Устройство для физико-химическогоанализа электропроводящих материалов

 

< 11 828046

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свнд-ву (22) Заявлено 17.04.79 (21) 2755440/18-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 07.05.81. Бюллетень № 17 (45) Дата опубликования описания 07.05.81 (51) М. Кл.

С 01N 25/02

Государстеенный конитет (53) УДК 536.42 (088.8) по делам изобретений и открытий (72) Авторы изобретения В. Н. Цыганков, Н. Б. Гориловская, К. И. Петров, Н. Б. зайцева и E. С. Соловьева (71) Заявитель

Московский ордена Трудового Красного Знамени институт тонкой химической технологии им. М. В. Ломоносова (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ФИЗИКО-ХИМИЧЕСКОГО АНАЛИЗА

ЭЛ ЕКТРО П РО ВОДЯ Щ ИХ МАТЕР ИАЛО В

Изобретение относится к области исследования фазовых переходов, в частности к устройствам для исследования фазовых переходов электропроводящих веществ, и может быть использовано при проведении 5 дифференциально-термического анализа с одновременным измерением электропроводности.

Известно устройство для исследования фазовых переходов веществ при изменении 10 температуры, представляющее собой блок с полостями, в которых размещены исследуемое и эталонное вещества и дифференциальная термопара (1).

Однако регистрация фазовых переходов 15 только с помощью термопар не обеспечивает высокой точности измерения температур начала и концы фазовых переходов.

Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является устройство 20 для физико-химического анализа электропроводящих материалов, содержащее металлический блок с полостями для исследуемого и эталонного веществ, дифференциальную термопару и электроды (2). 25

Это устройство не позволяет с высокой чувствительностью фиксировать границы фазовых превращений одновременно по тепловым эффектам и изменению электропроводности из-за градиента температур, существующего между разными точками, в которых расположены спаи термопар v электроды для измерения электропровод ности.

Целью изобретения является повышение чувствительности регистрации границ фазо вых переходов за счет уменьшения градиента температур между измеряемыми точками ветвей дифференциальной термопары.

Поставленная цель достигается тем, что в известном устройстве, содержащем металлический блок с полостями для исследуемого и эталонного веществ, дифференциальную термопару и электроды, дифференциальная термопара образована электродами, помещенными в исследуемое и эталонное вещества, и стенками металлического блока, причем блок и электроды выполнены из разнородных термоэлектродных материалов.

На чертеже представлено предлагаемое устройство.

Оно содержит металлический блок 1, металлические стержни 2, исследуемое вещество 3 н эталонное вещество 4. Металлические стержни 2 помеш,ают в свободно насыпанные навески эталонного и исследуемого веществ на одинаковую высоту или запрессовывают в таблетки исследуемого и эталонного материалов. Навески, помещен828046

Формула изобретения

Составитель С. Веловодченхо

Редактор Л. Курасова Техред А. Камышникова Корректор О. Силуянова

Заказ 907/16 Изд. № 302 Тираж 915 Подписное

НПО «Поиск» Государственного комитета СССР по де-ам изобретений и открытий

113035, Москва, N-35, Раушская наб., д. 4)5

Типография, пр. Сапунова, 2 ные B съемные кольца 5, выполнены из то- го же материала, что и блок.

Блок и электроды изготавливают из металлов и сплавов, образующих термопару, например хромель-алюмель, медь-констан- 5 тан, хромель-копель, платина-платинародий, при этом металлические стержни выполнены из одного металла, а блок — из другого. 11оследние вместе составляют термопару. 10

Термо-ЭДС Е1 и Ез возникают в результате перемещения носителей заряда между стержнями и стенками блока через исследуемое и эталонное вещества и фиксируются записывающими устройствами. Измере- 15 ние электросопротивления на переменном или постоянном токах или диэлектрической постоянной осуществляется между стержнями 2 и блоком 1 и фиксируют другими записывающими устройствами. 20

Применение предлагаемого устройства обеспечивает повышение чувствительности регистрации фазовых переходов для ряда веществ на 10 — 15%.

Устройство для физико-химического анализа электропроводящих материалов, содержащее металлический блок с полостями для исследуемого и эталонного веществ, дифференциальную термопару и электроды, отличающееся тем, что, с целью повышения чувствительности анализа, дифференциальная термопара образована электродами, помещенными в исследуемое и эталонное вещества, и стенками металлического блока, причем блок и электроды выполнены из разнородных термоэлектродных материалов.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Берг Л. Г. Введение в термографию.

М, Наука, 1961, с. 13.

2, Берг Л. Г. и др. Термографические исследования солей с одновременной записью двух свойств — термических эффектов и электропроводности. журнал неорганической химии, т. 5, ¹ 3, 1960, с. 676 (прототип) .

Устройство для физико-химическогоанализа электропроводящих материалов Устройство для физико-химическогоанализа электропроводящих материалов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области исследования свойств и контроля качества полимеров в отраслях промышленности, производящей и использующей полимерные материалы

Изобретение относится к области аналитической химии, а именно к определению содержания углерода и фтора во фторграфитовой матрице C2FX (1,0X0,5), соединения включения которой могут быть использованы в качестве фторирующего агента /1/, катализатора при синтезе фторпроизводных углеводородов /2/, а также датчиков стандартных газовых смесей при решении экологических задач /3/

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для изучения продолжительности фазового перехода при нагружениях различной интенсивности

Изобретение относится к диетологии, геронтологии, гериатрии

Изобретение относится к техническим средствам для анализа веществ

Изобретение относится к способу определения качества болотных железных руд (БЖР), предназначенных для получения железооксидных пигментов, по данным термического анализа

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике технологических процессов производства изделий микроэлектроники, в частности для фотолитографического получения элементов структур субмикронных размеров на полупроводниковых и других подложках

Изобретение относится к термохимическим измерениям

Изобретение относится к физико-химическому анализу и может быть использовано для экспресс-анализа при производстве сплавов, в металлургии, электрохимии и т

Изобретение относится к испытательной технике
Наверх