Способ определения активности нейронов головного мозга на электронно-микроскопических препаратах


G01N1/30 - Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств (разделение материалов вообще B01D,B01J,B03,B07; аппараты, полностью охватываемые каким-либо подклассом, см. в соответствующем подклассе, например B01L; измерение или испытание с помощью ферментов или микроорганизмов C12M,C12Q; исследование грунта основания на стройплощадке E02D 1/00;мониторинговые или диагностические устройства для оборудования для обработки выхлопных газов F01N 11/00; определение изменений влажности при компенсационных измерениях других переменных величин или для коррекции показаний приборов при изменении влажности, см. G01D или соответствующий подкласс, относящийся к измеряемой величине; испытание

 

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

„„SU„„1223079 А (51)4 С 01 N 1/30, А 61 В 10/00

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И OTHPblTMA

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ " ;/

k ABTOPCkOMV CBltQETEllbCTBV ---- " "а,.(21) 3680276/28-14 (22) 21. 12. 83 (46) 07.04.86. Бюл. В 13 (71) Институт клинической и эксперимейтальной неврологии (72) А.И.Чубинидзе (53) 616-0.88.8 {088.8) (56) Манина А.А. Ультраструктурные основы деятельности мозга. Л.: Медицина, 1976, 11.

Клейн А.В. Ультраструктурные изменения синапсов в эпилептическом очаге при височной эпилепсии.-Тезисы докл. Х Всесоюзной конф. молодых

;нейрохирургов, 1974, 11, 399 ° (54) (57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ АКТИВНОСТИ НЕЙРОНОВ ГОЛОВНОГО МОЗГА НА ЭЛЕКТРОННО-МИКРОСКОПИЧЕСКИХ ПРЕПАРАТАХ путем заключения ткани в эпоксидные смолы, приготовления срезов и исследования синапсов, о т л и ч а ю— шийся тем, что, с целью повышения точности способа, в синапсах выявляют длину гиперосмированных эон и линий контактов синаптических поверхностей, далее определяют их площадь и по отиовению площади гиперосмированиых зон к площади контакта сннаптической поверхности онределяют активность нейронов головного, мозга. е

1 1223079

Изобретение относится к медицине, Увеличение на электронограммах не в частности к нейропатоморфологии. играет роли, так как соотношение

Целью изобретения является повы- длины активных и неактивных зон при шение точности способа путем морфо- этом не меняется. В связи с тем, что метрии синапсов. линия сечения синаптической поверхСпособ осуществляют следующим об- ности :a фотографиях, как правило, разом. не прямолинейная (а дуго- и/или зигМелкие кусочки мозга (коры, серых загообразная), ее можно измерять узлов) обрабатывают общепринятым ме- обычным легкодоступным курвиметром. тодом электронно-микроскопического 10 При этом для реальной точности выисследования (осмиевая фиксация, за- числяют площади гиперосмированных ключейие в аралдит.и т.д.) При фо- эан не квадратом суммы диаметров тографировании желательно заснять все отдельных активных зон (когда их несвиды (аксосоматические, аксодендри- колько), а суммой квадратов диаметтические и аксоаксональные) синапсов. 15 ров отдельных активных зон (суммой

Электронограммы делают размером 18- квадратов диаметров}, т.е. общая

24 см путем измерения (в миллимет- площадь активных зон (в числителе}

pax} длины гиперосмированных зон и составляет сумму D „ + D$ +...+D, всей синаптической.поверхности линий а не (П„ + Пс+...+П, ) . .контактов пре- и постсинаптических 20 Полученные цифровые данные (помембран. На электройограммах измеря- казатели отдельных синапсов в проют линии сечения, которые условно центах) обрабатывают методом вариациможно считать диаметром кругообраз- онной статистики. Вычисляют средний ной площади гиперосмированных зон показатель активности данного очага и поверхности синанса. В действи- 25 или популяции всех нейронов..

I тельности эти поверхности почти. ни- Пример. Больной 48 лет, кликогда не являются геометрическим нический диагноз: опухоль лобно-текругом и диаметр в одних случаях в менной области с фокальной эпилепзависимости от среза будет меньше, сией. На одном аксодендритическом а в других — больше истинного диа- 30 синапсе нейроцита эпилептического метра той фигуры, которая образуется. очага определены гиперосмированных в области контакта пре- и постсинап- зон диаметром 22 и 19 мм и длина сетических мембран. Однако при подсче учения синаптической поверхности. (конте нескольких десятков случаев по такта) б2 мм. Показатель активности закону больших чисел ошибка настоль 35 нейронов данного синапса равен: ко минимальна, что это отклонение ПА = 21,0Х. не будет иметь практического значе- Цифровые данные (показатели в ния. Активные зоны на электронограм процентах} обрабатывают методом ва- мах принято, определять по гиперо- рационной статистики. Вычисляют средсмиофилии мембран и синаптической ще- 40 ний показатель активности нейронов « ли, которые легко выявляют на срав- данного очага или популяции нейронов. нительно прозрачном фоне. В зависимости от цели иследования

Активность нейронов каждого си- . результаты подсчетов следует сгрупПА Й. пировать и выявить средние показанапса вычисляют по формуле ПА =, х

45 тели для каждой группы аксодендрих 1ОО, где ПА — показатель активнос- тические аксосоматические и аксона.: ти, процент ; D > — диаметр (длина льных сигналов. сечения) активной зоны; 0н .- диаметр Визуальное исследование не даеФ: поверхности синапса (контакта). возможность определить степень струкСоотношение площадей кругов равно турной перестройки нейрона и их си50 соотношению-их диаметров или длины напсов при различных состояниях ЦНС. . сечения йа электронограммах в квадрате. Активацию синапсов следует счи« -(О» }с % 3. тать единственным морфологическим

Sg 3ГЖ 2 „ 4 DJ »,и критерием определения морфофункцио8 ХЩ (Dg,с /DE D< нального состояния популяции нейро,с 55

2 4 нов при состояниях организма, хара

П а ктеризующихся повышенной реакцией

D2 (эпиприпадки, судорожные состояния).

Способ определения активности нейронов головного мозга на электронно-микроскопических препаратах Способ определения активности нейронов головного мозга на электронно-микроскопических препаратах 

 

Похожие патенты:
Наверх