Устройство для импулбсного фотол^тзл"ьиь:

 

О П И С А Н И Е 346595

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Сопиалистичесних

Республин

Зависимое от авт. свидетельства №

М. Кл. 6 Olj 3/42

Заявлено 20.IV.1970 (№ 1423256/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 28.Ч11.1972. Бюллетень № 23

Дата опубликования описания 21 VIII.1972

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 535.853:620.1(088.8) Лвторы изобретения

Б. Л. Борович, В. С. Зуев, В. Я. Карпов, H. И. Козлов, В. К. Орлов, Ю. Ю. Стойлов и А. A. Филюков

Институт прикладной математики AH СССР и Физический институт им. П. H. Лебедева

Заявители

1,....„-,- -:- --:1

}:. ; 1,, УСТРОЙСТВО ДЛЯ И1т1ПУЛЬСНОГО ФОТОЛв13й

Изобретение относится к области импульсного фотолиза и может быть использовано в технике фотодиссоционных и химических лазеров.

Известны установки для импульсного фотолиза, содержащие источники фотолизног0 и спектрального излучений, дстектор излучения и реакционную к}овсту.

В предлагаемом устройстве впервые используется явление подобия фотохимических процессов при отсутствии влияния вторичных реакций в исследованиях методом импульсного фотолиза. С целью обеспечения различия и изучения взаимного влияния первичных и вторичных фотохимических процессов при необходимых концентрациях рабочего вещества, степени неравновесности среды и непосредственного измерения про}ие>кутка времени от начала фотохимического процесса до момента включения вторичных реакций (премьерпериода); в устройстве применяется одна или несколько дополнительHûê реакционны.; кювет не равных по величине, но подобных по форме основной, размещенных с соблюдением условий геометрического подобия по отношению к источнику фотолизного и спектроскопического излучений и заполненных рабочим веществом при концентрациях обратно пропорциональных геометрическим размерам кювет, причем предусмотрены дополнительные детекторы излучения Во числу кювет. Форма кювет может быть произвольной (с соблюдением принципа подобия).

На фиг. 1 схематически изображено предлагаемоеое устройство.

Свет от источника 1 через линзу 2 попадает на реакционные кюветы 3 — 5, помещенные в коаксиальную импульсную фотолизнуюлампу б с рефлектором 7. Световой сигнал ре10 гистрирует фотоумножитель 8 после монохроматора 9.

На фиг, 2. Изображены результаты обработки осциллограмм для 3-х экспериментальных кювет в подобных условиях фотолиза.

Предмет изобретения

Устройство для импульсного фотолиза, содержащее реа ционную кювету, источники фотолизного н спектрального излучений и детек20 тор излучения, отличающееся, тем, чт з, с целью обеспечения возможности различения и изучения взаимного влияния первичных и вторичных фотохимических процессов при практически необходимых концентрациях ра25 бочего вещества, степени неравновесности среды и непосредственного измерения премьерпериода, опо содержит одну или несколько дополнительных реакционных кювет не равных по величине, но подобных по форме ос30 новной, размещенных с соблюдением условий

346595

Фиг 1

Ю (р сен) Фиг. 2

Составитель Э. Теннов

Редактор Н. Коляда

Техред Л. Богданова

Корректор Л. Бадылама

Заказ 2550, 14 Изд. Мв 1068 Тираж 406 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4(5

Типография, пр. Сапунова, 2 геометрического подобия по отношению к источникам излучений и заполненных рабочим веществом при концентрациях, обратно пропорциональных геометрическим размерам кю%>

Е о ф

Е а вет, причем введены дополнительные детекторы излучения по числу кювет, по различию показаний которых устанавливается момент включения вторичных реакций.

Устройство для импулбсного фотол^тзльиь: Устройство для импулбсного фотол^тзльиь: 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технической физике и предназначено для определения концентрации химических элементов при спектральных измерениях различных растворов

Изобретение относится к области исследований быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами, а именно к мгновенному определению спектров поглощения тонких переходных слоев путем регистрации характеристик возбуждаемых на поверхности образца поверхностных плазменных поляритонов (ППП), может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к исследованиям быстропротекающих процессов на поверхности металлов и полупроводников оптическими методами и может найти применение в спектрометрии окисных и адсорбционных слоев

Изобретение относится к спектроскопии

Изобретение относится к атомной спектроскопии

Изобретение относится к области измерительной техники
Наверх