Способ измерения координаты зонызатвердения химических волокон

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советски»

Социалистических

Реслублик (»)Sl3214 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 05.01.78 (21) 2588387/28-12 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М.К .

G 01 N 25/02

Гоеударстееииый комитет

СССР по делам изобретеиий и открытий

Опубликовано 15.03.81. Бюллетень № 10

Дата опубликования описания 25.03,81 (53) УДК 677;051 (088. 8) (72) Автор изобретения

Б. В. Старостенко (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КООРДИНАТЫ ЗОНЫ

ЗАТВЕРДЕНИЯ ХИМИЧЕСКИХ ВОЛОКОН

Изобретение относится к средствам контроля параметров технологического режима формования химических нитей из расплава.

Известен способ определения координаты зоны затвердения, состоящий в том, что измеряют изменение диаметра волокна в направлении его по оси и по нему определяют координату зоны затвердения (1) .

Однако этот способ имеет низкую точность измерения.

Цель изобретения — повышение точности измерения.

Это достигается тем, что перпендикулярно оси волокна пропускают пучок света с плоскостью поляризации, ориентированной под углом в 45 к оси волокна, и,измеряют изменение разности фаз взаимно перпендикулярных составляющих света, по разности фаз и диаметру волокна определяют изменение двойного лучепреломления волокна, а координату зоны затвердения определяют в момент прекращения изменения двойного лучепреломления волокна.

В процессе формования на нить вдоль ее продольной оси действует вытягивающая сила, которая приводит к тому, что нить на участке от фильеры до зоны затвердева2 ния постепенн6 уменьшается в диаметре, и поскольку в этой зоне нить находится в жидком состоянии с изменяющейся вязкостью и температурой, макромолекулы ориентируются вдоль действия вытягивающей силы преимущественно в этой зоне.

Процесс кристаллизации происходит также преимущественно в зоне от фильеры до зоны затвердевания вследствие достаточной подвижности микромолекул.

Указанные процессы ведут к тому, что в промежутке от фильеры до зоны затвердевания двойное лучепреломление нитей увеличивается. В зоне затвердевания изменение диаметра и ориентационных процессов практически прекращается, так как в ней вязкость нити достигает своего предельного значения, и макромолекулы стабилизируются в ориентированном положении, поэтому определяя координату, прекращения изменения двойного лучепреломления нити, определяют координату точки затвердевания нити.

Двойное лучепреломление нити определяется по формуле. л

2 Ç (), 813214

Формула изобретения

ВНИИПИ Заказ 288/51 Тираж 907 Подписное

Филиал ППП «Патент», г. Ужгород, ул. Проектная, г где р — разность фаз;

Х вЂ” длин» волны света;

cL — днам тр нити.

Определение двойного лучепреломления нити сводится к измерению разности фаз и диаметра нити. Разность фаз определяется по сдвигу фаз взаимно перпендикулярных компонентов света при облучении нити монохроматическим поляризованным под углом 45 к оси нити пучком света. Разность фаз измеряется, например, методом Сенармона. Диаметр нити измеряется дифракционным методом.

Изменени диаметра нити прекрашается в точке затвердевания. Значение величины двойного луепреломления в зоне от фильеры до точки затвердевания достигает значения h.п = 0,01 — 0,1, а погрешность измерения составляет d a n = 0,0001. Следовательно, изменение величины двойного лучепреломления, измеряемого предлагаемым способом, составляет 2 — 3 порядка, т. е. метод позволяет обнаружить координату точки затвердевания вплоть до макроучастков волокна

На чертеже показано устройство, реализующее предлагаемый. способ.

Пучок 1 света от источника 2 пропускают через светофильтр 3, поляризатор 4, измеряемую нить 5, компенсатор б и фотоприемник 7. Плоскость поляризации ориентирована под углом 45 к продольной оси нити. С помошью компенсатора 6 и фотоприемника 7 определяют разность фаз света. прошедшего сквозь нить. Перемещая устройство вдоль оси нити от фильеры 8, определяют координату зоны затвердевания нити в момент прекращения изменения

5 разности фаз света, прошедшего сквозь нить. гo

Способ измерения координаты зоны затвердения химических волокон, состояший в том, что измеряют изменение диаметра волокна в направлении его оси и по нему определяют координату зоны затвердения, 15 отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, перпендикулярно оси волокна пропускают пучок света с плоскостью поляризации, ориентированной под углом в 45 к оси волокна, и измеряют изменение разности фаз взаимо перпендикуляргk>ix составляюгцих света, по разности фаз и диаметру волокна определяют изменение двойного лучепреломления волокна, а координат зоны затвердевания определяют в момент прекращения изменения двойного лучепреломления волокна.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

Хо 432373, кл. G О! N 25(02, 1975.

Способ измерения координаты зонызатвердения химических волокон Способ измерения координаты зонызатвердения химических волокон 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области исследования свойств и контроля качества полимеров в отраслях промышленности, производящей и использующей полимерные материалы

Изобретение относится к области аналитической химии, а именно к определению содержания углерода и фтора во фторграфитовой матрице C2FX (1,0X0,5), соединения включения которой могут быть использованы в качестве фторирующего агента /1/, катализатора при синтезе фторпроизводных углеводородов /2/, а также датчиков стандартных газовых смесей при решении экологических задач /3/

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для изучения продолжительности фазового перехода при нагружениях различной интенсивности

Изобретение относится к диетологии, геронтологии, гериатрии

Изобретение относится к техническим средствам для анализа веществ

Изобретение относится к способу определения качества болотных железных руд (БЖР), предназначенных для получения железооксидных пигментов, по данным термического анализа

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике технологических процессов производства изделий микроэлектроники, в частности для фотолитографического получения элементов структур субмикронных размеров на полупроводниковых и других подложках

Изобретение относится к термохимическим измерениям

Изобретение относится к физико-химическому анализу и может быть использовано для экспресс-анализа при производстве сплавов, в металлургии, электрохимии и т

Изобретение относится к испытательной технике
Наверх