская наб., д, 4/5

Центральная типография МО чаюцеесл тем, что, с целью повышения точности контроля, опо снабжено двумя бипризмами, расположенными в ходе световых лучей, одна из которых — светоделительная — после выходной щели монохроматора, а другая — перед фотоприемником, и цилиндрической линзой, расположенной в ходе световых лучей между светоделительной призмой и диском.

Устройство для контроля толщины пленок Устройство для контроля толщины пленок 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения толщины и показателя преломления прозрачных слоев

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматического измерения толщины прозрачных материалов, например листового стекла, в непрерывном производственном процессе

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к оптическим интерферометрам, и может быть использовано для непрерывного бесконтактного измерения геометрической толщины прозрачных и непрозрачных объектов, например листовых материалов (металлопроката, полимерных пленок), деталей сложной формы из мягких материалов, не допускающих контактных измерений (например, поршневых вкладышей для двигателей внутреннего сгорания), эталонных пластин и подложек в оптической и полупроводниковой промышленности и т.д

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщин слоев прозрачных жидкостей и может быть использован для бесконтактного определения толщин слоев прозрачных жидкостей в лакокрасочной, химической и электронной промышленности, а также в физических и химических приборах

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к интерференционным способам измерения оптической толщины плоскопараллельных объектов и слоев

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в черной и цветной металлургии для измерения толщины проката в условиях горячего производства без остановки технологического процесса

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины пленок, в частности в устройствах для измерения и контроля толщины пленок фоторезиста, наносимых на вращающуюся полупроводниковую подложку в процессе центрифугирования в операциях фотолитографии

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для неразрушающего контроля толщины и измерения разнотолщинности пленок, в частности в устройствах для нанесения фоторезиста в операциях фотолитографии

Изобретение относится к оптическим способам измерения толщины слоя прозрачной жидкости
Наверх