Способ контроля многоэлементных магнитных головок для записи и воспроизведения информации

 

СПОСОБ КОНТРОЛЯ МНОГОЭЛЕ;МЕТНЫХ МАГНИТНЫХ ГОЛОВОК ДЛЯ ЗАПИСИ И ВОСПРОИЗВЕДЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ, включающий индикацию линейного и углового отклонения осей зазоров магнитных элементов головки относительно ее оЪи, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контгроля , магнитную головку облучают соосным с головкой потоком электро . нов в области зазоров, поворачиваютголовку перпендикулярно оси потока электронов, а индикацию линейного калового отклонения осей зазоров магнитных элементов головки относиг тельно ее оси осуществляют изменением смещения фокальных точек конвергентных изображений магнитного поля в области зазоров пр соответствующих положениях головки относительно осиШ потока электронов. 1w

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

3ЦП 6 11 С 29/00

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н ll»TOPCKOMV СЕИДатВЪСтв»

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ.(21 ) 3412502/18-24 (22) 08.04.82 (46 ) 15.08.83. Бюл. l» 30 (72 ) Я.И.Погосян, T.K.Ïîãîñÿí. и

А.К.Овсепян (71 ) Ордена Трудового Красного

Знамени ереванский государственный .университет (.53 ) 681. 327 (088. 8 ) (56) 1; Труды ВНИИ. звукозаписи, вин. 4 1958 с 29..

2. Патент Великобритании

9. 1491176, кл.511С 5/46, опублик.

1977 (прототип). (54)(57) СПОСОБ КОНТРОЛЯ МНОГОЭЛЕ МЕТННХ МАГНИТНЫХ ГОЛОВОК ДЛЯ ЗАПИСИ И ВОСПРОИЗВЕДЕНИЯ ИНФОРМАЦИИ, вкл10„„SU„„1035644 А чающий индикацию линейного и углового отклонения осей зазоров магнитных элементов головки относительно ее оси, отличающийся тем, что, с целью повышения точности конт-. роля, магнитную головку облучают соосным с головкой потоком электронов в области зазоров, поворачивают. головку перпендикулярно оси потока электронов, а индикацию линейного

-и углового отклонения осей зазоров магнитных элементов головки относи." тельно ее оси осуществляют изменением смещения фокальных точек конвер.гентных изображений магнитного поля в области зазоров при соответствую- ,щих положениях головки относительно осиа потока электронов.

1035644

Составитель В. Костин Редактор Л. Веселовская ТехредМ.Надь Корректор A Дзятко

Заказ 5841/52 Тираж 594 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5 филиал ППП "Патент", r. Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при изготовлении многоэлементных магнитных головок для запоминающих устройств с магнитным носителем информации.

Известен способ контроля величины смещения и скоса зазоров магнитной головки по отношению к линии перпендикулярной направлению движения магнитной ленты, основаннйй на сопос- о тавлении положения голонки по отношению к направлению движения ленты и измеренного выходного напряжения головки. Величина скоса зазоров этим способом контролируется с 15 погрешностью более 30" (1g.

Недостатком этого способа является низкая точность измерения линейного и углового отклонения осей зазоров магнитных элементов головки.

Наиболее близким по технической сущности к предложенному является способ, основанный на сравнении сигналов воспроизведения с эталон ными сигналами контрольной програм- . 5 мы (2 .

Недостатком известного способа является низкая точность контроля моногоэлементных магнитных головок.

Цель изобретения — повышение .точности контроля многоэлементных .магнитных головок для записи и.воспроизведения информации.

Поставленная цель достигается тем„ что согласно способу контроля многоэлементных магнитных головок для записи и воспроизведения информации, включающему индикацию линейного и . углового отклонения осей зазорон магнитных элементов головки относительно ее оси, магнитную голонку облучают соосным с головкой потоком электронов в области зазоров, понорачивают головку перпендикулярно оси потока электронов, а индикацию линейного и углового отклонения осей зазоров магнитных элементов головки относительно ее оси осуществляют измерением смещения фокальных точек коннергентных изображений магнитного поля в области зазоров при соответствующих положениях головки относительно оси потока электронов.

Контроль многоэлементных магнитных головок в соответствии с настоящим изобретением реализуется с помощью электронного микроскопа, в фокальной плоскости которого наблюдают конвергентное изображение магнитного поля элементов при различном расположении магнитной головки относительно направления потока электронов, а линейное и угловое отклонение осей зазоров магнитных элементов осуществляют измерением смещения фокальных точек с учетом увеличения изображения.

Предложенный способ позволяет существенно повысить точность контроля многоэлементных магнитных головок для записи и воспроизведения информации.

Способ контроля многоэлементных магнитных головок для записи и воспроизведения информации Способ контроля многоэлементных магнитных головок для записи и воспроизведения информации 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к импульсной технике и может быть использовано в устройствах вычислительной техники и системах управления

Изобретение относится к вычислительной технике, в частности, к устройствам хранения информации, и может найти приме нение в специализированных системах хранения и обработки изображений, в ассоциативных параллельных процессорах при решении информационно-логических задач, задач поиска и сортировки данных, в устройствах обработки сигналов в реальном масштабе времени

Изобретение относится к полупроводниковому запоминающему устройству, содержащему схему обнаружения и исправления множественных ошибок

Изобретение относится к способам записи в энергонезависимую память и может быть использовано в приборах, осуществляющих хранение и обновление оперативной информации в процессе своей работы

Изобретение относится к устройствам тестирования электронных элементарных схем и групповых линий соединений

Изобретение относится к средствам для программирования/стирания электрически стираемых программируемых полупроводниковых постоянных запоминающих устройств

Изобретение относится к области автоматики и вычислительной техники

Изобретение относится к электронным запоминающим устройствам (ЗУ) с электрически программируемыми ячейками
Наверх