Способ моделирования структуры поликристаллов

 

Изобретение относится к физике твердого тела и может быть использовано при .изученииструктуры поликристаллов. Целью изобрётения-является расширение функциональных возможностей путем определения степени совпадения решеток и углов дезориентации. Пропускают пучок света через дисковые носители информации с отверстиями, моделирующими кристаллическую структуру материала, при равномерном вращении одного диска относительно другого и регистрируют интенсивность прошедшего света. Новым является фокусирование поверхности соприкасания дисков на поверхности регистратора и определение углов разориентации по зависимости интенсивности прошедшего пучка света от угла поворота подвижного диска. 1 з.п.ф-лы. 2 ил.

(!9) (! I) СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (яи G 09 В 23!26

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) 1651313 (21) 4632394/12 (22) 04.01,89 (46) 15.04.92. Бюл. В 14 (71) Харьковский государственный университет им. А.М. Горького (72) Е.E.ÁàäèÿH и А.Г.Тонкопряд (53) 371.355 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

М 1651313. кл. G 09 В 23/26, 1987. (54) СПОСОБ МОДЕЛИРОВАНИЯ CTPYKTVРЦ ПОЛИКРИСТАЛЛОВ

-(57) Изобретение относится к физике твердого тела и может быть использовано при . изучении структуры поликристаллов. Целью

Изобретение относится к физике твердого.тела и может быть испогьзовано при изучении. структуры поликригталлов.

Наиболее близким к предлагаемому по технической сути и достигаемому результату является способ моделирования структуры границ зерен, заключающийся в том,, что носители информации выполняют в виде дисков, а иэображение схемы решетки атомов вещества на них- в виде системы отвер стий, соответствующей определенной кристаллографической плоскости, диски совмещают до полного совпадения всех отверстий, механически непрерывно поворачивают один диск относительно другого вокруг оси, перпендикулярной плоскости диска; одновременно с вращением пропускают через диски параллельный пучок света, направленный перпендикулярно к плоскости дисков, и фиксируют распредеизобретения-является расширение функциональных возможностей путем определения степени совпадения решеток и углов дезориентации. Пропускают пучок света через дисковые носители информации с отверстиями, моделирующими кристаллическую структуру материала, при равномерном вращении одного диска относительно другого и регистрируют интенсивность прошедшего света. Новым является фокусирование поверхности соприкасания дисков на поверхности регистратора и определение углов раэориентации по зависимости интенсивности прошедшего пучка. света от угла поворота подвижного диска. 1 з.п.ф-лы.

2 ил, ление интенсивности прошедшего пучка света.

Недостатком известного способа является невозможность определения степени совпадения решеток зерен в границе, выявления наиболее реальных структур границ зерен и точного определения соответствую- д щих им углов дезориентации, а также пол- (Л учения четкого иэображения всех возможных структур границ.

Цель изобретения — расширение функциональных воэможностей путем определения степени совпадения решеток зерен в р: границе и соответствующих им углов дезориентации.

На фиг. 1 представлено схематически устройство для осуществления предлагае- мого способа; на фиг. 2 — диаграмма, иллюстрирующая предлагаемый способ.

В выточке обоймы 1 коаксиально расположены неподвижный 2 и подвижный 3 ди1727153 ски со сквозными отверстиями, одно из которых находится в центре дисков, расположенными по схеме, совпадающей с расположением атомов в определенной кристаллической плоскости и имеющими равные диаметры. Подвижный диск 3 с помощью шестерни 4, укрепленной на нем, связан с двигателем 5, обеспечивающим постоянную скорость вращения подвижного диска.3

Над обоймой 1 с дисками 2 и 3 расположен источник 6 параллельного пучка света, Обойма 1 и источник 6 света расположены таким образом, что паралельный пучок

15 света всегда направлен перпендикулярно

ПЛОСКОСТИ ДИСКОВ.

Между обоймой 1 и регистрирующим блоком 8 размещен фокусирующий элемент

7, позволяющий на экране регистрирующе20 го устройства фиксировать четкую картину распределения интенсивности прошедшего пучка света без искажения, что осуществляется фокусировкой. на экран поверхности касания дисков.

Под обоймой 1 с дисками 2 и 3 разме- 25 щен блок 8, регистрирующий распределение интенсивности прошедшего через диски пучка света и его интегральную интенсивность с помощью плоского фотоэле30 мента.

Величина интегральной интенсивности .. с помощью блока записи, состоящего из усилителя 9 постоянного тока и лентопротяжного самописца 10, записывается на

35 диаграммную ленту

Устройство работает следующим образом.

В обойме 1 с выточкой закрепляют неподвижно диск 2.со сквозными отверстиями, одно из которых расположено в центре диска. Сверху на закрепленный в обойме неподвижный диск 2 устанавливают другой подвижный диск 3, предварительно закрепленный на шестерне 4.

Диски 2 и 3 устанавливают таким образом, чтобы имело место полное совпадение всех отверстий, О чем свидетельствует максимальное значение интегральной интен40

45 пучка света, обеспечивая перемещением фокусирующего устройства 7 относительно обоймы наиболее четкое изображение.

Подвижный диск 3 вводят в зацепление с двигателем 5, одновременно включают лентопротяжное устройство самописца

СИВНОСТИ. 50

Направляют От источника 6 параллельHblA пучок света перпендикулярно плоскости дисков 2 и 3 и фиксируют картину распределения интенсивности прошедшего и двигатель 5, вращающий подвижный диск 3.

Фиксируют значение интегральной интенсивности прошедшего пучка света I на диаграммной ленте в зависимости от времени 1, Фотографируют картину распределения интенсивности прошедшего пучка света, соответствующую максимумам на кривой = I(t), и определяют угол дезориентации.

Угол дезориентации зерен в границе р (град,), соответствующий максимумам на зависимости I = I(t), определяют по формуле р-ч 360О, где i — расстояние на диаграммной ленте от максимума, соответствующего полному совпадению отверстий (наибольшее значение !) до максимума, соответствующего определенной структуре, мм; и — скорость вращения подвижного диска, об/мин;

V — скорость перемещения диаграммной ленты, мм/мин.

При измерении с точностью + 1 мм, перемещении диаграммной ленты со скоростью V = 900 мм/мин и вращении подвижного диска со скоростью и = 1/300 об/мин угол р может быть определен с точностью

+ 0,5 с.

На фиг. 2 приведена зависимость = I(t). полученная при вращении подвижного диска со скоростью 1/300 об/мин; скорость . движения дйаграммной ленты 4 ммlмин.

Схема размещения отверстий на диске соответствует схеме расположения атомов в плоскости.

Для вращения подвижного диска испольэовали двигатель ДСМ 2У, для записи кривой t = !(т) — потенциометр КСП-4.

В качестве фокусирующего устройства использован фотообъектив "Индустар 55у", для измерения интегральной интенсивности — фотоэлемент ФЗСС-У10.

ПО сравнению с известным предлагаемый способ позволяет по измерению интегральной интенсивности прошедшего пучка света в зависимости от угла разворота дисков р определить степень совпадения решеток в границе в зависимости от угла дезориентации, выявить наиболее реальные структуры границ как соответствующие максимумам на кривой = l(t), получив при этом четкое изображение этой структуP bf.

5 1727153

И

18 !У Ю 2f

Составитель Е. Бадиян

Тех ред М,Моргентал

Корректор Э. Лончакова

Редактор А. Огар

Заказ 1280 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж 35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Формула изобретения

1. Способ моделирования структуры поликристаллов по авт.св. М 1651313, о тл и- . ч а ю шийся тем, что, с целью расширения функциональных воэможностей путем ofl" 5 ределения степени совпадения решеток зерен в границе и соответствующих им углов дезориентации, определяют значения углов дезориентации по зависимости интегральной интенсивности прошедшего пучка света от угла поворота подвижного диска, 2. Способ поп.1,отл ича ю щи йс я тем, что, с целью повышения точности определения углов дезориентации. предварительно фокусируют плоскость соприкасания дисков на поверхности регистратора.

Способ моделирования структуры поликристаллов Способ моделирования структуры поликристаллов Способ моделирования структуры поликристаллов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к средствам обучения и может быть использовано при изучении курсов физики твердого тела, кристаллографии и других в высших учебных заведениях

Изобретение относится к микробиологии и может быть использовано во фтизиатрической микробиологии для моделирования туберкулезного процесса

Изобретение относится к медицине , а именно к учебно-наглядным пособиям , в частности по медицинской и биологической физике, и может быть использовано, например, .для демрнстрации таксиса и активного захвата при фагоцитозе

Изобретение относится к гастроэнтерологии

Изобретение относится к медицине, в частности к проблеме совершенствования профилактики и лечения чумы и может быть использовано для выбора наиболее эффективных антибактериальных, вакцинных препаратов и средств пассивной антитоксической иммунотерапии этой инфекции

Подвеска // 2391885

Изобретение относится к экспериментальной медицине, в частности к кардиологии

Изобретение относится к области биохимии, в частности к способу изменения иммуномодулирующих свойств липополисахаридов чумного микроба в условиях in vitro, который включает получение препаратов липополисахаридов (ЛПС) и «мышиного» токсина (МТ) Yersinia pestis с последующим образованием их комплекса ЛПС-МТ

Изобретение относится к учебным наглядным пособиям, а также к научным приборам, предназначенным для визуализации пространственного строения кристаллических веществ, а именно, к модели кристаллической структуры вещества. Модель содержит объемные элементы в виде тел вращения, имитирующие частицы (атомы или ионы) моделируемой кристаллической структуры, с соблюдением относительного расположения этих элементов, соответствующего относительному расположению частиц моделируемой структуры. Указанные элементы размещены на нескольких установленных параллельно друг другу плоских прозрачных пластинах постоянной толщины. Каждый элемент представляет собой тело вращения вокруг оси, нормальной к поверхности пластины, и имеет часть, расположенную по одну сторону срединной плоскости пластины, и симметричную ей часть, расположенную по другую сторону этой плоскости. При этом, по меньшей мере, на одной из пластин размещены элементы, имитирующие частицы, расположенные в одной и той же кристаллографической плоскости кристаллической решетки моделируемой структуры, а количество пластин и размещенных на них элементов таково, что совокупность последних имитирует хотя бы одну элементарную ячейку моделируемой структуры. Техническим результатом изобретения является повышение технологичности изготовления и точности отображения взаимного расположения частиц моделируемой структуры. 11 з.п. ф-лы, 14 ил.
Наверх