Контактное устройство

 

Изобретение относится к полупроводниковому производству и может быть использовано в контрольно-измерительном оборудовании для контроля параметров подключаемых интегральных микросхем . Цель изобретения - упроще- ,ние конструкции и уменьшение габаритов . Устройство содержит корпус 1 с ловителями 2, в котором размещен механизм перемещения потоков, состоящийиз подвикных подпружиненных прудинами 6 планок 7 с контактами 8, передаточный элемент,- спутник-носитель 13 и интегральную микросхему с выводами 12. Выполнение -, устройстве передаточного элемента в виде цилиндрического валика 3 установленного в nasax k корпуса 1 и подпружиненного пружинами 5, выполнение планок 7 в виде цилиндрических валиков 9 с заходными скосами 10, а контактов о с зало/жыми сносами 11 под™ воляет упростить конструкцию и уменьшить габариты контактного устройства для контроля интегральных микросхем за счет уменьшения числа передаточных элементов, а также за счет конструктивного выполнения мехячмзма перемещения, исключающего применение отдельного привода с ползу;:ом и позволяющего ппоизвести контактирование с выводами интегральной микросхемы во внутреннем меж вы под но;-, пространстве . Ц ил. I О IS Hi . i4

ССЮЭ СС . ""! 1

С .ГИ ИСТ -.К=СКИХ

Р(:\ !! " вЛИН

ГОС"., -РС, -HH. !Й НО,"ЛИТЕТ

ПРИ ill Ò ССЮ

/- 1с . 1 11 i +>. „ г л 1ч»с г-еза- —. -,-л р р г

1 1.: " У 1,, 1 1 сс г

lt 0Й 4 сКЙ \.с f I; Ll i «».- М "-t:" В (:Г9 М I,ûüÈ Ь Ь1.

>..,,-2с;

Я:-- "1. "Jf ( i i ».Фтз . ... Фс ИВГ.Г J ю:Vt. % Rgb с щ (21) 4679193/21 (22) 14.04.89 (46) 15.01.92. Бел. Л" 2 (75) А.,,. Ефимов (53) 62 ° 395. 049 (088 8) (56) Авторское свидетельство СССР

M 790049, кл. H 01 I, 23/72, !972.

Авторское свидетельство СССР

М 943924, кл. Н О 1 l. 21/66, 1980., (54) КОИТАКТИОЕ УСТРОР1СТ130 (57) Изобретение относится к полупроводниковому производству и может быть использозано в контрольно-измерительном оборудовании для контроля параметров подкл1зчаемых интегральных микросхем, Цель изобретения — упрощение конструкции и уменьшение габаритов. Устройство содержит корпус с ловителями 2, в которо1 ра змещен механизм перемещения потоков, состоя.щий из подвижных подпружиненных прудинами 6 планок 7 с контактами Р,, (51)5 и О! 1. 21/66, и 05 К 1/18 передаточный элемент, спутник-носитель 13 и интегральную микросхему 14 с выводами 12. Выполнение -. ycTpc.éстве передаточного элемента в виде цилиндр1 ч еского валика 3, уста нс ".ленного в па засх 4 корпуса и подпружиненного г ружинани 5, выпо. нение планок 7 в виде цилин ических валиков 9 с заходными скосами 10, а кон» тактов о с захорными с <>сам 1! позвопяет упростить конструкцию и уменьшить габариты контактного устройства для контроля интегральных и:«кро схем за счет уменьшения числа передаточных элементов, а так> е за счет конструктивного выполнения мех чиз» ма перемещения, исключающего н ««менение отдельного привода с ползуном и позволяющсго ппоизвести контак;ирование с выводами интсгральнсй никросхсмы во внутре iHBH ие1;.выводно;., пространстве, 4 ил.

1 "(!.)" ?1

Изобрс тор(ие Грт> ocl! I сл к I i>L.упро>3ОДНИК(>! ОЛ(У ПР< !.=.> оДС I.L(y И МО;;(Ет оы Гь иГГ(с п;зола>>о n:(<3>I трольн(1->(зл((3ри Г; льнс»! Обору>(с>>за((>(и длvi к нтрс15 ля парам. rpo,3 подклн>ч,3å)лых ин(егральных микросхем.

1лс ль изо(лретенил " упрощение кон" струкции и уменьш::ние габаритов, На фиг. 1 показано контактное устройстзо ((спут((и;<->(Оситель с интегральной микросхемой, Общий Rl! Qi на фиг.2 - „контактное устройство и исходном состоянии, ид сверху, на фиг.3 — то же, сечение по кситактам, I на фиг, ч - тО же > в момент конта ктирования.

Контактное устройство для контролл ИМ в спутниках-носителях содержит корпус 1 с установлен>(ыми В не. (ло вителями 2 и передаточным эл =ментом выполненным, например, в виде цилиндрического валика 3, установленного с осе(3ой! (I»(>

1 и по>«пружинен>(ого пО концам пру» жинами 5, расположенными в отверстиях корпуса 1, Пазы 4 предназначены для Ориентирован(огo пcрcrлcщения ва3.,(:<а 3 в напр>Зале!ли:(, совг(здающем с направле»иен подачи контрзлируемой ИМ. В кор>1усе 1 разме(>(ен механизм герем! щения контактов, состоящий из д(3óõ пс.д,".Нжных >1О,!,пр 0:AíåíHt>Ix прун(ин((>ли о планок 7 о контактами 8 П!1а н ки > уста IoBJ!c!()! (>а напра в» ляющн(е, вь>полнонн.>е, нагр";мср, в ((((де цигиндр лчеcêëx (3аги><о(3 J и закрепленHb>e в корпусе 1. планки 7 им .ст встречные скосы

10, вь.полненные под угт!О>! 25...30 к ((апра(3т>ению паре.лещения. валика 3, Встречн>>е скос-< 1(> Обращены для преобразования пе„емещения расположенного между (ими эалика 3 я равд;3ижение планок 7 Друг От др) га в напра(3ë>- 45

;>ии, пе(..:åíä(Aê: ëbpHGM ходу валика.

Планки из ГО ГГ>В!1 ены из эт!екrроизОля цион>(ого ((атер((; ла и выполнены, например, разбор: (!)>.лр.(, (ВО;1НГ):. ((>>(литой вариант планок

Сво.1-.д>,ь(е .и,,! . С((сол! ((>>х;<О! r<,<ТОВ рv !3 l,. СТ ах и ". конт .1 Кто с Еil!1<1>0»1: If.i ра с.,t;;i!i: —. ii (и 1,, лы1 п

->,)>!HI«! H, rI0>;..:,C O, .1Г,. !,! Г> Е С >:Г Oi; . Г .) .С >>>! >» t

>)

Г1 n(3<;I!i (1>(in»О (() >! >1, ri,(»-,<)

с д>1я г>ра.,О i i Ол (! .,>я Ii ) ">н, >(ИЯ Кэ < "i ВРДГ:i ?, r" Р< >) C; .;,! ; К;,.>> як О! р) ри: - : - (,. .: .,-::: ";> (>>,,,.(:>> >(30, (->О . РГ>С1, !)Г. !)O, i. i H >IO с! (>1)юь(е>! («< (,,р "р(i (1 к >)н >c, >м (:н,>т г), l«A(! ic>лОГ т H (>1) т . !,. :(<3 > ooи а l1>i, i) Оз((срн(»

НО Г >->Г10ЛНЕ>>>Р ) СI Г р();",;IÈ < р<(1>>;03 С За

i .:0уi.л "Hi!ен o ".Ядиусу, Б ис .одном сгстс..н>(и п,,нки 7 с

t(OLt! i i< Ti1i <) С(«МКНУГЫ Ii М(жДУ ВЫ(30»

>«1 (3 t ) i, 1: И 3 . I, < Î! i i i!, > I (((! C T l(> " .(КО Н Т З К то>з 8 и::.ется з.(зор >(((.Иг,3) .

«!>М 14 разм;::.,ена в пластмассовом сГIóт>:ик -нс ситес!е 13 Я,.((:Ол>>енно.л в виде р,(л(ки с гнездом для ИМ и полостью для разме>>(ен>(я выводов ИМ.

«

Устройство рабо..ает следующим Образом, Установленную в гне",äî спутниканосителя 13 (фиг.3) ИМ 14 подают на ловители 2 контактного устройства, тем самым осуществляя точную уста>(огку и фиксацию в. водоя ИМ относи" тат>ьно контактов 8. При даль "ей((ией подаче планки 7 с (<Онтактами R заходят в полость спутника-носителя>

Oi<,(ЭЫЯаЯСЬ В М.жЯЫЕ 1ДНс:М П;.ОСТ РаНстве «>л ИМ 14, корпус спу Гн, кзноситег>я 13 входит в соприкосновение с взликом 3 (фиг.4), беря на себя

ФУНКЦИЮ СИЛОЯОГО З мЫКатя(>Я УСИГИЯ контактирования, а пс>и последую(1ем продвижении спутника, выполняющего функц,ю толкателя привода устройства, происходит пер:мс.(ение, сопрово ндающееся сжатием (>ру (ин 5 в корпУсе 1, вас>ика 3 по скос>3м планок доследую((ее расклинивание планок

7 и их раздвижение лруг от друга в награвле>(ии пер.>(- H>(((кулярном перемеще. нию в-3лика 3 и спутника-носителя

13 с ИМ 14. При этрм пла>,ки 7 подводят и наде(нно прижимают заключенны в них контакты 8 их свооодными коnt„ àtëè 1 к выасд, и 1? ИМ 14, o t Io» временно сжимая пружины 6 . Затем проис:<одят измерение параметров ИИ. (lосле окончания операции изме"ения сг!Ут;-ик-носитель с >Л1! сн-(маз1 Я с лови т «й 2;:онтактного ус Гр(1йства. при этом палик 3 год действием стнатых

ПРУ;; и 5 I(b(Tnt(КИГ(а> тСЯ Иэ За ЗСРа НЕж" ду план!, «л 7, а гланки под действием Г.руиин,;=„".0,>, —:.,1,тся в н.: . Ое

Г1О>1Г«жЕНИЕ > i (H С 3 (> i (>РПИСХ(>Р«ит

fè 3 ë" 1>((>е "(такт-..в 3, вы:,ор)0;3 17

"1 1 (, ! l :.:i;l«.- =оя.-. -".. »:.-.Грет е IIAa г,с1;(эоля с y,(р.-"т (ть кс"" р >>,ию:.(у."=нь— (Г (> ! (р >, e т C Т Н

17059? 1

6 точных элементов, и-..кл;зчения отдельного и; ивода с ползунои, а также за счет конструктивного вьполнения передаточного эле: ента и планок с кон5 тактами, по";во ir;,щих производить контактирование с выводами ИИ во внутренн

Ф внутри полости спутнйка-носителя.

Формула изобретения

Контактное устройство для контроля интегральных микросхем (ИМГ), содержащее корпус с ловителями, в котором смонтированы подвижные подпружиненные планки с консольными упругими контактаии, свободные концы которых размещены с возиожностью контактирова. 1я с выводами ИИГ, и передаточный элемент, размещенный с воз-! можность;: взаимоt"äåéñòàèÿ с планками, отличающееся тем,что, с целью угрощения конструкции и уменьшения габаритов устройстга при контроле И," С в сп .-никах- -,гасителях, выполненных в к.де рамки с гн=-з,;ом для ИИС и полос.fbi лля размещения выводов ИИС, планки с конт ктаии ус.тановлеHbl с возможностью размещения внутри полссти спутника-носителя, на пл нках выполнены встрочнь скосы, обращенные в сторону свободных концов контактов, а передаточный элемент подпружинен относительн корпуса и размещен майклу скосами ."яанок с возможностью взаимодействия с корпусом спу ника-носителя и возвратнопоступательного перемещ=.чия по скосам планок ai направлении свободных концов контактов.

Г2 !

le) !

)!!

, !

I !

ii 1!

Л, L1

4.1

-!О !! Й=

IJ!

Qu>. 3

Ifs р

1 ...ч

1, !

1

E. ! 1 .

1 с U р.)(g /j. li i.,"!

1. )!.

1:

1 ° °

Л ° ° ;,, ;,;;,!;;,-1 ; ;! -1

1 !, !

I — !(I i

/ I ......): ч л, i., ((I

j Д ! ».! !! :,il j Х!.Р

- / i

Контактное устройство Контактное устройство Контактное устройство Контактное устройство 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано для подключения (и отсоединения) с нулевым усилием к плате печатного монтажа многовыводных радиоэлементов, в частности микросхем в корпусах со штырьковыми выводами

Изобретение относится к электронике и может быть использовано для механическоАго и электрического соединений микросхемы с печатной платой

Изобретение относится к электрорадиотехнике и может быть использовано в качестве конструктивного элемента в электрических приборах, в частности для контроля и испытания элементов радиоэлектронных аппаратов Цель изобретения - повышение надежности контактирования путем повышения эффекта самозачистки

Изобретение относится к импульсной измерительной технике, в частности к устройствам для измерения и контроля статических и динамических параметров многовыводных БИС с пленарными выводами с шагом между ними 0.625 мм Цель изобретения - повышение надежности контсэктирования, помехозащищенности и технологичности

Изобретение относится к приборостроению , в частности к технологии производства печатных плат, и может быть использовано для проверки качества электрических цепей печатной платы

Изобретение относится к радиотехнике и может использоваться в устройствах контроля микросхем

Изобретение относится к электрорадиотехнике , в частности к устройствам контроля электромонтажа, и может быть использовано для подключения многослойных и двусторонних печатных плат к контролирующему устройству

Изобретение относится к электрои радиотехнике и может быть использовано для измерения сопротивления изоляции полых корпусов электроизделий

Изобретение относится к технологическому оборудованию, в частности к электроизмерительным устройствам, применяемым для контроля переходного сопротивления при производстве галетных переключателей

Изобретение относится к производству радиоэлектронной аппаратуры, в частности к устройствам для технологического контроля монтажа и электрических параметров печатных схем, и является усовершенствованием изобретения по авт.св.N 1450146

Изобретение относится к полупроводниковой технологии и может быть использовано в производстве полупроводниковых приборов для разбраковки структур по номенклатурным группам

Изобретение относится к неразрушающему контролю параметров полупроводников и может быть использовано для определения однородности и качества материалов

Изобретение относится к области контроля электрических параметров полупроводниковых приборов, в частности р-п-структур, работающих при больших инжекциях носителей заряда в области лавинного пробоя, преимущественно структур большой площади

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых структур при производстве интегральных микросхем

Изобретение относится к метрологии электрофизических параметров полупроводников

Изобретение относится к полупроводниковой электронике и может быть использовано в технологическом цикле изготовления МДП - транзисторов и интегральных схем на их основе

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)
Наверх