Устройство для аттестации штриховых мер

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

kii1 505005

Со)сз Соввтокнх

Ганналнстнческнх

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 04.10.74 (21) 2071119/18-10 с присоединением заявки № (51) М Кч 2 G 02В 27/32

Совета Министров СССР по делам н обретенкй н открытий

Опубликовано 28.02.76. Бюллетень № 8

Дата опубликования описания 26.04,76 (53) УДК 531.713(088.8) (72) Авторы изобретения

А. А. Данилов и А. А. Мутовкин

Северо-Западный заочный политехнический институт (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ АТТЕСТАЦИИ ШТРИХОВЫХ МЕР

Государственный комитет (23) Приоритет

Изобретение относится к области приборостроения, а именно к устройствам для аттестации штриховых мер длины.

Известны устройства для аттестации мер длины (штриховых), содержащие регистрирующую систему с фотоприемниками и эталонный элемент, служащий для компарации.

Цель изобретения — упрощение конструкции устройства, повышение его точности и создание возможности аттестации штриховых мер в процессе нарезания их на делительной машине.

Это достигается тем, что эталонный элемент

BbIIIoJIkIpFl в виде диафрагмы с двумя щелями, расстояние между которыми равно единице масштаба нарезаемой штриховой меры, а два фотоприемника регистрирующей системы установлены напротив щелей диафрагмы для регистрации положения дифракционных минимумов от щели и аттестуемого штриха.

На чертеже представлена принципиальная схема предлагаемого устройства.

Устройство для аттестации штриховой меры

1 содержит источник 2 монохроматического света (лазера), оптическую систему 3. В непосредственной близости от нарезаемой меры

1 параллельно ее плоскости расположена образцовая диафрагма 4, имеющая две щели 5, расстояние между которыми выдержано строго в соответствии с масштабом нарезаемой меры и равно шагу подачи стола делительной

5 машины. За щелями 5 диафрагмы 4 установлены два фотоприемника 6 с частотным выходом, что обеспечивается использованием лампового мультивибратора с положительным смещением на сетке (на чертеже не показан).

10 Перед фотоприемниками размещены диафрагмы 7, обеспечивающие прохождение на катод (не показан) фотоприемника светового потока в зоне первого минимума дифракционной картины. Обработка сигнала с фотоприемников 6

15 происходит в дифференциальном усилителе 8 и частотомере 9.

Штриховая мера 1 перемещается вместе со столом (не показан) делительной машины при нарезании очередного штриха, освещается ис20 точником 2 монохроматического света. Луч лазера расширяется и коллимируется оптической системой 3. Далее фотоприемники 6 регистрируют манимумы дифракционной картины от щели 5 и аттестуемого штриха 10.

25 Сигналы с фотоприемников поступают на усилитель 8 и далее на частотомер 9. Таким образом, симметричное расположение штрихов меры относительно центра диафрагмы 4 и, 505005

4 формула изобретения

Составитель В. Ванторин

Текред М, Семенов

Корректор Л. Орлова

Редактор И. Грузова

Заказ 831/17 Изд. № 1155 Тираж 654 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 кроме того, относительно центра прорезей диафрагмы соответствует номинальному размеру между штрихами, т. е. погрешность аттестованных штрихов равна О. В этом случае сигнал на выходе системы также равен нулю.

Любое смещение штриха меры в прорези диафрагмы 4 вызывает изменение дифракционной картины в плоскости диафрагмы 7, т. е. смещение порядков дифракционной картины. Это обусловливает появление на выходе системы сигнала, пропорционального данному смещению. При этом погрешность из-за нестабильности подачи стола делительной машины не влияет на точность аттестации, поскольку регистрирующая система дифференцирует смещение каждого штриха относительно своей прорези, выдавая на выход дифференциальный сигнал.

Устройство для аттестации штриховых мер, содержащее регистрирующую систему с фо5 топриемниками и эталонный элемент, служащий для компарации, отличающееся тем, что, с целью упрощения конструкции устройства, повышения его точности и создания возможности аттестации штриховых мер в про10 цессе нарезания их на делительной машине, эталонный элемент выполнен в виде диафрагмы с двумя щелями, расстояние между которыми равно единице масштаба нарезаемой штриховой меры, а два фотоприемника регист15 рирующей системы установлены напротив щелей диафрагмы для регистрации положения дифракционных минимумов от щели и аттестуемого штриха.

Устройство для аттестации штриховых мер Устройство для аттестации штриховых мер 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптическому приборостроению

Изобретение относится к области метрологии и может быть использовано для аттестации штриховых мер линейных и радиальных дифракционных решеток

Изобретение относится к устройствам для градуировки фотометрических шкал оптических приборов
Наверх