Тест-объект для контроля панорамных томографов

 

ТЕСТ-ОБЪЕКТ ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАНОРАМНЫХ ТОМОГРАФОВ, содержа; щий рентгенопрозрачный носитель с рентгеноконтрастными метками, отличающийся JKM, что,с целью ускорения контроля и экономии фотоматериалов, он выполненмногослойным с метками, расположенными в каждом слое по кривым линиям одинаковой конфигурации , радиус кривизны которых пропорционально увеличивается от основания к вершине, причем линия меток среднего слоя соответствует линии контура выделяемой томографом поверхиости, а соответствующие метки всех слоев расположены на одной линии с одинаковым расстоянием между ними . (Л . со О со со

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН

„„SU„„1049039 А

3(g)) А 61 В б/00

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ

»«» »

i с

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ 1 -, " .",,: —:

H АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

2. Авторское. свидетельство СССР № 372993, кл. А ál В б/00, 1967., 1 (21) 347!680/28- !3 (22) 14.07.82 (46) 23,!0.83. Бюл. № 39 (72) В. К. Беликов, В. Я. Новиков н Э. Г. Чнкирдин ° (71) Научно-производственное объединение

«Медоборудование» (53) 62!.386.! (0&8.8) (56) 1. Littleton Winter Linear Laminography

Asimple geometrik interpretation of its

cl in ical imitation, — «Агпег, Roentgen»», -!965, 95, № 4, 98 — !062. (54) (57) ТЕСТ-ОБЪЕКТ ДЛЯ КОНТРОЛЯ

ПАНОРАМНЫХ ТОМОГРАФОВ, содержашнй рентгенопрозрачный носитель с рентгеноконтрастными метками, отличающийся тем, . что,с целью ускорения контроля и зкономии фотоматериалов, он выполнен. многослоиным с метками, расположенными в каждом слое по кривым линиям одинаковой конфигурации, радиус кривизны которых пропорционально увеличивается от основания к вершине, причем линия меток среднего слоя соответствует линии контура выделяемой томографом поверхности, а соответствуюшие метки всех слоев расположены на одной линии с одинаковым расстоянием между ни.1

Изобретение относится к медицинской рентгенотехнике, а именно к устройства для определения технических характеристи пан амных томографов. звестен тест-объект для контроля тома графов, содержащий рентгенопрозрачный н ситель с рентгеноконтрастными метками. Но ситель выполнен в виде наклонной плоско сти, а метки — в виде двух параллельных пр волок и,шкалы (11.

Наиболее близким по технической сущ ности к изобретению являет я тест-объек для контроля томографов, содержащий рент геноирозрачнмй носитель с рентгеноконтрас ными метками. Тест-объект выполнен в вид линейки с вмонтированными в нее шарика ми, центры которых расположены на прямо линии. Линейка помещается нод углом к в деляемой плоскости. так, что центр среднег шарика совпадает с выделяемой плоскостью

Для определения толщины выделяемого сло по полученной томограмме визуально апре деляют и подсчитывают количество шариков в изображении которых имеются участк полной тени, размеры которых не превышаю диаметр шарика; находящегося в центре в деляемого слоя (т.е, шарика, изображени которого получилось. наиболее четким), бо лее чем в два раза (2)..

Однако известные устройства не позво ляют определить толщину слоя, выделяемо го панорамными томографамн, а предназна чены только для контроля плоскостных то мографов, у которых толщина выделяемог слоя постоянна по всему сечению.

При использовании таких, тест-объекта, для контроля панорамных томографов,. гд толщина выделяемого слоя является функ цией координат сечения, измерения для по лучения представления о всем слое необ ходимо повторить несколько раз при точ ном соблюдении и учете нространственног расположения тест-объекта. Это приводи к значительным затратам времени к фотома

;териалов, Цель изобретения — ускорение контр ля и экономия фотоматериалов.

Поставленная цель достигается тем, чт

-тест-объект для контроля панорамных т

:мографов, содержащий рентгенопрозрачны носитель с рентгеноконтрастными меткам выполнен многослойным с метками, расп ложенными в каждом слое по кривым ли ниям одинаковой конфигурации, радиус кр визны которых пропорционально увеличива ется от основания к вершине, причем лини меток среднего слоя соответствует линии ко тура выделяемой томографом поверхкост

6 соответствующие метки всех слоев ра!

049039 положены на одной линии с одинаковым рас м стоянием между нкмк.

На чертеже изображен предлагаемый тес объект, общий вкд.

Тест-объект остоит кз набора нескольких,например семи жестко соединенных меж ду собой пластин 1 толщиной 5 мм, Пластины выполнены кз рентгекопрозрачного ма» териала, например оргстекла. В средней пластине 2 на кривой, соответствующей линии контура расчетной выделяемой панорамным

10 томографом цилиндрической поверхности, например кривой Хаулея, закреплены рентге-коконтрастные метки 3. В качестве рентгее ноконтрастных меток используются металлические шарики. Количество меток определяется степенью точности., необходимой для

15 получения информации о толщине выделяемого слоя в различных его участках (но не менее семи).

В остальных пластинах метки располагаются на подобных кривых с радиусами кривизны, уменьшающимися от основания .

20 к вершине тест-объекта. Радиус кривизны н кривых расположения меток ка каждой пот следующей нласткне соответственно уменьы- шается илн увеличивается, например, на

5 мм от радиуса кривизны крквой расположения меток предыдущей пластины.

Метки в пластинах располагаются таврим образом, что проекции меток на горизонтальную плоскость находятся на прямых, совпадающих с радиусами кривизны расчетной выделямой поверхности.

Устройство используют следующим обра30 зом

Для определения технической толщины выделяемого слоя тест-объект устанавливают в панорамный томограф на позицию съемки так, что положение кривой, обозначенной метками ка средней пластине, соответЗ5 ствует положению выделяемой томографом поверхности. Затем делают снимок и получают панорамную томограмму тест-объекта.

Расчет технической толщкны выделяемого слоя в различных направлениях, количество которых соответствует числу меток в, слое, проводят 0G выражению

Т = (Z — l)Ф, где Z —, количество меток, в изображении которых имеются полные тени; н „.-. ь -расстояние в плане. между соответствующими метками в соседних план 45. остиках. и - Изобретение позволяет. ускорить процесс контроля томографов к сэкономить фотоматериал за счет сокращения количества ися н- 10 пытакий. Прк этом тест-объект позволяе т и, получить высокую точность определения толс- .. шины выделяемого томографом слоя.

Составитель А Вахрушев

Техред И. Верес Корректор Г. Решетник

Тираж 7I3, Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР ио делам изобретений н открытий

1l3035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП «Патент», г. Ужгород, ул. Проектная, 4