Устройство для определения параметров гетерогенных равновесий

 

Устройство для определения параметров гетерогенных равновесий, содержащее печь с амплитудой, соединенной с компенсационным манометром, в которой расположена емкость для исходных веществ и под ней емкость для направленной кристаллизации, шток с магнитным сердечником, на уровне которого снаружи расположен постоянный магнит, отличающееся тем, что, с целью расширения диапазона определения параметров гетерогенных равновесий в область больших концентраций растворенных веществ, указанные емкости расположены соосно, емкость для исходных веществ скреплена со штоком и выполнена в виде полого цилиндра с наружным фланцем, имеющим вырез, на внутренней стенке ампулы по ее образующей укреплена пластина, параллельно которой над емкостью для направленной кристаллизации установлены стержни, опирающиеся на фланец имеющимися у них выступами, при этом профиль и размеры выступов стержней соответствуют профилю и размерам выреза фланца.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области исследования свойств и контроля качества полимеров в отраслях промышленности, производящей и использующей полимерные материалы

Изобретение относится к области аналитической химии, а именно к определению содержания углерода и фтора во фторграфитовой матрице C2FX (1,0X0,5), соединения включения которой могут быть использованы в качестве фторирующего агента /1/, катализатора при синтезе фторпроизводных углеводородов /2/, а также датчиков стандартных газовых смесей при решении экологических задач /3/

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для изучения продолжительности фазового перехода при нагружениях различной интенсивности

Изобретение относится к диетологии, геронтологии, гериатрии

Изобретение относится к техническим средствам для анализа веществ

Изобретение относится к способу определения качества болотных железных руд (БЖР), предназначенных для получения железооксидных пигментов, по данным термического анализа

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике технологических процессов производства изделий микроэлектроники, в частности для фотолитографического получения элементов структур субмикронных размеров на полупроводниковых и других подложках

Изобретение относится к термохимическим измерениям

Изобретение относится к физико-химическому анализу и может быть использовано для экспресс-анализа при производстве сплавов, в металлургии, электрохимии и т

Изобретение относится к испытательной технике
Наверх