Устройство для сортировки микросхем по электрическим параметрам

 

УСТРОЙСТВО ДЛЯ СОРТИРОВКИ МИКРОСХЕМ ПО ЭЛЕКТРИЧЕСКИМ ПАРАМЕТРАМ, содержащее питатель лоток, подпружиненный прижим, контактирующий узел с отсекателем, электрически связанный с измерительной систе15 мой, сортировочный механизм и привод, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности, оно имеет дополнительный контактирующий узел с отсекателем и два.приводных штыря-отсекателя, размещенных вдоль лотка между контактирующими узлами, при этом лоток выполнен наклонным и разрезным с образованием двух связанных между собой и приводом промежуточных участков, образующих сортировочный механизм, каждый из которых расположен следом за соответствующим контактирующим узлом. (Л со ; 05 to 05 Vui.l

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

3(5D В 07 С 508

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

H АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ЬКЬЯ v.-.

Риг. 1

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3498875/28-12 (22) 12.10.82 (46) 30.05.84. Бюл. № 20 (72) С. Е. Сергеев (53) 621.382 (088.8) (56) 1. Авторское свидетельство СССР № 828268, кл. Н 01 г 21/70, 1978. (54) (57) УСТРОЙСТВО ДЛЯ СОРТИРОВКИ МИКРОСХЕМ ПО ЭЛЕКТРИЧЕСКИМ ПАРАМЕТРАМ, содержащее питатель, лоток, подпружиненный прижим, контактирующий узел с отсекателем, электрически связанный с измерительной систе„„SU„„1094626 А мой, сортировочный механизм и привод, отличающееся тем, что, с целью повышения производительности, оно имеет дополнительный контактирующий узел с отсекателем и два приводных штыря-отсекателя, размещенных вдоль лотка между контактирующими узлами, при этом лоток выполнен наклонным и разрезным с образованием двух связанных между собой и приводом промежуточных участков, образующих сортировочный механизм, каждый из которых рас° положен следом за соответствующим контактирующим узлом.

1094626

Изобретение относится к контрольно-сортировочной технике и может быть использовано для сортировки по группам годности изделий электронной техники, например интегральных микросхем.

Известно устройство для сортировки микросхем по электрическим параметрам, содержащее питатель, лоток, подпружиненный прижим, контактирующий узел с отсекателем, электрически связанный с измерительной системой,, сортировочный механизм и привод (It.

Недостатком известного устройства является низкая производительноСть из-за больших потерь времени на вспомогательные операции.

Целью изобретения является повышение производительности.

Указанная цель достигается тем„что устройство для сортировки микросхем по электрическим параметрам, содержащее питатель, лоток, подпружиненный прижим, контактирующий узел с отсекателем, электрически связанный с измерительной системой, сортировочный механизм и привод, имеет дополнительный контактирующий узел с отсекателем и два приводных штыря-отсекателя, размещенных вдоль лотка между контактирующими узлами, при этом лоток выполнен наклонным и разрезным с образованием двух связанных между собой и приводом промежуточных участков, образующих сортировочный механизм, каждый из которых расположен следом за соответствующим контактирующим узлом.

На фиг. 1 изображено устройство для сортировки микроехем; на фиг. 2 — 14— лоток устройства в различные фазы его работы, разрез.

Устройство для сортировки микросхем по электрическим параметрам содержит питатель 1, наклонный лоток 2, два контактирующих узла, каждый из которых выполнен в виде двух подвижных колодок 3 и 4, 5 и 6 с контактами 7 и отсекателями 8 и 9, сортирующий механизм, выполненный в виде подвижных частей 10 и 11, которые жестко связаны между собой при помощи вилки

12, шарнирно установленной на оси 13, перемещающийся возвратно-поступательно перпендикулярно лотку 2 подпружиненный прижим 14, размещенный в подвижном корпусе 15, и два штыря-отсекателя 16 и 17, возвратно-поступательно перемещающиеся перпендикулярно лотку 2, привод и измерительную систему (не показаны). На лотке 2 размещены микросхемы 18 — 22, подлежащие сортировке.

Устройство для сортировки микросхем работает следующим образом. (Исходное положение механизмов устройства для сортировки показано на фиг. 2).

Поток микросхем из питателя 1 под действием собственного веса соскальзывает

Отсекатель 8 и прижим 14 совершают пос2р ледовательно возвратно-поступательные пе25

55 в лоток 2 и останавливается, когда микросхема 18 будет остановлена отсекателем 8 (фиг. 3). Затем включается привод устройства (не показан). Колодки 3 и 4 контактного узла, перемещаясь, сжимают микросхему 18, через контакты 7 подключая ее к измерительной системе (не показана), при этом осуществляется измерение электрических параметров микросхемы 18. После окончания измерения электрических параметров микросхемы 18 колодки 3 и 4 контактного узла возвращаются в исходное положение, отсекатель 8 и подпружиненный прижим 14 перемещаются вниз, при этом микросхема 18, если она годна, получает возмоЖность соскальзывать вниз по лотку

2 до штыря-отсекателя 16 (фиг. 4), после чего штырь-отсекатель 17, пропустив через себя микросхему 18, перемещается вверх, преграждая путь микросхемам по лотку 2. ремещения вверх-вниз-вверх, отделяя от всего потока изделий микросхему 19 с неизмеренцыми электрическими параметрами и сбрасывая ее на штырь-отсекатель 17, и дают возможность переместиться микросхеме 20 вниз до отсекателя 8 (фиг. 5).

Во время перемещений, совершаемых отсекателем 8, йрижимом 14 и штырямиотсекателями 16 и 17, колодки 5 и 6 контактного узла сближаются, совершая движение, аналогичное. движению колодок 3 и 4, но так как у отсекателя 9 при запуске устройства нет микросхемы, первый цикл измерения пропускается. После возврата колодок 5 и 6 контактного узла в исходное положение, колодки 3 и 4 контактного узла сжимают микросхему 20, подключая ее к измерительной системе и осуществляя измерение ее электрических параметров.

Во время измерения электрических параметров микросхемы 20 отсекатель 9 и штырьотсекатель 16 поочередно опускаются, при этом микросхема 18 получает возможность перемещаться далее по лотку 2 (фиг, 6) .

Пропустив микросхему 18 отсекатель 9 поднимается (штырь-отсекатель 16 остается пока в нижнем положении), а штырь-отсекатель 17 опускается, сбрасывая микросхему

19 на отсекатель 9 в зону колодок 5 и 6 контактного узла (фиг.,7), после чего штырь отсекатель 16 поднимается, преграждая путь микросхеме 20, которая находится под контактами 7 колодок 3 и 4 контактного узла (фиг. 8). С этого момента элементы устройства вновь занимают исходное положение, но на отсекателе 9 в зоне колодок 5 и 6 контактного узла находится микросхема

19 с неизмеренными электрическими парамет рами.

После окончания измерения электрических параметров микросхемы 20 и колодки

3 и 4 отходят от нее и отключают ее от

1094626 измерительной системы, а колодки 5 и 6 контактного узла сжимают микросхему 19, подключая ее к измерительной системе. Осуществляется измерение электрических параметров микросхемы 19.

Во время измерения электрических параметров микросхемы 19 отсекатель 8 и прижим 14 выполняют ранее описанные операции, т. е. сбрасывают микросхему 20, если она годная, на штырь-отсекатель 16 (фиг. 9), после подъема штыря-отсекателя 17 сбрасывают на штырь 17 микросхему 21 с неизмеренными параметрами, а затем дают переместиться вниз до отсекателя 8 микросхеме 22 со всем потоком микросхем, находяшихся на лотке. 15

После окончания измерения электрических параметров микросхемы 19 она отключается от измерительной системы, а подключается микросхема 22.

Во время измерения электрических параметров микросхемы 22 отсекатель 9 перемещается вниз, освобождая путь микросхеме

19, которая, если она годная, соскальзывает далее по лотку 2 (фиг. 11), после чего штырь-отсекатель 16 та кже опускается и микросхема 20 также соскальзывает дальше по лотку 2 (фиг. 12). Пропустив микросхему 20, отсекатель 9 поднимается, а штырьотсекатель 17 опускается, и микросхема 21 соскальзывает до отсекателя 9 (фиг. 13), после чего штырь-отсекатель 16 поднимается в верхнее положение (фиг. 14), и элементы устройства вновь занимают исходное положение и готовы к повторению следующего цикла работы.

Если при измерении электрических параметров оказывается, что микросхема, на-. ! ходящаяся под контактами 7 колодок 3 и 4 или 5 и 6 контактного узла, негодна (или не соответствует заданной группе), то перед тем как отсекатель 8 или 9 отпустят удерживаемую ими микросхему, от измерительной системы поступает сигнал на исполнительное устройство (не показано), которое поворачивает вилку 12. При этом подвижные части 10 и 11 лотка 2 поднимаются и микросхема, не соотвутствующая заданной группе, проваливается в образовавшийся проем в лотке 2.

1094626 фиг.9 и Ярфф фвв

Pg Elf,n 9 г

Составитель В. Аганин

Техред И. Верес Корректор И. Эрдейи

Тираж 589 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП «Патент», г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Редактор А. Шишкина

Заказ 3480/3

Рие.71

18 19 ф д gg g ф 21д е5

3 1Ю p 8

11 19 10 81 Щ Я 11

ЕЛ Е1

6F р с

Устройство для сортировки микросхем по электрическим параметрам Устройство для сортировки микросхем по электрическим параметрам Устройство для сортировки микросхем по электрическим параметрам Устройство для сортировки микросхем по электрическим параметрам 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля высоты и непараллельности поверхностей стыка относительно образующей наружной цилиндрической поверхности вкладыша подшипников

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в качестве измерительных устройств в станкостроительной промышленности и других отраслях народного хозяйства
Наверх