Способ дифференциального термического анализа

 

Изобретение относится к физическим методам исследования вещества, а именно к термическому анализу. Цель изобретения - повышение чувствительности и точности анализа при высоких скоростях нагрева (охлаждения). Наобразец на расстоянии, равном габаритному размеру, помещают спаи термопар . Образец нагревают с заданной скоростью и при этом определяют максимальную . и минимальную ь.Т „ MQKt.(ЛЦН разности температур. После этого измеряют разность температур в фиксированных точках, расстояние между которыми 1 выбирак т из соотношения 1 1 1- Т„„н/&Т,,с- 5R, где R - радиус спая термопары.. § (Л

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

А1 (19) (11) (5)) 4 G 01 N 25 02

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР по делАм изОБРетений и ОткРытий (21) 4059694/40-25 (22) 23.04.86 (46) 23.08.87. Бюл. В 31 (72) А.Г.Николаев, А.Н.Кобыпкин, С.Б.Масленков и Н.В.Пенский (53) 536.42(088.8) (56) Терехов Г.И., Тагирова P.Х., Иванов О.С. Влияние легирующих элементов на температуры фазовых превращений, ) — и 8-твердых растворов урана при резком охлаждении. — В кн.:

Строение и свойства сплавов урана, тория и циркония./Под ред. О.С.Иванова. М.: Госатомиздат. 1963, с. 3748.

Пилоян Г.О. Введение в теорию термического анализа — М.: Наука, 1974, с. 31-42. (54) СПОСОБ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНОГО ТЕРМИЧЕСКОГО АНАЛИЗА (57) Изобретение относится к физичес-, ким методам исследования вещества, а именно к термическому анализу. Цель изобретения — повышение чувствительности и точности анализа при высоких скоростях нагрева (охлаждения). На образец на расстоянии, равном габаритному размеру, помещают спаи термопар. Образец нагревают с заданной скоростью и при этом определяют максимальную аТ и минимальную <Т разности температур. После этого измеряют разность температур в фиксированных точках, расстояние между которыми 1 выбира .т из соотношения 1

1 1-пТ „„„/кТ„„,„,— 52, где R — радиус спая термопары ..

133??.08

Формула изобретения ч мин — 5R, Т макс где R — радиус. спая термопары.

Составитель С . Беловодченко

Редактор И.Шулла Техред М. Ходанич Корректор E.Рошко

Заказ 38?5/39 Тираж 77б Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, Изобретение относится к физически методам исследования веществ, а именно к термическому анализу.

Целью изобретения является повыше. ние чувствительности и точности анализа при высоких скоростях нагрева (охлаждения) .

Пример . Определяют температуру аллотропического превращения в чистом железе. Нагрев образца осуществляют в силитовой печи КΠ— 14 со скоростью 100 С/с. Габаритный размер образца 50 мм. На образец на расстоянии, равном габаритному размеру, помещают рабочие спаи термопар, с помощью которых определяют максимальную и минимальную разности температур.

После этого расстояние между спаями термопары выбирают иэ соотношения лТ

li — — - — — -5R = 30

r ьТ

-макс

B качестве термопар используют хромель-алюмелевые термопары с диаметром спая (Ф 0,2 мм). Записывают кривые нагрева образца на электронном двухкоординатном самописце и измеряют температуру фазового превра- . щения на полученной кривой.

Способ дифференциального терми5 ческого анализа заключающийся в изЭ мерении температур в двух фиксированных точках в процессе. нагрева или охлаждения образца и определении температур фазовых превращеиий по полоip жениям максимумов и минимумов на полу ченной кривой, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышения чувствительности и точности анализа при высоких скоростях нагрева (охлаждения), предварительно при заданной скорости нагрева (охлаждения) в требуемом интервале температур определяют максимальную лТ и минимальную

Макс аТ „ разности температур в точках образца, расстояние между которыми равно его габаритному размеру 1„,пос ле чего измерение разности температур производят в фиксированных точках, расстояние между которыми выби 5 рают иэ соотношения

Способ дифференциального термического анализа Способ дифференциального термического анализа 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к способам , используемым в аналитической химии, и позволяет повысить точность определения общей Серы в золе угля

Изобретение относится к физикохимическому анализу, а именно измерению параметров физико-химических превращений методом термического анализа

Изобретение относится к термическому анализу веществ

Изобретение относится к технической физике и мОжет быть использовано в различных областях техники, где необходимы сведения об испаряемости капель распыленной жидкости

Изобретение относится к дифференциальному термическому анализу твердых пластических и пористых материалов

Изобретение относится к термическому анализу веществ

Изобретение относится к области физико-химического исследования веществ и может быть использовано для определения эффективного заряда -ионов или их подвижностей в расплавах металлов

Изобретение относится к физической химии адсорбционных явлений и касается определения параметров фазовых переходов в адсорбционных слоях

Изобретение относится к области исследования свойств и контроля качества полимеров в отраслях промышленности, производящей и использующей полимерные материалы

Изобретение относится к области аналитической химии, а именно к определению содержания углерода и фтора во фторграфитовой матрице C2FX (1,0X0,5), соединения включения которой могут быть использованы в качестве фторирующего агента /1/, катализатора при синтезе фторпроизводных углеводородов /2/, а также датчиков стандартных газовых смесей при решении экологических задач /3/

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для изучения продолжительности фазового перехода при нагружениях различной интенсивности

Изобретение относится к диетологии, геронтологии, гериатрии

Изобретение относится к техническим средствам для анализа веществ

Изобретение относится к способу определения качества болотных железных руд (БЖР), предназначенных для получения железооксидных пигментов, по данным термического анализа

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике технологических процессов производства изделий микроэлектроники, в частности для фотолитографического получения элементов структур субмикронных размеров на полупроводниковых и других подложках

Изобретение относится к термохимическим измерениям

Изобретение относится к физико-химическому анализу и может быть использовано для экспресс-анализа при производстве сплавов, в металлургии, электрохимии и т

Изобретение относится к испытательной технике
Наверх