Изобретение относится к области электронной микроскопии и может быть использовано для исследования магнитных полей на магнитных лентах.Цель - расширение функциональных возможностей способа электронно-микроскопического анализа намагниченности магнитной ленты за счет визуализации изображения магнитной сигналограммы, записанной на магнитной ленте. Способ пояснен чертежом. Для достижения цели перегибают образец магнитной ленты 3 по строке записи, а электронный пучок (ЭП) 1 проходит в электронном микроскопе 2 перпендикулярно краю перегиба , при этом часть ЭП 1, попадая на экран 4 изображения, пересекает силовые линии поля рассеяния сигналограммы , которое отклоняет электроны от первоначального направления, и на экране.4 формируется электронное изображение края перегиба магнитной ленты 3, деформированное в результ ате взаимодействия электронов с магнитным полем сигналограммы. 1 ил. с (Л со со
Похожие патенты:
Изобретение относится к области микрозондовой техники и является усовершенствованием известного способа юстировки электромагнитной зондофор
Изобретение относится к области электронно-микроскопического приборостроения и может быть использовано для прецизионного перемещения образца
Изобретение относится к растровой электронной микроскопии
Изобретение относится к области исследования физических и химических свойств веществ, в частности к технике препарирования объектов, и может быть использовано в просвечивающей электронной микроскопии при исследовании гигроскопических образцов
Изобретение относится к электронно-оптическому приборостроению
Изобретение относится к электрозондовым устройствам для наблюдения и регистрации изображения, в частности к электронным микроскопам просвечиваемого типа
Изобретение относится к электронной микроскопии и может быть исрользовано йрй разработке стробо4-4i---4f скопических электронных микроскопов для исследования быстропротекающих процессов в твердом теле
Изобретение относится к области микроскопии и может быть использовано для анализа проводящих микрообъектов
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, к устройствам, обеспечивающим транспортировку и установку зондов и образцов в позиции измерения и функционального воздействия
Изобретение относится к ядерной технике, в частности к исследованию материалов, подвергающихся воздействию радиации
Изобретение относится к способам получения изображений в растровой электронной микроскопии
Изобретение относится к сканирующей туннельной спектроскопии и может быть использовано в зондовых микроскопах и приборах на их основе
Изобретение относится к области научного приборостроения и может быть использовано при выпуске просвечивающих электронных микроскопов
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию и предназначено для замкнутого цикла производства новых изделий наноэлектроники
Изобретение относится к микробиологии и может применяться при профилактике инфекционных болезней
Изобретение относится к вакуумной технике и предназначено для проведения операций по перемещению объектов внутри вакуумных систем
