Устройство для определения интегральной оптической плотности субмикроскопических объектов

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

<»>483727

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Зависимое от авт. свидетельства— (22) Заявлено 04.01.74 (21) 198358326-25 (51) М. Кл. Н 01) 37/26 с присоединением заявки— (32) Приоритет—

Опубликовано 05.09.75. Бюллетень № 33

Дата опубликования описания 31.03.76

Государственный комитет

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УД К 621.385.833 (088.8) (72) Авторы изобретения

Д. А. Козлов, Л. Л. Литинская и Ю. Р. Хруст (71) Заявитель Московский ордена Ленина и ордена Трудового Красного

Знамени государственный университет им. М. В. Ломоносова (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ

ИНТЕГРАЛЬНОЙ ОПТИЧЕСКОЙ ПЛОТНОСТИ

СУБМИКРОСКОПИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ

G-5 S„ln у dS„, 1 о

Изобретение относится к электронно-оптическим устройствам для определения интегральной оптической плотности субмикроскопических объектов, наблюдаемых в электронном микроскопе.

Известны устройства аналогичного назначения, содержащие комплекс аппаратуры, включая телевизионную систему, видеоусплительную и интегрирующую аппаратуру.

Недостатками таких устройств являются их сложность и высокая стоимость.

Цель изобретения — упрощение устройства, позволяющего измерять интегральную оптическую плотность объекта.

Эта цель достигается введением в вакуумный объем колонны электронного микроскопа дополнительного экрана, покрытого люминофором с логарифмической световой характеристикой, и установкой вне вакуумной системы электронного микроскопа на одной оптической оси последовательно друг за другом линзовой системы и фотоприемника.

На чертеже приведена принципиальная схема устройства для определения интегральной оптической плотности субмикроскопических объектов.

Устройство содержит покрытый люминофором стеклянный экран 1, находящийся внутри вакуумного объема колонны 2 электронного микроскопа, линзовую систему 8, передающую изображение с люминесцентHîãî экрана на регистрирующий фотоприемник 4.

Поток электронов, прошедший через объект, попадает на люминесцентный экран 1, находящийся внутри вакуумного ооъема колонны 2 электронного микроскопа в месте формирования электронного изображения объ екта. Преобразование интенсивности электронного пучка, падающего на люминесцснтный экран 2, в световой поток осуществляется нелинейно, в соответствии с логарифмической световой характеристикой выбранного люминофора и подчиняется закону ослабления Бугера — Бера. Световой поток ослабляется в каждой точке изображения по световой характеристике, аппроксимирующей логарифмическун кривую. Этим осуществляется операция логарифмирования в каждой точке изображения го объекта.

На основании закона Бугера — Бера можно записать, что общее количество фотометрируемого вещества в объекте пропорционально интегралу го площади объекта от логарифма отношения интенсивностей электронного пучка до и после поглощения в Жп у Еэ (!) О A. и В, к э

К h " lt где 5„—

lp—

In l Å, (!) — Bp, Предмет изобретения

Составитель Б. Калин

Текред Т. Миронова

Редактор Т. Орловская

Корректор В. Гутман

Заказ 170/342 11зд. . и 99 Тираж 833 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, Я-35, Раушскан наб, д. 4/о

Тип. Харьк. фнл. пред. «Патент» площадь диафрагмы; интенсивность электронного пучка до прохождения через объект; интенсивность электронного пучка в различных точках площади объекта после прохождения электронов через объект.

Подинтегральпую функцию можно выразить в виде:

) n — = 1п! — 1п/О, 1

lo так как lp — — const, то и Inlp=А,=сопз1.

В то же время известно, что где Е, (!) — интенсивность светового потока с люминесцентного экрана;

Во — некоторая постоянная величина.

Для перехода к световой характеристике фотоумножителя используется пропорциональная зависимость между Е, (!) и током в цепи нагрузки фотоумножителя l4,.

Функции Е, (I) и Iп делятся на коэффициент пропорциональности К, тогда: где А и  — новые константы.

Таким образом, количество вещества в объекте пропорционально разности двух измерений тока в цепи нагрузочного сопротивления фотоумножителя: первого — при проектировании на люминесцентный экран объ1О екта, окруженного диафрагмои, и второго— при проектировании фона, окруженного той же диафрагмой. Роль диафрагмы выполняет оправа люминесцентного экрана. Световой поток от экрана передается на фотоприемник линзовой системой.

Устройство для определения интегральной оптической плотности субмикроскопических объектов, содержащее электронный микроскоп и фотометрическую приставку, отличающееся тем, что, с целью ускорения процесса измерения и упрощения устройства, в колонну электронного микроскопа в плоскости изображения объекта введен дополнительный стеклянный экран, покрытый люминофором, а за ш|м на одной оптической оси расположены по ходу прохождения светового потока собирательная линза и фотоприемник.

Устройство для определения интегральной оптической плотности субмикроскопических объектов Устройство для определения интегральной оптической плотности субмикроскопических объектов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, к устройствам, обеспечивающим транспортировку и установку зондов и образцов в позиции измерения и функционального воздействия

Изобретение относится к ядерной технике, в частности к исследованию материалов, подвергающихся воздействию радиации

Изобретение относится к способам получения изображений в растровой электронной микроскопии

Изобретение относится к сканирующей туннельной спектроскопии и может быть использовано в зондовых микроскопах и приборах на их основе

Изобретение относится к области научного приборостроения и может быть использовано при выпуске просвечивающих электронных микроскопов

Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию и предназначено для замкнутого цикла производства новых изделий наноэлектроники

Изобретение относится к микробиологии и может применяться при профилактике инфекционных болезней

Изобретение относится к вакуумной технике и предназначено для проведения операций по перемещению объектов внутри вакуумных систем
Наверх