Способ измерения концентрации растворов электролитов

 

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ РАСТВОРОВ ЭЛЕКТРОЛИТОВ, включающий нагревание электролитов и измерение приращения электропроводности , соответствующего приращению температуры от заданного начального значения, по которым судят о кон центрации, отличающийся тем, что, с целью повьошения точности , приращение температуры осуществляют и измеряют до достижения заданного значения электропроводности. О) 00 :д б57овес.НГ(Оу

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

3(51) 01 01 Ы 25/02

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И OTHPblTHA

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

0„ н 36k

ВО

SS% дес. НЛд лн

55 Хк (21 ) 3492821/18-25 (22) 24.09.82 (46) 23.03.84. Бюл. У 11 (72) П.И.Стальнов (71) Новомосковский филиал Московского ордена Ленина и ордена Трудового Красного Знамени химико-технологического института им. Д.И.Менделеева (53) 451.12.035 (088.8) (56) 1. Авторское свидетельство СССР

9 554488, кл. G 01 1r 27/06, 15 ° 04.77.

2. Авторское свидетельство СССР

М 313149, кл. G 01 N 27/02, 31.08.71 (прототип).

„„Я0„„. А (54 ) (5 7 ) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ KOHUEHTРАЦИИ РАСТВОРОВ ЭЛЕКТРОЛИТОВ включающий нагревание электролитов и иэмерение приращения электропроводности, соответствующего приращению температуры от заданного начального значения, по которым судят о концентрации, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, приращение температуры осуществляют и измеряют до достижения заданного значения электропроводности.

1081 501

Составитель B.Çåðòoãðàäñêèé

Техред М.Надь Z oppe K Top Г. Решет ник

Редактор В .Данко

Заказ 1538/37 Тираж 823 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", r, Ужгород, ул. Проектная, 4

Изобретение относится к области испытаний с применением тепловых средств, а именно к области измерения концентраций по измерениям электросопротивления при изменении температуры.

Известен способ контроля концентрации электролитов, включающий операции нагрева электролита, измерения скорости изменения температуры и измерения электропроводности 1 J.

Однако точность способа ограничена из-за погрешности определения скорости изменения температуры.

Наиболее близким к изобретению является способ измерения. концентрации растворов электролитов, включающий нагревание электролитов и измерение приращения электропроводности, соответствующего приращению температуры от заданного начального значения, по которым судят о концентрации (2) °

Недостатком известного способа является ограниченная точность, обусловленная малой чувствительностью регистрируемого параметра к изменению концентрации.

Целью изобретения является повышение точности.

Указанная цель достигается тем, что согласно способу измерения концентрации растворов электролитов, включающему нагревание электролитов и измерение приращения электропроводимости,соответствующего приращению .температуры от заданного начального значения, по которым судят о концентрации, приращение температуры осуществляют и измеряют до достижения заданного значения электропроводности. На чертеже представлены графики зависимости электропроводности от температуры и концентрации для, растворов азотной кислоты в воде..

Н качестве заданного начального значения температуры взята температура 40 С. Для определения концентрации задается уровень значений электропроводности Х, равный

84 Ом1М-1

Каждой фиксированной концентрации электролита, например X„, соответствует характерное значение приращения электропроводнос.."и при нагреве электролита от начальной температуры до температуры, соответствующей Х „ — в данном случае это при10 ращенйе равно отрезку АВ. Зависимость этих .отрезков от концентрации в ожидаемых пределах изменения концентрации определяется градуировкой.

15 При помощи чертежа можно сопоставить эффективность предлагаемого способа и известного, 3 соответствии с известным способом задают начальную температуру испытаний, на20 пример 40 С, и конечную — например о

60 С. Об изменении концентрации судят по изменению отрезка д Х между указанными изограммами. Так, концентрации Хд соответствует отрезок AC

25 При изменении концентрации в одном и том же диапазоне — от Х.Н до Х„ изменение величины отрезков от AB до FE более существенно, чем от

AC до FD. Это указывает на то, что чувствительность. а следовательно, и точность предлагаемого способа выше, чем известного.

При оценке эффективности способа он сопоставляется с базовым — кондуктометрическим способом измерения

З5 концентрации.

Экспериментально установлено, что при нестабильности температуры электролита в 1% погрешность измерений по сравнению с известным способом

40 уменьшилась в 4,5 раза, по сравнению с базовым — в 1,4 раза.

Изобретение позволяет улучшить качество контроля концентрации раст- воров электролитов и может найти

45 применение в химической, пищевой пром,паленностях, а также в лабораторной практике.

Способ измерения концентрации растворов электролитов Способ измерения концентрации растворов электролитов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области исследования свойств и контроля качества полимеров в отраслях промышленности, производящей и использующей полимерные материалы

Изобретение относится к области аналитической химии, а именно к определению содержания углерода и фтора во фторграфитовой матрице C2FX (1,0X0,5), соединения включения которой могут быть использованы в качестве фторирующего агента /1/, катализатора при синтезе фторпроизводных углеводородов /2/, а также датчиков стандартных газовых смесей при решении экологических задач /3/

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для изучения продолжительности фазового перехода при нагружениях различной интенсивности

Изобретение относится к диетологии, геронтологии, гериатрии

Изобретение относится к техническим средствам для анализа веществ

Изобретение относится к способу определения качества болотных железных руд (БЖР), предназначенных для получения железооксидных пигментов, по данным термического анализа

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике технологических процессов производства изделий микроэлектроники, в частности для фотолитографического получения элементов структур субмикронных размеров на полупроводниковых и других подложках

Изобретение относится к термохимическим измерениям

Изобретение относится к физико-химическому анализу и может быть использовано для экспресс-анализа при производстве сплавов, в металлургии, электрохимии и т

Изобретение относится к испытательной технике
Наверх