Способ построения диаграммы плавкости

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОЬРЕТЕНИЯ

Союз Советсккк

Социалистических

Республик

K АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (Пf) Л .:ltо.рн i и.:.:-: !, ав . сп :.—;тI {51) Ч. Кл.

601 !4 25/02 () l} ;.:.и 1 т;, н®б фХ г нрнсое11ниением заявки Юв(23) Ириорнrer— (14) Опубли ковйноб 50 7, 78 Бюллетень № (45) Дата опубликования описаний 140678 (и с } я и р:. !! i !!: лп1 r .!:!!!: . :

Совет Мвнкг гров Гт.бр « !!u,:ie;!, 1 и.в.бретевий и вткры вй (53) У Д К 6 2 0 . 1 7 9 . 1 3

<ова.в) (72) Лвтори изойретений

С. Н. Задумкив, Х, Б, Хокойсв . J"., Б. Шокар. в

P3) Заявитель

Кабардино-Балкарский государственный университет (54 } СПОСОБ ПОСТРОЕНИЯ ДИАГРАММЫ ПЛАВКОСТИ

Изобретение относится к методам физико-химического анализа, более конкретно к способам построения диаграмм состояния, например диаграмм

Плавкости, многокомпонентных систем.

Иэвестен оптический способ построения диаграмм плавкости (lg ,Наиболее близким техническим решением к предложенному является способ построения,диаграымы плавкости, >0 состоящий в том, что, наблюдая эа медленно охлаждаемым расплавом, фиксируют температуру появления первых кристалликов. Этот способ может применяться при изучении только прозрачных растворов. Точность его, а следовательно, и точность построения линий ликэмдуса эавист4т от скорости охлаждений. Построить же линии солидуса этим способом невозможно, так как весьма трудно. визуально заметить начало появления жидкой фазы при нагревании твердого вещества.

Кроме того, расходуется значительное количество вещества на один эксперимент (на одну точку линии ликвидуса не менее 3-5 см вещества ).

Цель изобретения — увеличение чувствительности и сокращение расхода материалов при анализе.

Для этого температуру кристаллизации (плавления) определяют путем регист >ацин первых акустических сигналов, сопровождающих процесс кристаллизации или плавления вещества. Эти сигналы обнаруживают с помощью различных средств, например пьеэодатчиков, усиливают и подают на регистрирующее устройство (преимущественно на экран осциллографа). Момент появления сиг- налов на экране осциллографа свидетельствует о достижении точки фазового перехода, т.е. о начале кристаллизации или плавления. Температура плавления или кристаллизации фиксируется с появлением первых сигналов.

Производя также опыты с бинарным рас вором 10-20 различных составов, можно построить диаграмму плавкости двойной системы.

Предлагаемый способ может быть реализован с помощью установки, схематически представленной на чертеже.

Она включает термостат 1, крнсталлиэационную ячейку 2, датчик 3, усилитель 4, осциллограф 5.

Кристаллнэационную ячейку, заполненную исслецуемым раствором заданного состава, помещают в тер614368

Составитель С.Беловодченко

Редактор Т.Орловская Техред З.фанта Корректор П.Небола

Заказ 3688/38 Тираж 1112 Подписное

ННИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5

Филиал ППП Патент,г.ужгород, ул.Проектная,4

3 мостат. Вблизи внутренней стенки кристаллиэационной ячейки, где наиболее вероятно появление первых кристалликов, устанавливают хромельалюмелевые термопары для измерения темйератУры раствора. По иере охлаждения раствора появляются первые кристаллики, а на экране осциллограФа i) наблюдаются всплески акустических сигналов, свидетельствующие о начале кристаллизации. При этом Фиксируется ликвидусная температура. Определяя таким образом температуры начала 10 кристаллизации чистых компонентов и

10-15 составов раствора, строят ли- нию,ликвидуса изучаемой бинарной системы. (6 Использование предлагаемого способа построения диаграмм плавкости обеспечивает по сравнению с существующи мй. следующие преимущества: а) возможность построения диаграмм 20 плавкости для различных классов веществ; б) получение более надежных результатов, так как способ является более чувствительным; в) сокращение расхода материала на анализ (возможно использование образцов исследуемых веществ в виде пленок) . фс риула изобретения

Способ построения диаграмм плавкости по точкам кристаллизации (плавления) веществ,о т л и ч а ю щ и йс я тем,что,с целью увеличения чувствительности и сокращения расхода материалов при анализе, .температуру кристаллизации (плавления) определяют путем регистрации первых акустических сигналов, .сопровождающих процесс кристаллизации или плавления вещества.

Источники .инФормации, принятые во внимание при экспертизе:

11, Авторское свидетельство СССР

9 385208, кл. ф 01 Й 21/58, 1972.

2. Справочник rro растворимости

Изд-ao AH СССР, 1962, т.1,книга 2, с. 153.

Способ построения диаграммы плавкости Способ построения диаграммы плавкости 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области исследования свойств и контроля качества полимеров в отраслях промышленности, производящей и использующей полимерные материалы

Изобретение относится к области аналитической химии, а именно к определению содержания углерода и фтора во фторграфитовой матрице C2FX (1,0X0,5), соединения включения которой могут быть использованы в качестве фторирующего агента /1/, катализатора при синтезе фторпроизводных углеводородов /2/, а также датчиков стандартных газовых смесей при решении экологических задач /3/

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для изучения продолжительности фазового перехода при нагружениях различной интенсивности

Изобретение относится к диетологии, геронтологии, гериатрии

Изобретение относится к техническим средствам для анализа веществ

Изобретение относится к способу определения качества болотных железных руд (БЖР), предназначенных для получения железооксидных пигментов, по данным термического анализа

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике технологических процессов производства изделий микроэлектроники, в частности для фотолитографического получения элементов структур субмикронных размеров на полупроводниковых и других подложках

Изобретение относится к термохимическим измерениям

Изобретение относится к физико-химическому анализу и может быть использовано для экспресс-анализа при производстве сплавов, в металлургии, электрохимии и т

Изобретение относится к испытательной технике
Наверх