Устройство для исследования температурных характеристик моментных датчиков

 

О П И С А Н И Е 1!!! 528467

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз Советскик

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ф

"=Ъ

1 . с 1 с (б1) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 03.04.75 (21) 21207361 10 (51 ) М. Кл."- 6 01L 3, 00

= присоединcHIIåì заяьки Л!

Государственный комитет

Совета Министров СССР (23) Приор пет

Опубликовано 15.09.76. Бюллетень ¹ 34

Дата опубликования описания 22.09.7б (53) УДК 531.781(088.8) по делам изобретений и открытий (72) Авторы изобретения

А. Я. Шенфельд, H. А. Ьезрядин и А. H. Нечаев

Ленинградский завод «Госметр» (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ТЕМПЕРАТУРНЫХ

ХАРАКТЕРИСТИК MOMEHTHbIX ДАТЧИКОВ

Изобретение относит я к области силоизмерительной техники.

Известны устроиства для измерения моментов, содержащие корпус, подвижную часть, установленн) ю в подвесе, нуль-инд»c2rop поло>кения подвижнои части и компенсатор j2J.

Известные устройства не обеспечивают трсОу емои тОчнОсти при исследов2ниях х2рак еристик моментных датчиков.

Кроме того, известны устройства для исследования температурных характеристик моментных датчиков, содержащие корпус, подвижную часть, установленную в подвесе и снабженную посадочным местом для испытуемого моментного датчика, нуль-индикатор углового положения подвижнои части и магнитоэлектрический компенсатор момента 11).

Они также не ооеспечивают требуемой точности, С целью повышения точности предлагаемое устройство снабжено моментным датчиком, установленным на подвижной части и включенным встречно с испытуемым датчиком, и термостатом с системами регулирования температуры в рабочей камере, внутри которой установлен испытуемый датчик и теплоэкранирования, а также тем, что система теплоэкранирования выполнена в виде управляемого охладителя и теплового экрана, которые установлены между термостатом и подвижной частью.

h2 чертеже представлена схема устройства.

ПодннжНая ".ñlÑÒB Ч) !ЗСТВНТСЛЬНОГО Э.IЕМСНТа, СодеpÆ2Hi,22 СТ2К2Н I, М2ГНIIТЫ 2 И ЗЕРКс1;10

3, подвешена lid растяжках 4, образующих ось !

) вствптельност1! О! — Оз.

l5 н!1жней части чувствительного элемента

) cT2HoB;IcHbI осНоВН0р посадо !Hop. ) стройстьо

О для ротора исследуемог0 мпкропреооразоВате 111 Π— I, его ст2тОр и ОснОВнои НООрдинат10 но-нзмсрительньш cio;1 8 c «OH)cow Э, с поЗIОЩЬЮ IiOTOPOI О ЗсlД21ОТСЯ ЛИНЕВНЫС И ) I ËÎвыс координаты микропреооразователя б — 7.

Ь верхней части чувствительного элсмеilT2 симметрично с посадочным ) cTpoHcTBQII 5

15 тановлены дополнительное посадочное устройство 10 для ротора съемного эталонного (опорного) микропреобразователя 11 — 12, его статор и дополнительный коордш1атно-измерительный стол 13 с конусом 14, с помощью по20 следнего задаются линейные и угловые координаты микропреобразоватсля 11 — 12, который выбирается аналогичным по типу исследуемому мпкропреобразователю б — 7.

Осноьное посадочное устройство 5 снабже25 но тепловым экраном 15 с воздушным лабиринтом 16, а также термокамерой 17 с системой регулирования температуры, содержащей датчик 18 температуры, усилитель 19, нагреватель 20, и блоком 21 охлаждения, например, 30 термоэлектрического типа, установленным между экраном 15 и термокамерo11 17, o28467

Влок 21 охлаждения снаожеп терморегуля opoEI 22 II гермоч> olIIII I ельными элементами 23 — 24, установ, енными волизи основного и дополнительного посадочного устроиства о и !О.

11а Icopllyce 25 3allpell. II II I лампочка 26, оптическая система 2!, диафрагма 28 и фотопреооразователя 29, образующие совместно с зерка.loll 3, приоором 30 и регулировочным резистором 3l, датчик некомпенсации. г1еподвижные «атушки 32, отсчетньш приоор 33, резистор 34 и источник питания 35 ооразуют совместно с разнополярными магнит»ми систему уравновешивания.

Источники питания 3b и 37 служат для подачи электрических сигналов в исследуемый и эталонный микропреобразователи b †(и 11—

i2 соответственно, 11рибор для измерения малых моментов работает следующим образом.

На посадочные устройства 5 и 10 и на конусы 9 и 14 координатно-измерительных столов 8 и 13 устанавливаются соответственно исследуемый и эталонный микропреобразователи b — 7 и 11 — 12, причем полярности крутящих моментов Л11 и и, создаваемых ими, относительно оси 01 — 0 выбираются встречными.

С помощью столов 8 и 13 и источников 36 и 37 задаются требуемые координаты микропреобразователеи 6, 7 и ll, 12, а также необходимые режимы питания.

Путем настройки резистора 31 корректируется исходное нулевое положение прибора 30.

Затем включается термокамера 17 и система регулирования температуры, и внутри термокамеры 17 создается требуемая температура, воздействующая на исследуемый микропреобразователь 6 — 7.

Вследствие нестабильности моментных характеристик микропреобразователя 6 — 7 возникает разбалансирующий момент, уводящий стакан 1 вместе с зеркалом 3 и изменяюгций показания прибора 30.

В катушки 32 через резистор 34 подается уравновешивающий ток от источника 35, отсчет которго производится по прибору 33.

Термочувствительные элементы 23 — 24 регистрируют разность температуры в нижней и верхней частях чувствительного элемента и управляют работой терморегулятора 22 и блока 21 охлаждения, поглощающего избыточное тепло, идущее от нагревателя 20.

Дополнительно тепловой экран 15 и воздушный лабиринт 16 создают преграду поступлению остаточной части тепла в корпус 25, где помещен и чувствительный элемент, увеличивая температурнуlo стабильность последнего.

Введение эталонного встречно включенного с испытуемым датчиком микропреобразователя

11 — 12 позволяет существенно повысить точность измерения нестабильности моментных

;> характеристик микропреобразователя 6 — 7 благодаря снижению влияния систематических погрешностей мнкродатчиков на результаты исследований.

i-1аличие непосредственно па столе 8 термокамеры 17, внутри которой помещен исследуемыи микропреобразователь 6 — 7, установленный соответственно на посадочном устройclue 5 и столе 8, позволяет исключить операцию съема и переустановки элементов 6 — 7 после нагрева во внешнем термостате, что также повышает точность измерения.

Наличие теплового экрана 15, воздушного лабиринта 16, термочувствительных элементов

23 — 4, терморегулятора 22 и блока охлаждения позволяет значительно снизить перепад температуры между верхней и нижней частями чувствительность элемента, автоматически скомпенсировать указанный перепад и тем самым повысить точность измерения нестабиль25 ности моментных характеристик микропреобразователя 6 — 7, Формула изобретения

1. Устройство для исследования температурных характеристик моментных датчиков, содержащее корпус, подвижную часть, установзб ленную в подвесе и снабженную посадочным местом 1JIH испытуемого моментного датчика, нуль-индикатор углового поло>кения подвижной части и магнитоэлектрический компенсатор момента, отличающееся тем, что, с

-40 целью повышения точности, оно снабжено моментным датчиком, установленным HB подвижной части и включенным встречно с испьп емым датчиком и термостатом с системамн регулирования температуры в рабочей ка-@ мере, внутри которой установлен испытуемый датчик и теплоэкранирования.

2. Устройство по п. 1, отл и ч ающееся тем, что система теплоэкранирования выполнена в виде управляемого охладителя и теплового экрана, которые установлены между термостатом и подвижной частью.

Источники информации, принятые во вниман |е при экспертизе.

1. Лвт. св. ¹ 449259, кл. G 011 3/14, 1973 r. (прототип) .

2, Лвт. св. ¹ 356494, кл. G 011 3!00, 1971 г, 528467 с л

Редактор Т. Янова

Корректор Е. Хмелева

Лакая 2009, 9 II ) !. ¹ 1604 Т.яраги 1029 По и: снос

I1I II II:I I I I Государственного комитета Сонета Минис ров СССР ио делам изооретспиЙ и и ° кпгятиЙ

113035, Москва, )К-35. Ра1 гиская над., д. -1 5

Типография, пр. Саи i иона, 2

7d

Составитель В. Моргунов

Техред А. Овчинникова