Способ измерения шероховатости поверхностиизделия

 

ОПИС

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

-" .к н. f-с.ок;,R

А-Й% вв

26I7O8

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 27.Х11.1965 (№ 1046928/25-28) с присоединением заявки №вЂ”

Приоритет

Опубликовано 13Л.1970. Бюллетень № 5

Дата опубликования описания 28Л .1970

Кл. 42b, 12/05

Комитет по делам изобретений и открытий пои Совете Министров

СССР

ЫПК G 01Ь

УДК 531.717.82(088.8) Авторы изобретения

Д. П, Татиев и Л. В. Пятигорская

Заявитель

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ

ИЗДЕЛ ИЯ

Предмет изобретения

Известны способы измерения шероховатости ,поверхности изделия с помощью профилометра, однако эти способы, громоздки и в производстве не применяются. Точность же измерения шероховатости поверхности известных способов невелика.

Предлагаемый способ лишен указанных недостатков и отличается тем, что с целью повышения точности измерения на исследуемую поверхность направляют пучок лучей света, угол падения которых близок к 45, а отраженный пучок лучей света преобразуют фотоэлементом в электрические сигналы, поступающие на микроамперметр, .по показаниям которого судят о шероховатости поверхности.

На чертеже изображена схема измерения шероховатости, поверхности.

На контролируемую поверхность 1 направляется пучок света от источника света 2 под углом, близким 45 . Отраженные от шероховатой поверхности лучи под углом, близким 45, попадают на фотоэлементы 8, фототок которых измеряется микроамперметром 4. Источник света установлен на стойке 5 с помощью скобы б и винта 7, а приемное устройство (фотоэлемент и микроамперметр) закреплено на стойке 8 с помощью скобы 9 и винта 10. Все устройство (оптическая система и приемное устройство) помещается в легкий разъемный корпус . 11. К основанию корпуса крепятся стойки 5, 8, там же имеется отверстие 12, а в верхней части этого корпуса — отверстие И для наблюдения за шкалой микроамперметра.

5 Чем больше шероховатость поверхности, тем больше рассеяние света и меньше освещенность фотоэлемента и отклонение стрелки микроамперметра. Шкала микроамперметра градуируется в микронах, соответствующих либс

10 средней высоте зерна, либо параметру КА по

ГОСТ 2789-59. В обоих случаях сначала шероховатость определяется по профилометру или ,профилографу, а затем данные наносятся на шкалу микроамперметра.

15 Устройство может быть установлено в любом месте исследуемой поверхности формной пластины (максимальный формат пластины .120) 120 сл) без повреждения ее поверхности для измерения шероховатости.

Способ измерения шероховатости поверхно25 сти изделия, например, микронеровностей гальваноотложений пластины для печатных, форм, с использованием из осветителя, фотоэлемента и микроамперметра, электрически связанного с фотоэлементом, отличающийся тем, что, с

Зп целью повышения точности измерения, на ис261708 з

9 73.72

Составитель Л. Кениг

Редактор Л. Г. Герасимова Техред Л. В. Куклина Корректор Н. С. Сударенкова

Заказ 4240/13 Тираж 500 Подписное

1ЛНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 следуемую поверхность направляют .пучок лучей света, угол падения которых близок к 45, а отраженный пучок лучей света преобразуют фотоэлементом в электрические сигналы, rio-. ступающие на микроамперметр, по показаниям которого судят о шероховатости.