Способ структурного анализа металлов

 

Союз Советских

Социалистимеских

Республик

ОПИСАНИЕ

ИЗОЫРЕтЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (11) 44I494 (61) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 27. 07. 72 (21) I8I635I/36-25 (51) М. Кл.

9 OIn 25/02

Государственный комитет

Совета Министров СССР оо делам изобретений и открытий с присоединением заявки (32) Приоритет

Опубликовано 30. 08. 74 Ьюллетень М 32

Дата опуоликования описания I5. I2. 74 (5З) УДК 620.I79.I3 (088.8> (72) Автор изобретения

Г. А. Мирлин

Завод-ВТУЗ при Московском автсмобильном заводе им. И.R.Ëèõà÷åâà (71) Заявитель (541 СПОСОБ СТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА МЕТАЛЛОВ

1 ,Изобретение относится к области структурного анализа металлов.

Известные способы . Изучения структуры металлов обладают недос- в таточной точностью и требуют значительного в1.емени для проведения анализа.

П редлагаемый способ позволяет устранить указанные недостатки >о благодаря тому,что нагрев образца осуществляют импульсами электрического тока.

Металлы,как известно, состоят из эеренЛаждое отдельное зерно обладает анизотропией, поэтому электрический ток проходит по металлу избирательно-по пути наименьшего сопротивления.

Распределение силовых линий тока зависит от физических свойств отдельных фаз.

П ри и овыше нн ом элект ричес ком сопротивлении какой-либо фазы создается неоднородное электрическое 25

2 йоле,так как силовые линии тока огибают фазу и сгущаются в смежных участках.П ри пониженном сопротивлении фазы силовые линии тока сгущаются в фазе.

Таким образом,при прохождении электрического тока металл нагревается джоулевым теплом избирательно соответственно распределению силовых линий тока.При длительном протекании тока тейло в металле перераспределяется и температура выравнивается за счет теплопроводности,а при кратковременном прохождений тока создается локальный на грев, который может быть зафиксирован,йричем общий нагрев объекта может почти не происходить.учитывая это,целесообразно производить жесткий режим нагрева когда т1рименяется кратковременный ток повышенной силы или серия последовательных кратковременных импульсов тока большой силы.

Э ь. акой режим па).рева позволя.» ет создавать локальный нагрев учао-

ТН03 микроструктуры джоулевым T8G= лои и наблюдать распределение тепла в металлеЛутем фотографирования сигнал03 инфракрасногО излучения с поверхности объекта с помощью телевизионного и фотографичес= ких устройств можно зафиксировать на снимке микро- или .макростроение: металл .Фотографирование может осущестзлятьщ е помощью фото- или кинокамеры. Применение киносъемки позволяет наблюдать кинетику распространения тепла в микроучастках

Объекта и cGGT38TGT3 1Ioùö8 структурные изменения, вызванные нагревом.

На Объекте уча.тки структуры с наибольшим электрическим cGDp0 тивлением нагреваются проходящим током до большей величины,поэтому вследствие большей интенсйвности инфракрасного излучения при чернобелом изображении на термографическом иэображении зти участки более светлыеЛаким образом,при чернобелом изображении по степени почернения участков можно оценивать фи3M98cRM8 свойства 00ъекта.IIPM Цветном изображении могут быть выявле-: ны изотермы на Объекте и IIG различ=

4 ному цвет -локальное распределение температуры на участках поверхности объекта. Полученное фотоизображение может быть затем увеличено обычными фотоспособами до необходимой величины кратно по отношению к объекту.

Электрический ток может быть подведен к объекту двумя электродар .ми,расположенными на некотором расстоянии один от другого со стороны излучаемой поверхности. Благодаря одностороннему подводу тока он проходит только в поверхностном слое, д что уменьшает общий нагрев объекта.

При исследованиях устанавливают оптимальную величину тока и его длительность, обеспечивающую лишь локальный нагрев участков структу- и ры.

П РЕДЕЕТ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Способ структурного анализа металлов, заключающийся в нагреве образца электрическим током и регистрации распределения температуры по образцу,о т л и ч а ю щ и йс я тем,что,с целью повышения точности и зкспрессности анализа,назо грев образца осуществляют импульсами электрического тока. з„„;,. Я/ / и. j62. и- »..!

111И1111И 1 осударственно о комитета Совета Министров СССР но делам и:обретений н открытий

Москва, 113015, Раушская наб., 4

Тнражбб J

11редириятис «11атеит», Москва, Г-59, Бережковская иаб., 24

Составитель С, Б8ЛОВОДЧЕНКО

Редаксор Я -Qp3L098 Текрен K8QBE+RLIIGBB Корректор N.ЯЗХМ67ЬРЬ3.

Способ структурного анализа металлов Способ структурного анализа металлов 

 

Похожие патенты:

Вптб // 394709

Изобретение относится к области исследования свойств и контроля качества полимеров в отраслях промышленности, производящей и использующей полимерные материалы

Изобретение относится к области аналитической химии, а именно к определению содержания углерода и фтора во фторграфитовой матрице C2FX (1,0X0,5), соединения включения которой могут быть использованы в качестве фторирующего агента /1/, катализатора при синтезе фторпроизводных углеводородов /2/, а также датчиков стандартных газовых смесей при решении экологических задач /3/

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для изучения продолжительности фазового перехода при нагружениях различной интенсивности

Изобретение относится к диетологии, геронтологии, гериатрии

Изобретение относится к техническим средствам для анализа веществ

Изобретение относится к способу определения качества болотных железных руд (БЖР), предназначенных для получения железооксидных пигментов, по данным термического анализа

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике технологических процессов производства изделий микроэлектроники, в частности для фотолитографического получения элементов структур субмикронных размеров на полупроводниковых и других подложках

Изобретение относится к термохимическим измерениям

Изобретение относится к физико-химическому анализу и может быть использовано для экспресс-анализа при производстве сплавов, в металлургии, электрохимии и т

Изобретение относится к испытательной технике
Наверх